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正文內(nèi)容

無(wú)機(jī)材料科學(xué)基礎(chǔ)(陸佩文)-文庫(kù)吧資料

2024-08-17 00:38本頁(yè)面
  

【正文】 液體結(jié)晶首先要形成晶核,晶核如果繼續(xù)長(zhǎng)大則形成晶體。2.“核前群”理論 核前群理論是在“近程有序”理論的基礎(chǔ)上發(fā)展而來(lái)的。 在液體內(nèi)部每個(gè)中心質(zhì)點(diǎn)的附近的微小范圍內(nèi)(大約1020?),認(rèn)為是近程有序的。對(duì)于這一點(diǎn)我們可以從以下幾點(diǎn)理解:液體和晶體的體積密度相近;晶體的熔融熱比液體的汽化熱小得多;晶體的熱容與液體的熱容相差不大,而和氣體相差大;X衍射分析結(jié)果表明液體的結(jié)構(gòu)更靠近晶體的結(jié)構(gòu)。這里熔體和玻璃體的結(jié)構(gòu)主要從原子級(jí)結(jié)構(gòu)(~1nm)和亞微觀結(jié)構(gòu)(3~幾百nm)尺度來(lái)考慮。例如,耐火材料中存在的玻璃相是決定其高溫性能的重要因素,陶瓷釉的質(zhì)量取決于玻璃體的組成及其與坯體的物化作用,等等。因此玻璃體的結(jié)構(gòu)和熔體的結(jié)構(gòu)有一定的?相似性,也把玻璃體稱為過(guò)冷液體。?第三章 熔體與玻璃體  熔體指高溫下形成的液體,當(dāng)它冷卻時(shí)會(huì)固化轉(zhuǎn)變?yōu)楣腆w。 指多余半平面的伸長(zhǎng)、縮短,發(fā)生的條件是在高溫條件下。第四節(jié) 位錯(cuò) 指伯格斯矢量與位錯(cuò)線垂直的位錯(cuò),刃型位錯(cuò)分為正、負(fù)刃型位錯(cuò)。分為四種類型:一、陰離子過(guò)剩,導(dǎo)致陽(yáng)離子空位: 如FeO在氧化氣氛下,原子氧進(jìn)入晶格中離子化,F(xiàn)e由2價(jià)變?yōu)?價(jià),形成Fe2+空位??芍谱魅剂想姵兀芰哭D(zhuǎn)化效率高,無(wú)污染;可作為氧傳感器--測(cè)定鋼水的溫度。例如:通過(guò)形成固溶體,可調(diào)節(jié)氧化鋯的電性能,由絕緣體變?yōu)閷?dǎo)電體。因此可以用作特種耐火材料、澆鑄口,用作熔煉鉑、鈀、銠等金屬的坩堝。 c) 抗腐蝕。最好的韌化陶瓷常溫抗彎強(qiáng)度可達(dá)2000 MPa,KIC可達(dá)9 MPam1/2以上。因此可制成冷成形工具、整形模、拉絲模、切削刀具、溫?cái)D模具、魚(yú)刀、剪刀、高爾夫球棍頭等。形成固溶體,立方晶可保存至室溫,避免四方晶轉(zhuǎn)變?yōu)閱涡本?。加熱時(shí),單斜晶轉(zhuǎn)變?yōu)樗姆骄?,體積收縮;冷卻時(shí),四方晶轉(zhuǎn)變?yōu)閱涡本Вw積膨脹。更高溫度下轉(zhuǎn)變?yōu)榱⒎骄担?g/cm3。低溫為單斜晶系。,穩(wěn)定晶型。根據(jù)固溶體結(jié)構(gòu)和給定的晶胞參數(shù)等已知條件, g/㎝3,這與實(shí)驗(yàn)測(cè)定數(shù)值相近,因此可確定該固溶體的類型為缺位形固溶體。不同類型的固溶體,密度值有著很大不同。因此,雜質(zhì)缺陷的產(chǎn)生,會(huì)降低熱缺陷濃度的影響。 