第八講集成電路可測性原理與設(shè)計-展示頁
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【正文】 窮盡法要做多少次測試？ 28 27 215次 2022/8/17 浙大微電子 7/26 是否有一種切實可行的測試方法 127 255 C0 = ? ? i j i =1 j =1 = 265297920 轉(zhuǎn)化為二進(jìn)制數(shù) 因為寄存器為 15位， 所以 C值最終應(yīng)為 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 32 24 16 8 0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 0 1 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 2022/8/17 浙大微電子 8/26 乘法 /累加 ASIC性能 測試 測試乘法 /累加電路的最高工作頻率 ? 當(dāng)時鐘頻率較低時 , 芯片輸出 C = C0, 工作正常。 2022/8/17 浙大微電子 9/26 準(zhǔn)窮盡法概念及不足 上述測試可稱之為“準(zhǔn)窮盡法”測試，其不足為 –累加器輸入端 Z的累加信號并不是嚴(yán)格按照窮盡法來提供測試碼的。雖然這種可能性比較小。 ? 這就是 DFT理論需要研究和解決的問題 ? 產(chǎn)品測試要求具備的條件 –電路要有 可測性 ( 可測性設(shè)計是 ASIC設(shè)計師在電路設(shè)計初期就應(yīng)考慮的問題 ), – 提取出的 測試矢量集 要有較高的故障覆蓋率 –有故障模型和盡可能完備的“ 故障字典 ” 2022/8/17 浙大微電子 11/26 故障模型 在各種故障模型中比較常用的兩種模型： –“對電源短路模型” Sa1 ( Stuck at 1) –“對地短路模型” Sa0 ( Stuck at 0) 可診斷由對電源短路或?qū)Φ囟搪芬鸬碾娐肥? 實例： 2022/8/17 浙大微電子 12/26 故障字典 ? 實例中有 5個測試點 : A， B， C， P， D ? 10種故障可能 : A1,A0,B1,B0,C1,C0,P1,P0,D1,D0 A1表示 A點的 Sa1故障， A0表示 A點的 Sa0故障 ? 當(dāng)電路無故障時 , 輸入與輸出之間應(yīng)有 正確真值表 ? 當(dāng)有各種 SaX故障時 , 輸出端 D的測試值將有 10種可能的錯誤結(jié)果 ? 將上兩項結(jié)果合并即可形成一張 故障字典 ? 根據(jù)故障字典以及測量到的 D值 ,即有可能分析電路中 Sa1故障和 Sa0故障所處的位置。
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