【摘要】上海正峰工業(yè)有限公司標準書名稱數(shù)顯卡尺內(nèi)校標準編號SAK-155頁次1/2一、適用范圍:適用于本公司檢測用之數(shù)顯卡尺。二、管理權(quán)責:工程部。三、作業(yè)程序:3-1依《量檢具校驗一覽表》上所使用的外校合格、且在有效期內(nèi)的量塊、平板,并找出《量檢具設(shè)備校驗履歷表》及要求使用單位提供受檢之設(shè)備。3-2
2024-08-06 20:11
【摘要】上海正峰工業(yè)有限公司標準書名稱帶表卡尺內(nèi)校標準編號SAK-156頁次1/2一、適用范圍:適用于本公司檢測用之帶表卡尺。二、管理權(quán)責:工程部。三、作業(yè)程序:3-1依《量檢具校驗一覽表》上所使用的外校合格、且在有效期內(nèi)的量塊、平板,并找出《量檢具設(shè)備校驗履歷表》及要求使用單位提供受檢之設(shè)備。3-2
2024-08-06 20:37
【摘要】上海正峰工業(yè)有限公司標準書名稱耐水試驗機內(nèi)校標準編號SAK-124頁次1/1一、適用范圍:本公司用于檢測用之耐水試驗機。二、理權(quán)責:工程部三、作業(yè)程序3-1依《量檢具儀器校驗一覽表》上所使用的外校合格,且在有效期內(nèi)的溫(濕)度計、轉(zhuǎn)速表,并找出《量檢具儀器設(shè)備校驗履歷表》及要求使用單位提出受檢之設(shè)
【摘要】膜層厚度的均勻性和實時測量2、膜厚的理論分布和計算1、實際源的蒸汽發(fā)射特性3、膜層厚度的測量膜層厚度的均勻性:膜厚隨基板表面位置變化而變化的情況MgF2減反膜,膜厚λ/4(λ=520nm)4nm,不同顏色漸變?yōu)V色片膜厚均勻現(xiàn)的重要性源的種類源的形狀源/基
2024-09-04 01:28
【摘要】第三章厚膜沉積技術(shù)本章主要介紹厚膜印刷工藝中所涉及到的一些具體問題。其中涉及厚膜材料的選擇;厚膜漿料的特性與選擇;絲網(wǎng)印刷過程中絲網(wǎng)、掩模、印刷等工藝;印刷中各外界因素對成膜特性的影響等。另外,還介紹了烘干、燒結(jié)等工藝過程。?厚膜漿料的組成與特性厚膜電路是在所需的陶瓷基片上,通過絲網(wǎng)印刷粘性漿料形
2025-05-27 06:56
【摘要】厚膜導體材料厚膜導體材料實現(xiàn)的功能:(1)在電路節(jié)點之間提供導電布線;(2)提供多層電路導體層之間的電連接;(3)提供端接區(qū)以連接厚膜電阻;(4)提供元器件與膜布線以及更高一級組裝的電互連;(5)提供安裝區(qū)域,一邊安裝元器件.兩大類:貴金屬和賤金屬。對于厚膜導體金屬的要求主要有以下幾點:
2025-05-21 18:01
【摘要】稀土厚膜電熱芯片設(shè)計應(yīng)用指南編制:審核:批準:版本:A0目錄:前言1、適用范圍2、設(shè)計依據(jù)3、火龍技術(shù)4、PCB主板設(shè)計5、稀土厚膜電熱芯片設(shè)計6、水泵設(shè)計7、整機設(shè)計注意事項8、稀土厚膜電熱芯片開水機主要特點9、電氣原理圖
2025-01-28 15:32
【摘要】上海正峰工業(yè)有限公司標準書名稱顯微硬度計操作使用標準編號SAK-131頁次1/2一、適用范圍:廣泛用于金屬材料及零部件的硬度測試,以及經(jīng)熱處理后的金屬部件的硬化層深度測試。二、操作說明2-1試樣必須經(jīng)過處理,表面具有金屬光澤。2-2試
2024-08-06 19:53
【摘要】上海正峰工業(yè)有限公司標準書名稱YX-125攜帶式熒光探傷儀操作使用標準編號SAK-134頁次1/1一、適用范圍:適用于不可磁化的工件表面裂痕檢查。二、技術(shù)指標:2-1功率:125W2-2使用電源:220V/50Hz2-3工作電流:2-4輻射波長:三、操作說明:3-1
【摘要】上海正峰工業(yè)有限公司標準書名稱MT4型紅外測溫儀操作使用標準編號SAK-115頁次1/1一、適用范圍測試引擎各部件溫度。二、測試種類2-1引擎本體;2-2化油器外殼;2-3引擎進、排氣溫度。三、測試范圍溫度范圍:-18攝氏度—260攝氏度。
【摘要】上海正峰工業(yè)有限公司標準書名稱SH520-NDN型溫度記錄儀操作使用標準編號SAK-164頁次1/2一、適用范圍:適用于各種物體表面溫度測試用。二、管理權(quán)責:工程部。三、使用條件:2-1電壓:180~240VAC/50Hz.2-2環(huán)境:0~50℃/20~80%RH。2-3本
【摘要】現(xiàn)代半導體器件物理與工藝桂林電子科技大學測量學和缺陷檢查1測量學和缺陷檢測現(xiàn)代半導體器件物理與工藝PhysicsandTechnologyofModernSemiconductorDevices2022,7,30現(xiàn)代半導體器件物理與工藝桂林電子科技大學測量學和缺陷檢查2測量學和缺陷檢測從硅片制造的最初階段
2025-05-27 18:05
【摘要】原材料元器件檢驗標準文件編號GD/03-BZ/00標準名稱碳膜、氧化膜電阻檢驗標準零件編碼應(yīng)用產(chǎn)品用于各種鎮(zhèn)流器上海光達照明有限公司一、技術(shù)要求〔一〕外觀。、標識清晰、正確。,引線無明顯沾污或氧化,有良好的可焊性。,1/2為深棕色和
2025-06-28 10:18
【摘要】厚聲電子工業(yè)有限公司制程流程圖編制:(Ms.)LiuAiPing審核:(Mr.)ZhaoWuYan日期:UNIROYALELECTRONICSINDUSTRYCO.,LTD.ProcessFlow-ChartsPreparedby:Ap
2024-10-14 17:33
【摘要】上海正峰工業(yè)有限公司標準書名稱鋼卷尺內(nèi)校標準編號SAK-160頁次1/1一、適用范圍:適用于本公司檢測用之鋼卷尺。二、管理權(quán)責:工程部。三、作業(yè)程序:3-1依《量檢具校驗一覽表》上所使用的外校合格、且在有效期內(nèi)的標準鋼卷尺,并找出《量檢具設(shè)備校驗履歷表》及要求使用單位提供受檢之設(shè)備。3-2備妥清潔用
2024-09-06 20:54