【質(zhì)量管理精品文檔】計(jì)量值管制圖的制作與解析-文庫(kù)吧資料
2025-01-24 09:53本頁(yè)面
【正文】 即每組數(shù)據(jù)系統(tǒng)性地包含不同的製程平均 ,如多線或多機(jī)生產(chǎn)各取一個(gè)為一組樣本 . 計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤 . 明顯的非機(jī)遇現(xiàn)象 。 量測(cè)系統(tǒng)的改變，可能掩飾真時(shí)的改變。 製程條件造成較小的數(shù)據(jù)變異，應(yīng)該調(diào)查而推廣。如一新的或不均勻的原材料批 ,這些問(wèn)題必須即時(shí)矯正 . 不規(guī)則的原因造成較大的數(shù)據(jù)變異 。 實(shí)際製程變異變小 . 量測(cè)系統(tǒng)曾經(jīng)改變 . ? 有點(diǎn)低於管制下限 (樣本大小 n=7) 計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤 . 依各組之統(tǒng)計(jì)量大小描點(diǎn)於管制圖上 . 決定一格的大小及從座標(biāo)之尺寸 . 2. 依管制界線及各組 Xi及 Ri之大小描繪於管制圖 上 中心線置於從座標(biāo)之中心位置上 . 計(jì)算各組平均數(shù) xi 及全距 Ri ,總平均數(shù) x及 R. xi = Σxij / n , Ri = max｛ xij｝ min ｛ xij｝ x = Σxi / k , R = ΣRi / k 三 計(jì)算管制界線 UCLx = X+A2 R UCLR = D4 R CLx = X CLR = R LCLx = XA2 R LCLR = D3 R 四 繪制管制界線及描點(diǎn) 1. 決定管制圖之座標(biāo)尺寸 25組以上的樣本及 100個(gè)以上的數(shù)據(jù)以檢定製程的穩(wěn)定及估計(jì)製程特性的平均數(shù)及標(biāo)準(zhǔn)差 . 二 記錄數(shù)據(jù)及計(jì)算各組平均數(shù) xi , 及全距 Ri , 總平均數(shù) x及 R . 不影響生產(chǎn)及可接受的成本下 . 3. 決定樣本組數(shù) k 初期解析之製程最好在較小的間隔連續(xù)取樣 ,管制狀態(tài)下之製程可加長(zhǎng)其間個(gè) . n約在 25個(gè)之間 ,不宜太大 . 經(jīng)常出問(wèn)題的特性 . 與客戶使用及生產(chǎn)關(guān)係重大的特性 . 計(jì)量值管制圖的製作與解析 製作人 :王曉微 2023/4/9 XR(平均數(shù) 全距 )管制圖的 製作與解析 一 收集數(shù)據(jù) :選擇管制特性 X,決定樣本大小 n及抽樣間隔 ,樣本組數(shù) k.
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