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正文內(nèi)容

基于位移傳感器的折射率測(cè)量系統(tǒng)-文庫(kù)吧

2025-01-03 14:47 本頁(yè)面


【正文】 遠(yuǎn)鏡的刻線與分界線重合時(shí),通過(guò)檢測(cè)折射角 ,就可以測(cè)定被測(cè)件 的的折射率。3?xn圖 全反射法光路圖這種檢測(cè)方法容易,結(jié)構(gòu)較為簡(jiǎn)單,屬于比較測(cè)量法,所以需要已知直角棱鏡的折射率,同時(shí)還需要在直角棱鏡與被測(cè)樣品之間有折射液的配合,這樣才能使直角棱鏡與被測(cè)樣品之間有很好的接觸,但這同時(shí)也使測(cè)量范圍受到限制,當(dāng)測(cè)量精度要求不高時(shí),基于全全反射法的阿貝折光儀的儀器精度一般為177。310 4。 最小偏向角法最小偏向角法是目前檢測(cè)精度最高、應(yīng)用最為廣泛的測(cè)量方法。其原理可用圖 來(lái)說(shuō)明,一束單色光以特定的角度入射到三棱鏡中,光線的經(jīng)過(guò)三棱鏡時(shí)發(fā)生折射現(xiàn)象,此時(shí),入射光線與折射光線之間的夾角,我們稱為偏向角,其有最小值,通過(guò)測(cè)定偏向角的最小值便可求出待測(cè)材料的折射率 。xn3 )21sin(][mi????xn()公式()中: 為三棱鏡的頂角; 為最小偏向角。?min?這種檢測(cè)方法的優(yōu)點(diǎn)是:檢測(cè)精度高,折射率的測(cè)量范圍不受限制,不需折射液加以配合等,但是這種方法也具有測(cè)量時(shí)需要大口徑的棱鏡配合,棱鏡的制作既耗時(shí)又浪費(fèi)光學(xué)材料等缺點(diǎn),同時(shí)在測(cè)量過(guò)程中需要很好的調(diào)整測(cè)角儀,非常復(fù)雜,也不能夠避免測(cè)量機(jī)構(gòu)復(fù)雜性。使用最小偏向角法用精度測(cè)角儀的精度可達(dá)到為 。6105???圖 最小偏向角法光路圖 V 型棱鏡法圖 V 棱鏡測(cè)量原理圖 (a ) 時(shí)(b) 時(shí)0n?0?如圖 所示,V 棱鏡是由一大一小兩個(gè)材料相同的直角棱鏡膠合而成的,根據(jù)4其形狀命名,兩個(gè)直角棱鏡的折射率已知。被測(cè)試樣形狀不受限制,但要保證有一個(gè)直角,涂上適當(dāng)?shù)钠ヅ湟海湃?V 棱鏡的直角槽中。光線通過(guò) V 棱鏡和待測(cè)樣品后產(chǎn)生偏向角,便可由公式()算出樣品的折射率。 212020 )sinsin( ?????n()公式中: 為待測(cè)樣品折射率, 為 V 棱鏡折射率。 時(shí)取正號(hào); 時(shí)取負(fù)n0 0?0?號(hào)。但是,采用 V 棱鏡法檢測(cè),需要將被待測(cè)料加工出兩個(gè)垂直光潔平面,盡管如此,在待測(cè)材料與 V 棱鏡之間仍存在空氣楔,需要配制匹配液予以消除。然而,加工兩個(gè)垂直平面在光學(xué)加工領(lǐng)域其難度要比加工兩個(gè)平行平面高。而匹配液是一種易揮發(fā)溶液,需要在檢測(cè)前配制,比較麻煩,匹配液的使用消除了檢測(cè)光光路中的空氣介質(zhì),并未實(shí)現(xiàn)待測(cè)材料與 V 棱鏡之間的精準(zhǔn) 90176。角配合,因此,匹配液的使用只是減小檢測(cè)誤差,并未消除檢測(cè)誤差。同時(shí),是用 V 棱鏡折射儀的測(cè)量精度為 177。1105。同時(shí),對(duì)折射率測(cè)量還有些檢測(cè)方法比如:折光率儀測(cè)定法、油浸法和阿貝折光儀法,這些方法的折射率測(cè)量范圍受到限制,僅在 之間;橢圓偏光儀測(cè)定法主要用來(lái)檢測(cè)薄膜的折射率等。