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2025-07-03 08:02本頁(yè)面
【正文】 如果上面的過(guò)程完成了，電腦開(kāi)始顯示ROMBIOS的版本、版權(quán)信息以及檢測(cè)出的CPU型號(hào)、主頻和內(nèi)存容量。（注：這些檢測(cè)，如果出現(xiàn)錯(cuò)誤，則為致命性錯(cuò)誤，會(huì)導(dǎo)致死機(jī)或死循環(huán)如果正常。 繼續(xù)檢驗(yàn)中斷控制器→、定時(shí)器→、鍵盤(pán)→、擴(kuò)展I/O接口→、IDE接口→、軟驅(qū)等設(shè)備并進(jìn)行初始化。在這之前，機(jī)器一直判斷用戶是否按了“Del”鍵，如果按了就進(jìn)入ROMBIOS中的系統(tǒng)設(shè)置程序，將系統(tǒng)的配置情況(如軟、硬盤(pán)型號(hào))以參數(shù)的形式存入CMOS RAM中，然后重新啟動(dòng)。 之后，自檢程序?qū)⒏鶕?jù)CMOS RAM中的內(nèi)容來(lái)識(shí)別系統(tǒng)的一些硬件設(shè)置，并對(duì)這些部件進(jìn)行初始化，如果遇到CMOS RAM中的設(shè)置參數(shù)與系統(tǒng)實(shí)際的硬件不符就會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤或死機(jī)。常見(jiàn)參數(shù)一覽代碼 Award BIOS Ami BIOS Phoenix BIOS或Tandy 3000 BIOS 00 . 已顯示系統(tǒng)的配置；即將控制INI19引導(dǎo)裝入。 處理器寄存器的測(cè)試即將開(kāi)始，不可屏蔽中斷即將停用。 02 確定診斷的類(lèi)型（正常或者制造）。 停用不可屏蔽中斷；通過(guò)延遲開(kāi)始。 03 清除8042鍵盤(pán)控制器，發(fā)出TESTKBRD命令（AAH） 通電延遲已完成。 04 使8042鍵盤(pán)控制器復(fù)位，核實(shí)TESTKBRD。 可編程間隔計(jì)時(shí)器的測(cè)試正在進(jìn)行或失靈。 已確定軟復(fù)位／通電；即將啟動(dòng)ROM。 06 使電路片作初始準(zhǔn)備，停用視頻、奇偶性、DMA電路片，以及清除DMA電路片，所有頁(yè)面寄存器和CMOS停機(jī)字節(jié)。 DMA初始頁(yè)面寄存器讀／寫(xiě)測(cè)試正在進(jìn)行或失靈。 ROM BIOS檢查總和正常，鍵盤(pán)緩沖器已清除，向鍵盤(pán)發(fā)出BAT（基本保證測(cè)試）命令。 已向鍵盤(pán)發(fā)出BAT命令，即將寫(xiě)入BAT命令。 核實(shí)鍵盤(pán)的基本保證測(cè)試，接著核實(shí)鍵盤(pán)命令字節(jié)。 0A 使視頻接口作初始準(zhǔn)備。 第一個(gè)64K RAM芯片或數(shù)據(jù)線失靈，移位。 寫(xiě)入鍵盤(pán)控制器命令字節(jié)，即將發(fā)出引腳23和24的封鎖／解鎖命令。 0C 測(cè)試8254通道1。 第一個(gè)64K RAN的地址線故障。檢查控制芯片已編程值是否符合初設(shè)置。 已處理NOP命令；接著測(cè)試CMOS停開(kāi)寄存器。 CMOS停開(kāi)寄存器讀／寫(xiě)測(cè)試；將計(jì)算CMOS檢查總和。 0F 測(cè)試擴(kuò)展的CMOS。 . 10 測(cè)試DMA通道0。 第一個(gè)64K RAM第0位故障。 CMOS狀態(tài)寄存器已作初始準(zhǔn)備，即將停用DMA和中斷控制器。 12 測(cè)試DMA頁(yè)面寄存器。 第一個(gè)64DK RAM第2位故障。 視頻顯示器已停用，端口B已作初始準(zhǔn)備；即將開(kāi)始電路片初始化／存儲(chǔ)器自動(dòng)檢測(cè)。 14 測(cè)試存儲(chǔ)器更新觸發(fā)電路。 第一個(gè)64DK RAM第4位故障。 第2通道計(jì)時(shí)器測(cè)試了一半；8254第2通道計(jì)時(shí)器即將完成測(cè)試。 16 建立8259所用的中斷矢量表。 第一個(gè)64DK RAM第6位故障。 第1通道計(jì)時(shí)器測(cè)試結(jié)束；8254第0通道計(jì)時(shí)器即將完成測(cè)試。 18 測(cè)試視頻存儲(chǔ)器，如果安裝選用的視頻BIOS通過(guò)，由可繞過(guò)。 