無機非金屬材料測試方法-文庫吧
2025-04-19 03:23 本頁面
【正文】 5） 結合其它信息 ， 如成份 、 熱處理過程等等； （ 6） 借助其它分析測試方法共同表征 。 優(yōu)先考慮小角度區(qū)域的衍射線 ， 強線及特征線 。 15．電子束與物質相互作用可以獲得哪些信息？ 答：可以獲得以下七種信息： （ 1） 透射電子 （ 2） 二次電子 （ 3）背散射電子 （ 4） 特征 X射線 （ 5） 陰極熒光 （ 6） 俄歇電子 （ 7） 吸收電子 類型？產生機制是什么？ 答：透射電子顯微鏡的電子顯微圖像包括振幅襯度和相位襯度 。 （ 1） 相位襯度：透射束與散射束相互干涉引起的 。 （ 2） 振幅襯度： a、 質厚襯度 ， 非晶試樣中各部分厚度和密度差別導致對入射電子的散射程度不同引起的： b、 衍射襯度 ， 晶體薄膜內各部分滿足衍射條件的程度不同而引起的 。 19．散射襯度與什么因素有關？這種圖像主要用來觀察什么？ 答：散射襯度也稱為質厚襯度 ， 它是指穿過樣品且散射角度小的那些電子即彈性散射所形成的襯度 ， 散射襯度與樣品的密度 、 原子序數(shù) 、 厚度等因素有關 ， 這種圖像主要用來觀察非晶試樣和復形膜樣品所成圖像 。 20．散射襯度像上試樣厚、密度大的地方圖像顯得暗，為什么？ 答：由于散射襯度即質厚襯度與試樣的密度 、 原子序數(shù)及試樣厚度有關 ， 對于同一物質的試樣 、原子序數(shù)相同 ， 試樣厚的地方 ， 散射電子穿過樣品所走的路程長 ， 散射損失能量大 ， 散射角大 ， 圖像就較暗 ， 試樣密度大的地方 ， 入射電子與樣品內電子或原子核碰撞的幾率大 、 次數(shù)多 ， 散射損失能量大 ， 散射角亦大 ， 圖像就比較暗 。 所以 ， 散射襯度像上的試樣厚 、 密度大的地方圖像顯得暗 。 21．衍襯象的襯度是怎么產生的？利用這種圖像可觀察干什么？ 答：衍射襯度是由晶體薄膜內各部分滿 足衍射條件的程度不同而形成的襯度 。根據(jù)衍射襯度原理形成的電子圖像稱為衍射襯度像 ， 利用這種圖像可觀察晶體缺陷 ， 如位錯 、 層錯等 。 ？何謂暗場象？ 答：用物鏡光欄擋去衍射束 ， 讓透射束成像 ， 有衍射的為暗象 ， 無衍射的為明象 ，這樣形成的為明場象； 暗場像指用物鏡光欄擋去透射束及其余衍射束 ， 讓一束強衍射束成像 ， 則無衍射的為暗像 ， 有衍射的為明像 。 24．何謂二次電子？掃描電鏡中二次電子像的襯度與什么因素有關？為什么？最適宜觀察什么？ 答：二次電子是指在入射電子作用下被轟擊出來并離開樣品表面的原子的核外電子 ， 二次電子的襯度與兩個因素有關： （ 1） 入射電子的能量 ， 入射電子能量在 23KW時 ，二次電子發(fā)射系數(shù)達到最大 ， 襯度明顯 （ 2） 入射電子束在試樣表面的傾斜角度 ， 因為δ （ θ ） =δ 0/cosθ,δ 0為 θ= 0186。時的二次電子系數(shù) ， 當傾斜角度增加時 ， 二次電子發(fā)射系數(shù)增大 ， 襯度也明顯 ， 二次電子像也最適宜觀察試樣的表面形貌 。 ？掃描電鏡中背散射電子襯度與什么因素有關？為什么？最適宜觀察什么？ 答：背散射電子是指入射電子與試樣的相互作用經多次散射后 ， 重新逸出試樣表面的電子 ， 背散射電子襯度與試樣的形貌及成分有關 ， 因為背散射電子的產額隨試樣原子序數(shù)的增大而增大 ， 其來自試樣表面幾百納米的深度范圍 ， 背散射電子襯度最適宜觀察試樣的平均原子序數(shù)兼形貌 。 26．掃描電鏡中二次電子像為什么比背散射電子像的分辨率更高？ 答： （ 1） 二次電子來自試樣表面很淺的深
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