所以,為了克服現(xiàn)有這些常用檢測(cè)方法所帶來(lái)的問(wèn)題,同時(shí)獲得一種被測(cè)件加工容易、檢測(cè)誤差小的透明光學(xué)材料折射率檢測(cè)方法,在光學(xué)測(cè)量領(lǐng)域有著重要的意義。本文提出了一種基于位移傳感器的光學(xué)平板折射率檢測(cè)裝置及方法,本文提出的檢測(cè)方法是通過(guò)光學(xué)成像,利用待測(cè)材料折射率與成像光學(xué)系統(tǒng)調(diào)焦量的函數(shù)關(guān)系實(shí)現(xiàn)折射率的檢測(cè),方法簡(jiǎn)單、易行。與此同時(shí),檢測(cè)精度取決于檢測(cè)裝置中的位移傳感器的精度,而本發(fā)明之檢測(cè)裝置采用直線位移傳感器,其精度達(dá)到微米級(jí),由此可知,這種檢測(cè)方法的結(jié)果將會(huì)十分精確,滿足設(shè)計(jì)要求。本文所設(shè)計(jì)的折射率測(cè)量系統(tǒng)是非接觸,非破壞性測(cè)量,具有精度和分辨率高,測(cè)量方法和數(shù)據(jù)處理簡(jiǎn)單,趨向于測(cè)量自動(dòng)化的檢測(cè)儀器。 國(guó)內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀近些年來(lái),傳感器技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、光譜分析、控制理論及 CCD 測(cè)量發(fā)展迅速,也就進(jìn)一步促進(jìn)了光學(xué)測(cè)量領(lǐng)域日新月異的發(fā)展。在折射率測(cè)量技術(shù)方面,落后的折射率測(cè)量?jī)x器逐漸被市場(chǎng)淘汰,不斷要求研發(fā)新的折射率測(cè)量?jī)x器,使其配備先進(jìn)的技術(shù)支持,同時(shí)精度、自動(dòng)化、智能化、可靠性和抗干擾能力都能得到提高,測(cè)試速度更快,結(jié)果更加可靠,從而滿足市場(chǎng)的需要。 目前,無(wú)論是國(guó)內(nèi)還是國(guó)外對(duì)折射率測(cè)量系統(tǒng)的研究基本上可以概括為兩個(gè)方面。一方面,主要是對(duì)原有測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用范圍進(jìn)行進(jìn)一步的研究,并對(duì)測(cè)試設(shè)備進(jìn)行改5造和優(yōu)化。另一方面,主要體現(xiàn)在對(duì)新檢測(cè)技術(shù)的研究,結(jié)合當(dāng)下比較先進(jìn)的制造技術(shù)、工藝和新型材料,大膽的對(duì)原有的測(cè)量技術(shù)進(jìn)行優(yōu)化改進(jìn),進(jìn)一步發(fā)揮原有優(yōu)點(diǎn),消除和避免原有的缺陷和不足??偠灾?,國(guó)內(nèi)外目前對(duì)折射率測(cè)量技術(shù)的研究都是向高精度、智能化、測(cè)量自動(dòng)化方向發(fā)展?,F(xiàn)今折射率的干涉測(cè)量技術(shù)備受國(guó)內(nèi)外學(xué)者和專家的青睞,是該領(lǐng)域的研究熱點(diǎn)。晶體材料最顯著的特征就是具有較大的折射率,容易發(fā)生雙折射現(xiàn)象。此外,晶體材料本身價(jià)格特別昂貴,容易受自身頻率改變的影響產(chǎn)生色散現(xiàn)象,對(duì)折射率測(cè)試設(shè)備自身的精度要求很高。因而,如何實(shí)現(xiàn)對(duì)晶體材料折射率的自動(dòng)化、智能化、非接觸、高精度測(cè)量一直都是各國(guó)光學(xué)領(lǐng)域研究的熱點(diǎn)。目前烏克蘭的 . Andrushchak 和美國(guó)的 Glen D. Gillen 已經(jīng)在這方面進(jìn)行了大量的研究工作,取得了較好的研究結(jié)果。 