第一個(gè)64DK RAM第8位故障。 已開(kāi)始更新存儲(chǔ)器，接著將完成存儲(chǔ)器的更新。 1A 測(cè)試第2通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。 第一個(gè)64DK RAM第10位故障。 完成存儲(chǔ)器更新時(shí)間30微秒測(cè)試；即將開(kāi)始基本的64K存儲(chǔ)器測(cè)試。 1C 測(cè)試CMOS檢查總和。 1D 調(diào)定CMOS配置。 1E 測(cè)定系統(tǒng)存儲(chǔ)器的大小，并且把它和CMOS值比較。 1F 測(cè)試64K存儲(chǔ)器至最高640K。 20 測(cè)量固定的8259中斷位。 從屬DMA寄存器測(cè)試正在進(jìn)行或失靈。 通過(guò)地址線測(cè)試；即將觸發(fā)奇偶性。 22 測(cè)試8259的中斷功能。 主中斷屏蔽寄存器測(cè)試正在進(jìn)行或失靈。 基本的64K串行數(shù)據(jù)讀／寫(xiě)測(cè)試正常；即將開(kāi)始中斷矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)。 24 測(cè)定1MB以上的擴(kuò)展存儲(chǔ)器。 設(shè)置ES段地址寄存器注冊(cè)表到內(nèi)存高端。 完成中斷矢量初始準(zhǔn)備；將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開(kāi)始讀出8042的輸入／輸出端口。 26 測(cè)試保護(hù)方式的例外情況。 開(kāi)啟A20地址線；使之參入尋址。 全1數(shù)據(jù)初始準(zhǔn)備結(jié)束；接著將進(jìn)行中斷矢量之后的任何初始準(zhǔn)備。 28 確定超高速緩沖存儲(chǔ)器的控制或者特別的8042鍵盤(pán)控制器。 CMOS電源故障／檢查總和計(jì)算正在進(jìn)行。 CMOS配置有效性的檢查正在進(jìn)行。 已調(diào)定彩色方式，即將進(jìn)行ROM測(cè)試前的觸發(fā)奇偶性。 2B 使磁碟驅(qū)動(dòng)器和控制器作初始準(zhǔn)備。 屏幕存儲(chǔ)器測(cè)試正在進(jìn)行或失靈。 完成視頻ROM控制之前的處理；即將查看任選的視頻ROM并加以控制。 2D 檢測(cè)并行端口，并使之作初始準(zhǔn)備。 屏幕回掃測(cè)試正在進(jìn)行或失靈。 從視頻ROM控制之后的處理復(fù)原；如果沒(méi)有發(fā)現(xiàn)EGA／VGA就要進(jìn)行顯示器存儲(chǔ)器讀／寫(xiě)測(cè)試。 2F 檢測(cè)數(shù)學(xué)協(xié)處理器，并使之作初始準(zhǔn)備。 . 30 建立基本內(nèi)存和擴(kuò)展內(nèi)存。 認(rèn)為屏幕是可以工作的。 顯示器存儲(chǔ)器讀／寫(xiě)測(cè)試或掃描檢查失敗，即將進(jìn)行另一種顯示器存儲(chǔ)器讀／寫(xiě)測(cè)試。 32 對(duì)主板上COM／LTP／FDD／聲音設(shè)備等I／O芯片編程使之適合設(shè)置值。 彩色監(jiān)視器（40列）是可以工作的。 彩色監(jiān)視器（80列）是可以工作的。 計(jì)時(shí)器滴答聲中斷測(cè)試正在進(jìn)行或失靈。 停機(jī)測(cè)試正在進(jìn)行或失靈。 門(mén)電路中A－20失靈。 保護(hù)方式中的意外中斷。 RAM測(cè)試正在進(jìn)行或者地址故障＞FFFFH。 . 3A . 引用信息串顯示結(jié)束；即將顯示發(fā)現(xiàn)ESC信息。 3B 用OPTI電路片（只是486）使輔助超高速緩沖存儲(chǔ)器作初始準(zhǔn)備。 按日計(jì)算的日歷時(shí)鐘測(cè)試正在進(jìn)行或失靈。 . 串行端口測(cè)試正在進(jìn)行或失靈。 . 并行端口測(cè)試正在進(jìn)行或失靈。 . 數(shù)學(xué)協(xié)處理器測(cè)試正在進(jìn)行或失靈。 調(diào)整CPU速度，使之與外圍時(shí)鐘精確匹配。 系統(tǒng)插件板選擇失靈。 描述符表已準(zhǔn)備好；即將進(jìn)行虛擬方式作存儲(chǔ)器測(cè)試。 43 若是即插即用BIOS，則串口、并口初始化。 . 44
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