化學(xué)式: (3)缺位形固溶體:低價(jià)陽(yáng)離子置換高價(jià)陽(yáng)離子,形成陰離子空位或陽(yáng)離子間隙;高價(jià)陽(yáng)離子置換低價(jià)陽(yáng)離子,形成陽(yáng)離子空位或陰離子間隙。 化學(xué)式:反應(yīng)式檢驗(yàn)方法:質(zhì)量平衡;電荷平衡;位置平衡。(2)間隙型固溶體:不等價(jià)置換,且間隙位置能容納外來(lái)離子,否則能量升高,結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定。 形成有限固溶體,晶體結(jié)構(gòu)類型類型不一定相同;離子半徑尺寸差別大于15%,差值越大,固溶度越低;離子電價(jià)可以不等,但不等價(jià)置換只能生成有限固溶體。需滿足條件:晶體結(jié)構(gòu)因素-結(jié)構(gòu)類型完全相同; 尺寸因素-相應(yīng)的置換離子半徑差值:(R1-R2)/R1小于15%,R1大于R2;但對(duì)于復(fù)雜的大晶胞,當(dāng)半徑差比大于15%時(shí),也可能生成固溶體; 電價(jià)因素-相應(yīng)置換離子電價(jià)必須相同; 電負(fù)性因素-電負(fù)性相近,利于固溶體生成;反之,傾向于形成化合物。第二節(jié) 固溶體含有外來(lái)雜質(zhì)原子或離子的晶體稱為固溶體。2)離子晶體產(chǎn)生弗倫克爾缺陷如AgBr:缺陷反應(yīng) 在熱缺陷產(chǎn)生過(guò)程中:G=H-TS,系統(tǒng)的混亂度增加,S升高,內(nèi)能增加,H升高。(2)弗倫克爾缺陷形成反應(yīng)(1)單質(zhì)產(chǎn)生弗倫克爾缺陷△Gf—生成1mol弗倫克爾缺陷體系自由焓變化。K當(dāng)上式中的R由K來(lái)代替時(shí),Us表示形成一個(gè)缺陷所需能量。 Us —形成1mol肖特基缺陷所需的能量。由于斷鍵數(shù)量的減少,系統(tǒng)能量會(huì)降低,穩(wěn)定性增加?!北硎菊?,“’”表示負(fù)電,“”表示中性。此過(guò)程中,間隙原子與空位成對(duì)產(chǎn)生,晶體體積不發(fā)生變化?! 榱司S持晶體的電中性,正、負(fù)離子空位同時(shí)按化學(xué)式關(guān)系成比例產(chǎn)生。原子的遷移相當(dāng)于空位的反向遷移,表面的空位移至晶體的內(nèi)部。 當(dāng)溫度高于絕對(duì)溫度時(shí),晶格中原子熱振動(dòng),溫度是原子平均動(dòng)能的度量,部分原子的能量較高,大于周圍質(zhì)點(diǎn)的約束力時(shí)就可離開(kāi)其平衡位置,形成缺陷。 第一節(jié) 熱缺陷 當(dāng)晶體的溫度高于絕對(duì)0K時(shí),由于晶格內(nèi)原子熱振動(dòng),使一部分能量較大的原子離開(kāi)平衡位置造成的缺陷。其中點(diǎn)缺陷按形成原因又可分為熱缺陷、組成缺陷(固溶體)和非化學(xué)計(jì)量化合物缺陷,點(diǎn)缺陷對(duì)材料的動(dòng)力性質(zhì)具有重要影響。結(jié)構(gòu)缺陷的存在及其運(yùn)動(dòng)規(guī)律,對(duì)固體的一系列性質(zhì)和性能有著密切的關(guān)系,尤其是新型陶瓷性能的調(diào)節(jié)和應(yīng)用功能的開(kāi)發(fā)常常取決于對(duì)晶體缺陷類型和缺陷濃度的控制,因此掌握晶體缺陷的知識(shí)是掌握材料科學(xué)的基礎(chǔ)。