本論文研究的主要內(nèi)容通過(guò)搜集、查閱、整理大量相關(guān)文獻(xiàn),本文提出了一種基于位移傳感器的光學(xué)平板折射率檢測(cè)裝置及方法,該裝置的測(cè)量方法和數(shù)據(jù)處理簡(jiǎn)單,在認(rèn)真分析前人的研究成果后,對(duì)原有折射率測(cè)量?jī)x器進(jìn)行了充分的研究,在此基礎(chǔ)上,主要完成了以下工作:第一,了解了折射率測(cè)試技術(shù)和設(shè)備的研究背景,詳細(xì)分析了本課題的研究意義和目的,并對(duì)折射率測(cè)試技術(shù)的國(guó)內(nèi)外研究方向和現(xiàn)狀進(jìn)行進(jìn)一步研究。第二,對(duì)折射率測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行了總體的方案設(shè)計(jì),并且闡述了折射率測(cè)量系統(tǒng)的原理,對(duì)系統(tǒng)的各部分組件進(jìn)行選取,明確了各個(gè)系統(tǒng)需要實(shí)現(xiàn)的功能及設(shè)計(jì)的目標(biāo)。第三,設(shè)計(jì)儀器內(nèi)的成像光學(xué)系統(tǒng),并且對(duì)相關(guān)系統(tǒng)的組件進(jìn)行選取,使成像系統(tǒng)滿足整個(gè)測(cè)量?jī)x器的使用要求。第四,根據(jù)系統(tǒng)參數(shù)要求,設(shè)計(jì)相應(yīng)的光學(xué)系統(tǒng)機(jī)械機(jī)構(gòu),并說(shuō)明機(jī)械結(jié)構(gòu)原理,選取滿足要求的機(jī)械系統(tǒng)系統(tǒng)各組件。第五,對(duì)本系統(tǒng)的理論公差與實(shí)際誤差進(jìn)行精度分析。第六,對(duì)整個(gè)系統(tǒng)進(jìn)行相關(guān)的總結(jié)和展望。 本章小結(jié)本章主要介紹了有關(guān)折射率測(cè)量技術(shù)的研究背景,認(rèn)真總結(jié)了傳統(tǒng)的折射率測(cè)量方法及優(yōu)缺點(diǎn),詳細(xì)闡述了折射率測(cè)量的國(guó)內(nèi)外研究方向和現(xiàn)狀,并進(jìn)一步說(shuō)明了有關(guān)折射率測(cè)量的研究目的和意義。通過(guò)比較,提出了一種新的有關(guān)折射率檢測(cè)的方法,這種方法檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確,精度達(dá)到微米級(jí),非接觸測(cè)量,最后詳細(xì)闡述說(shuō)明了本課題的主要研究?jī)?nèi)容。6第二章 折射率測(cè)量系統(tǒng)的總體方案設(shè)計(jì) 系統(tǒng)的總體方案設(shè)計(jì) 系統(tǒng)的測(cè)量和傳動(dòng)原理本論文的系統(tǒng)測(cè)量原理如圖 所示,光源 成像光學(xué)系統(tǒng) CCD 圖像傳感器 3 光學(xué)同軸依次排列;成像光學(xué)系統(tǒng) 2 位于凸輪筒 4 中,并與位移傳感器的拉桿 5連接;電機(jī) 6 驅(qū)動(dòng)凸輪筒 4 旋轉(zhuǎn),控制與處理電路 7 分別與電機(jī) 位移傳感器 8 電連接,與上位機(jī) 9 串口連接,CCD 圖像傳感器 3 也與上位機(jī) 9 電連接。系統(tǒng)的傳動(dòng)原理如圖 所示,電機(jī)作為主驅(qū)動(dòng)設(shè)備驅(qū)動(dòng)凸輪筒轉(zhuǎn)動(dòng),從而帶動(dòng)光學(xué)系統(tǒng)作直線運(yùn)動(dòng),并傳動(dòng)傳感器拉桿產(chǎn)生位移信號(hào)。