礦物材料現(xiàn)代測試技術(shù) 4 電子顯微鏡（3）-文庫吧
2025-01-01 00:44 本頁面
【正文】 的主要圖象 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 11 1 二次電子產(chǎn)額及二次電子像 (9) 電子顯微分析 第四章 電子顯微鏡的主要圖象 B 二次電子圖象 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 12 1 二次電子產(chǎn)額及二次電子像 (10) 電子顯微分析 第四章 電子顯微鏡的主要圖象 通過一定的方式控制電子束，在樣品表面的一個微小區(qū)域，逐點轟擊樣品，二次電子接收器（探測器）也相應(yīng)地逐點收集。 把以上收集到的信號轉(zhuǎn)化成圖像的方式，即得到二次電子像－－形貌像。 收集到信號多時，形貌像上表現(xiàn)為亮度大，否則為陰影。 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 13 1 二次電子產(chǎn)額及二次電子像 (11) 電子顯微分析 第四章 電子顯微鏡的主要圖象 An image of the broken surface of a piece of metal, formed using secondary electron imaging. 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 14 1 二次電子產(chǎn)額及二次電子像 (12) 電子顯微分析 第四章 電子顯微鏡 的主要圖象 An image of the mesh, formed using secondary electron imaging. Magnification: 310,000 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 15 (a) Scanning electron microscope image no. 1: kaolinite stacks with broken edges. (b) Scanning electron microscope image no. 2: rolled kaolinite layers and pseudohexagonal platelets. (c)Scanning electron microscope image no. 3: broken edges of the kaolinite platelets and disordering of the kaolinite particle size. 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 16 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 17 HS 14 蠕蟲狀高嶺石的（局部放大） 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 18 HS 16 蠕蟲狀高嶺石的（局部放大） 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 19 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 20 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 21 A累托石形貌 ( 5000倍 ) B鋯基柱撐累托石形貌 ( 5000倍 ) 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 22 A 掃描電鏡下 蒙脫石形貌（ 6000倍） B掃描電鏡下鋯基柱撐 蒙脫石形貌（ 6000倍） 武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院 管俊芳 23 Fig. 2. SEM micrographs of the CM talc showing puckering of ex
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