昆山鼎鑫ccl板薄分析報(bào)告-文庫(kù)吧
2025-04-23 09:39 本頁(yè)面
【正文】 主 管 ： 陳美麗 三 .原因分析： □人員 □機(jī)械 □ 物 料 □ 方法 □儀器 /設(shè)備 □環(huán)境 □其它 一 、從客戶提供批號(hào)，查廠內(nèi)制程： 出貨前鐳射 儀 全測(cè)試板厚數(shù)據(jù)，無(wú)板厚異常；（ 附件 3） 從管制卡上使用 PP 以及物性，在管制卡上無(wú)特別要求 (附件 1)，使用結(jié)構(gòu) 762844%*6，未有變更結(jié)構(gòu) 及處理 PP（ 附件 1） ,使用 PP 物性 均 無(wú)異常； （ 附件 2） 3. 從此 3 批板鐳射全測(cè)試數(shù)據(jù)觀察 分析 ， 批號(hào) C21HAB2B0801W1 板料 平均值 為 為合格 。批號(hào) C21IAB2B0601W11 板料平均值為 。批號(hào) C21IAB2B0601W11 板料平均值為 ,板厚 均 符合 3 級(jí)公差要求 ,但 整體 厚度中値及邊角厚度中値均 偏離 設(shè)計(jì) 中値 ,(附件 3) 二 、 從客戶提供板厚數(shù)據(jù) 及廠內(nèi)復(fù)測(cè)數(shù)據(jù) 分析 客戶實(shí)測(cè)板厚 為 , 我司使用千分尺 復(fù)測(cè) 為 mm(附件 4)， 鐳射數(shù)據(jù)顯示厚度在 說(shuō)明 人工使用千分尺 測(cè)試與廠內(nèi) 鐳射 儀 測(cè)試 數(shù)據(jù)差異較大 ,測(cè)試位置存在不一致導(dǎo)致 。 以上制程和對(duì)比板厚數(shù)據(jù)分析結(jié)論如下：
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