圖 折射率測(cè)量系統(tǒng)原理圖電機(jī) 凸輪筒 光學(xué)系統(tǒng) 傳感器拉桿圖 系統(tǒng)傳動(dòng)原理框圖系統(tǒng)的測(cè)量過(guò)程是成像光學(xué)系統(tǒng) 2 能夠?qū)⒐庠?1 作為物點(diǎn) A 成像于 CCD 圖像傳感器 3 中,光源 1 采用貼片 LED 燈,安裝在光機(jī)座一端,并可進(jìn)行位置調(diào)節(jié),光學(xué)平板被測(cè)件 10 通過(guò)夾具垂直安裝于光機(jī)座上并可以進(jìn)行位置調(diào)節(jié)。該測(cè)量?jī)x器安裝于二維轉(zhuǎn)臺(tái)上,可通過(guò)二維轉(zhuǎn)臺(tái)調(diào)整其橫向和縱向位置,使光學(xué)系統(tǒng)的主光軸與平行平板及光源 1 在同一條直線上。這樣光學(xué)平板就能夠置于光源和成像光學(xué)系統(tǒng) 2 之間,1 10 4 62 85 3 9 77通過(guò)調(diào)整成像光學(xué)系統(tǒng) 2,就可以將成像光學(xué)系統(tǒng) 2 對(duì)物點(diǎn) A 的光學(xué)平板被測(cè)件 10折射像 A39。成像于 CCD 圖像傳感器 3 中。成像光學(xué)系統(tǒng) 2 的調(diào)整是由上位機(jī) 9 指令控制與處理電路 7 控制電機(jī) 6 驅(qū)動(dòng)凸輪筒 4 來(lái)實(shí)現(xiàn)。在物點(diǎn) A 成像過(guò)程中,CCD 圖像傳感器 3 將物點(diǎn) A 的視頻圖像信號(hào)傳輸給上位機(jī) 9,由上位機(jī) 9 通過(guò)計(jì)算機(jī)圖像識(shí)別技術(shù)識(shí)別視頻圖像的清晰程度,同時(shí)指令控制與處理電路 7 控制電機(jī) 6,直到視頻圖像最清晰,此時(shí)成像光學(xué)系統(tǒng) 2 對(duì)焦成功。在所述對(duì)焦過(guò)程中,成像光學(xué)系統(tǒng) 2 在光路中的位移量經(jīng)由位移傳感器 8 探測(cè),并由控制與處理電路 7 讀取后傳遞給上位機(jī)9,由上位機(jī) 9 據(jù)此計(jì)算出光學(xué)平板被測(cè)件 10 的折射率并顯示計(jì)算結(jié)果。所述位移量有兩個(gè),一個(gè)是成像光學(xué)系統(tǒng) 2 從對(duì)無(wú)窮遠(yuǎn)處成像到對(duì)物點(diǎn) A 清晰成像所發(fā)生的位移ΔS139。,二是成像光學(xué)系統(tǒng) 2 從對(duì)無(wú)窮遠(yuǎn)處成像到加入光學(xué)平板被測(cè)件 10 后對(duì)物點(diǎn) A的光學(xué)平板被測(cè)件 10 折射像 A39。清晰成像所發(fā)生的位移 ΔS239。圖 光學(xué)檢測(cè)原理圖根據(jù)所得到的位移 ΔS139。、 ΔS239。以及成像光學(xué)系統(tǒng) 2 的焦 、光學(xué)平板被測(cè)件的厚度f(wàn)d 計(jì)算待測(cè)材料的折射率 ,如圖 光學(xué)檢測(cè)原理圖所示。nf H l39。F39。F2Δl39。AΔS139。l139。l1A39。ΔS239。l239。l210 d8設(shè) 為透鏡光焦度,對(duì)無(wú)窮遠(yuǎn)處對(duì)焦時(shí)的 作為零點(diǎn),即 , 對(duì) Af1???l ?1??fl成像時(shí), ????1l?() ??11ll?()由于對(duì) A 成像時(shí)需要調(diào)焦,產(chǎn)生的調(diào)焦量為 ,可求得:flS????1 11fl???()當(dāng)對(duì) 成像時(shí),39。A ????21l?() ??221ll?()由于對(duì) A39。成像時(shí)需要調(diào)焦,考慮調(diào)焦量 ,可求得:flS???2 2fl???