晶體中的原子按理想的晶格點(diǎn)陣排列。 反尖晶石:一半三價(jià)離子填充四面體空隙,另一半三價(jià)離子和二價(jià)離子填充八面體空隙。 (3)絡(luò)陰離子團(tuán)的ABO3:CaCO3(B離子較?。? AB2O4型:MgAl2O4(鎂鋁尖晶石) O2做立方最緊密堆積,Al3+填充一半的八面體空隙,Mg2+填充1/8的四面體空隙。 晶體舉例:αFe2OCr2OTi2OV2O3等。晶胞中存在6個(gè)八面體空隙,Al3+填充4個(gè),故不可避免出現(xiàn)八面體共面現(xiàn)象,但αAl2O3是穩(wěn)定的,因?yàn)锳lO鍵很強(qiáng), Al3+配位數(shù)高,比4配位時(shí)斥力小的多。 方法iii:R Cd2+/R I=,形成[CdI6]八面體 W=1=∑Si Si=2/6=1/3 ∴1/3*i=1 推出:i=3 即:每個(gè)I是三個(gè)[CdI6]八面體的共用頂點(diǎn)。填充方式為I形成的層間一層填滿一層不填,形成層狀結(jié)構(gòu)晶體。 晶體舉例:GeOSnOPbOMnO2等。 最高連接方式為共棱連接。 方法ii:O2做六方最緊密堆積,Ti4+填充一半的八面體空隙。 該類型結(jié)構(gòu)晶體有ZrOUOThO2等 * 反螢石結(jié)構(gòu):與螢石結(jié)構(gòu)相反,正、負(fù)離子位顛倒的結(jié)構(gòu),陰離子做立方最緊密堆積,陽(yáng)離子填充全部的四面體空隙。 方法iii:R Ca2+/R F=,形成[CaF8]立方體 W=1=∑Si Si=2/8=1/4 ∴1/4*i=1 推出:i=4 即:4個(gè)[CaF8]立方體共用1 個(gè)頂點(diǎn) 最高連接方式為共棱連接。2. AX2型(1)CaF2(螢石型) 方法i:由一套Ca2+和2套F的立方面心格子穿插而成。 βSiC、GaAs、AlP、InSb等具有該類型結(jié)構(gòu)。 最高連接方式為共頂連接。 方法iii:R Zn2+/R S2=,理論上為[ZnO6]八面體,實(shí)際為[ZnO4]四面體。 屬于該類型結(jié)構(gòu)的晶體有CsBr、CsI、TlCl、NH4Cl等 (3)閃鋅礦型(立方ZnS) 方法i:由一套S2和一套Zn2+的立方面心格子穿插而成。方法iii:第一規(guī)則:RCs+/RCl=,形成[CsCl8]立方體第二規(guī)則:W=1=∑Si 在[CsCl8]立方體中,Si=1/8 ∴1=1/8*i 推出:i=8 即:每個(gè)Cl是8個(gè)[CsCl8]立方體的共用頂點(diǎn)。(其中的Mg2+、Ca2+、Cs2+、Ba2+相當(dāng)于NaCl中的Na+離子,而O離子相當(dāng)于Cl離子)(2)CsCl型方法i:由一套Cl和一套Cs+離子的立方原始格子穿插而成。方法iv:Cl為基準(zhǔn)取晶胞,立方晶胞: Cl (0,0,0),(1/2,0,1/2),(0,1/2,1/2),(1/2,1/2,0) Na+ (1/2,1/2,1/2) NaCl晶胞中含有的式量分子數(shù):Na+:體心,各邊心 1+1/4*12=4Cl :各角頂,各面心 1/8*8+1/2*6=4即:每個(gè)晶胞中含有4個(gè)式量分子。第二規(guī)則:已知結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,W=1=∑Si 在[NaCl6]八面體中,Si=1/6 ∴1=1/6*i 推出:i=6即:每個(gè)Cl是6個(gè)[NaCl6]八面體的共用頂點(diǎn)。