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2025-02-21 21:28本頁(yè)面
【正文】 控制界限線： 下控制界限線： 中心線： RDU C L R 4?CL R ? RDLCL R 3? 2 3 4 5 6 7 8 9 10 A2 D4 E2 m3A2 D3 __ __ __ __ __ d2 n 系數(shù) 控制圖系數(shù)選用表 sx ?控制圖控制線的計(jì)算公式 上控制界限線： 下控制界限線： 中心線： sAXUCL x 3??XCL x ? sAXLCL x 3??均 值 控 制 圖 標(biāo)準(zhǔn) 差 控 制 圖 上控制界限線： 下控制界限線： 中心線： sBU CL s 4?CL s ? sBLC L s 3? P 控制圖控制線的計(jì)算公式 上控制界限線： 下控制界限線： 中心線： ip npppUC L )1(3 ???pCL p ???????miimiindpp11?ip npppLCL )1(3 ??? P 控制圖控制線中的 ni ? 若各組的 n 不相等時(shí)，控制線呈凹凸?fàn)睢? ? 對(duì)于同一個(gè)過程而言，通過長(zhǎng)期標(biāo)準(zhǔn)差的估計(jì)值 σLT大于短期標(biāo)準(zhǔn)差的估計(jì)值 σST。只不過 C系列的過程能力指數(shù)是指過程的短期過程能力指數(shù)，而 P系列的過程性能指數(shù)則是指過程的長(zhǎng)期過程能力指數(shù)。 ? QS9000提出 Pp、 Ppk的好處是：可以反映出系統(tǒng)當(dāng)前的實(shí)際狀態(tài)，而不要求在穩(wěn)態(tài)的條件下計(jì)算。 聯(lián)合應(yīng)用 Cp與 Cpk所代表的合格品率 Cp Cpk % % % % % % % % % % % % % % % % % % % % % 過程改進(jìn)策略 分析用控制圖 過程是否處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) CP 1 是 改進(jìn)過程 CP 控制用控制圖 是 是 否 去除異因 否 ? 改進(jìn)過程 ? 停產(chǎn) ? 全檢 ? 改變規(guī)范 否 評(píng)價(jià)過程能力 過程性能指數(shù) ?在 QS9000中提出 Pp、 Ppk的新概念，稱之為過程性能指數(shù)（ Process Performance Index），又稱為長(zhǎng)期過程能力指數(shù)。 CPK 表示過程中心 μ與規(guī)范中心 TM 偏移情況下的過程能 力指數(shù)， CPK越大，則二者偏離越小，是過程的“質(zhì)量能 力”與“管理能力”綜合的結(jié)果。當(dāng) μ≤TL時(shí)，記 CpL=0 有偏移情況的過程能力指數(shù) Cpk 當(dāng)給定雙向公差， 時(shí)： SxTTTTKCKC MPPk 62626)1()1(????????????MT??TM TL TU T x?修正后的過程（工序）能力指數(shù) TTK?? 22/ ??當(dāng) μ= TM 時(shí)， K = 0， Cpk = CP 當(dāng) μ= TU 或 μ= TL時(shí)， K = 1， Cpk = 0 ， 這時(shí)合格率仍為 50%。 單側(cè)公差情況的過程能力指數(shù) *若只有上限要求，而沒有對(duì)下限要求，則過程能力指數(shù)計(jì)算如下： Cpu= TU μ 3σ (μ＜ Tu) 式中： Cpu為上單側(cè)過程能力指數(shù)。 ≤Cp Ⅳ 過程能力不足，表示技術(shù)管理能力已很差，應(yīng)采取措施立即改善。 MT?? 過程能力指數(shù) TM TL TU T ?6TM TL TU T ?6TM TL TU T ?61?PC 1?PC 1?PC ?P
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