()式中:?1l是成像光學(xué)系統(tǒng) 2 對(duì)物點(diǎn) A 清晰成像時(shí)的像距,?2l是成像光學(xué)系統(tǒng) 2 對(duì)物點(diǎn)A 的光學(xué)平板被測(cè)件 10 折射像 A39。清晰成像時(shí)的像距, f是成像光學(xué)系統(tǒng) 2 的焦距,是成像光學(xué)系統(tǒng) 2 對(duì)物點(diǎn) A 清晰成像后其主面 H 相對(duì)于初始零點(diǎn)的位移, 是1S?? 2S??成像光學(xué)系統(tǒng) 2 對(duì)物點(diǎn) A 的光學(xué)平板被測(cè)件折射像 A39。清晰成像后其主面 H 相對(duì)于初始零點(diǎn)的位移。9 ????11lfl() ?22lfl()式中: 是光學(xué)系統(tǒng) 2 對(duì)物點(diǎn) A 成像清晰時(shí)的物距, 是成像光學(xué)系統(tǒng) 2 對(duì)物點(diǎn) A 的1l 2l光學(xué)平板被測(cè)件 10 折射像 A39。清晰成像時(shí)的物距, 是成像光學(xué)系統(tǒng) 2 的焦距, 是f ?1l光學(xué)系統(tǒng) 2 對(duì)物點(diǎn) A 成像清晰時(shí)的像距, 是成像光學(xué)系統(tǒng) 2 對(duì)物點(diǎn) A 的光學(xué)平板?2l被測(cè)件 10 折射像 A39。清晰成像時(shí)的像距。 12ll????()式中: 是光學(xué)平板被測(cè)件 10 加入到物點(diǎn) A 與成像光學(xué)系統(tǒng) 2 主面 H 之間后造成l??的物點(diǎn) A 虛物距變化, 是成像光學(xué)系統(tǒng) 2 對(duì)物點(diǎn) A 清晰成像時(shí)的物距, 是成像光1l 2l學(xué)系統(tǒng) 2 對(duì)物點(diǎn) A 的光學(xué)平板被測(cè)件 10 折射像 A39。清晰成像時(shí)的物距。 )1(ndl????() l?()式中: 是被測(cè)件的折射率, 是被測(cè)件 10 的厚度, 是光學(xué)平板被測(cè)件在放入到ndl??物點(diǎn) A 與成像光學(xué)系統(tǒng) 2 主面 H 之間后造成的物點(diǎn) A 虛物距變化,通過(guò)以上公式的計(jì)算過(guò)程,就可求得我們所需要的被測(cè)件光學(xué)平板的折射率 。n 系統(tǒng)的總體構(gòu)設(shè)計(jì)本論文所設(shè)計(jì)的基于位移傳感器的折射率測(cè)量系統(tǒng)采用了集光、機(jī)、電于一體的先進(jìn)技術(shù),完成了對(duì)被測(cè)件的非接觸測(cè)量,測(cè)量方法和數(shù)據(jù)處理簡(jiǎn)單,趨向于測(cè)量自動(dòng)化的精密檢測(cè),從而達(dá)到測(cè)量要求。為實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)件折射率的檢測(cè),根據(jù)實(shí)際情況,提出了如圖 所示的折射率測(cè)量系統(tǒng)的整體結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方案。10 折射率檢測(cè)系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)圖(1)壓圈 A;(2)鏡筒前蓋;(3)鏡筒 A;(4)電位連桿;(5)凸輪筒;(6)外筒;(7)連接螺絲;(8)鏡筒 B;(9)固定座;(10)隔圈 A;(11)隔圈 B;(12)壓圈 B;(13)頂絲;(14)鏡筒 C
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