方法ii:Cl做立方最緊密堆積,Na+填充全部的八面體空隙。該規(guī)則的物理基礎(chǔ)與第三規(guī)則相同。正離子間距減小,排斥力增大,不穩(wěn)定程度增大。(2)判斷結(jié)構(gòu)是否穩(wěn)定(已知結(jié)構(gòu))如:鎂橄欖石(Mg2SiO4)已知結(jié)構(gòu)中,一個(gè)[SiO4]四面體和三個(gè)[MgO6]八面體共用一個(gè)O頂點(diǎn)∴∑Si=1*4/4+3*2/6=2= W 故結(jié)構(gòu)穩(wěn)定3第三規(guī)則:關(guān)于負(fù)離子配位多面體共用頂點(diǎn)規(guī)則 在一個(gè)配位結(jié)構(gòu)中,兩個(gè)負(fù)離子多面體以共棱方式特別是共面方式存在時(shí),結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性較低,對(duì)于電價(jià)高而配位數(shù)小的正離子此效應(yīng)尤為顯著。    2 第二規(guī)則:電價(jià)規(guī)則 在一個(gè)穩(wěn)定的離子化合物結(jié)構(gòu)中,每一負(fù)離子的電價(jià)等于或近似等于從鄰近的正離子至該負(fù)離子各靜電強(qiáng)度的總和。: 對(duì)于二元晶體,晶格類型相同,且離子間的極化作用不太強(qiáng)烈時(shí),由晶格能大小可比較晶體有關(guān)的物理性質(zhì)  如:MgO、CaO、SrO、BaO  二元晶體,結(jié)構(gòu)類型為NaCl型, 故:晶格能UMgOU CaO U SrO UBaO故熔點(diǎn) MgOCaOSrOBaO 硬度 MgOCaOSrOBaO在利用晶格能比較晶體物理性質(zhì)時(shí)必須注意極化的影響,如ZrOCeOThO2均為CaF2型二元晶體,且RZrRCeRTh晶格能U ZrO2U CeO2U ThO2實(shí)際熔點(diǎn)為:2710℃2750℃3050℃,熔點(diǎn)ZrO2最低而ThO2最高。六、晶格能: 把1mol離子晶體中各離子拆散至氣態(tài)時(shí)所需要的能量。CsCl中,R+/R=,CN=8。* 例:離子極化對(duì)鹵化銀晶體結(jié)構(gòu)的影響
AgCl
AgBr
AgI
R+/R


實(shí)際配位數(shù)
6
6
4(理論為6)
理論結(jié)構(gòu)類型
NaCl
NaCl
NaC l
實(shí)際結(jié)構(gòu)類型
NaCl
NaCl
立方ZnS
五、 決定離子晶體結(jié)構(gòu)的因素——結(jié)晶化學(xué)定律 離子晶體結(jié)構(gòu)取決其組成質(zhì)點(diǎn)的數(shù)量關(guān)系、大小關(guān)系和極化性能。 一般地,只考慮正離子對(duì)負(fù)離子的極化作用,而對(duì)于最外層電子是118+2型正離子,除考慮正離子對(duì)負(fù)離子的極化作用外,還必須考慮負(fù)離子對(duì)正離子的極化,因?yàn)樽钔鈱与娮訛?18+2型離子不僅β大。離子晶體中每個(gè)離子都有雙重能力,既有極化別的離子的能力,又有被別的離子極化的能力。 正離子的配位數(shù)與R+/ R的關(guān)系如下: R+/ R ≤R+/ R ≤R+/ R ≤ R+/ R ≤ R+/ R 1≤ R+/ R 配位數(shù) 2 3 4 6 8 12 注意:當(dāng)配位數(shù)為12 相當(dāng)于等徑球體的最緊密堆積。當(dāng)R+/ R= 時(shí),正離子恰好填入立方體空隙,此時(shí)正離子的配位數(shù)為8。  配位數(shù):8——配位多面體:立方體;  配位數(shù):4——配位多面體:四面體  假設(shè)離子是剛性球,正離子的配位數(shù)由R+/R決定: 在最緊密堆積體中,八面體空隙內(nèi)切球的半徑: 設(shè):堆積球的半徑為R,八面體空隙內(nèi)切球的半徑為r,連接四個(gè)堆積球的球心為正方形, 所以, 2(2R)2=(2R+2r)2 解得,=R+r 所以, r/ R=可見(jiàn),當(dāng)R+/ R= 時(shí), 正離子恰好填入八面體空隙,此時(shí)正離子的配位數(shù)為6。四、配位數(shù)(CN): 在離子晶體中,每個(gè)離子都被與其電荷相反的異名離子相包圍,則異名離子的數(shù)量就是這個(gè)離子的配位數(shù)。CaF2:F做簡(jiǎn)單立方堆積,Ca2+填充一半的立方體空隙。 CsCl:Cl做簡(jiǎn)單立方堆積,Cs+離子填充于全部的立方體空隙當(dāng)中。用這種方式描述離子晶體結(jié)構(gòu),雖不嚴(yán)密但有助于我們想象。(3)不等徑球體的堆積 不等徑球體的堆積可看成較大的球體作等徑球體的最緊密堆積,較小的球填充于堆積體的空隙中?! 《逊e體中只形成立方體空隙(8個(gè)球包圍,其球心連線形成一個(gè)立方體)。(2)簡(jiǎn)單立方堆積  簡(jiǎn)單立方堆積不是最緊密堆積。 ②八面體空隙:處于六個(gè)球體包圍之中的空隙,六個(gè)球體中心連線形成一個(gè)八面體。 %,%。其密排面//(111) 除上述這兩種常見(jiàn)的最緊密堆積方式,最緊密堆積也可能出現(xiàn)ABACABAC……,每四層重復(fù)一次,或ABABCABABC……,每五層重復(fù)一次,等等。2. 等徑球體的堆積方式: (1)最緊密堆積 ①六方最緊密堆積:ABAB……(ACAC……) 每?jī)蓪又貜?fù)一次,其球體在空間的分布與六方格子相對(duì)應(yīng),堆積體中有兩套六方底心格子。 r0=r++ r三、 球體的堆積方式:1. 球體的最緊密堆積原理  假設(shè)球體是剛性球,堆積密度越大,堆積體的內(nèi)能越小,結(jié)構(gòu)越穩(wěn)定。r0為正離子中心到負(fù)離子中心的距離,即正、負(fù)離子都可以近似看成球形,各有一個(gè)作用圈半徑,平衡間距就是相鄰的正、負(fù)離子相互接觸時(shí)半徑之和。 依據(jù)鮑林公式計(jì)算過(guò)渡鍵型中離子鍵占的百分?jǐn)?shù)P:P=1exp[1/4(xAxB)2]二 離子半徑:   對(duì)于獨(dú)立存在的離子,它的離子半徑是不確定的,但在離子晶體中,設(shè)離子為點(diǎn)電荷 ,根據(jù)庫(kù)侖定律,正、負(fù)離子之間的吸引力:  F∝(q1q2)/r2隨著離子的相互靠近,電子云之間的斥力出現(xiàn)并迅速增大。 凡是X值有相當(dāng)差異、但差異并不過(guò)大的原子之間形成離子鍵和共價(jià)鍵之間的過(guò)渡鍵型。 氫鍵:X—H…Y,
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