材料科學分析技術(shù)(電子顯微學衍襯成像理論)(參考版)
2025-01-02 21:30本頁面
【正文】 像不畸變、分辨率高。 45 明場像和暗場像 ? 成像電子的選擇是通過在 物鏡 的 背焦面 上插入 物鏡光闌 來實現(xiàn)的。 ? 明場 像（ BF）：直射電子成像，像清晰。 44 明場像和暗場像 ? TEM圖像分為顯微像和衍射花樣。 ? 像襯度是圖像上不同區(qū)域 明暗 程度的差別。實際上，當s→0 時，仍看到條紋間距的上限值。 ? 2) 滿足運動學理論樣品的厚度要求很小 運動學理論只適用于極薄的樣品。 )2exp( Rig ?? ?畸變相位因子 由于該因子的存在，造成如下兩式各自代表的兩個晶柱底部衍射波振幅的差別，由此就可以反映出晶體缺陷引起的衍射襯度。顯然， rˊ=r + R。 33 等厚條紋明場像 等厚條紋暗場像 34 （ 2）等傾消光條紋 222222)()(sintssttIggg ???????當衍襯成像時，如果試樣的厚度基本不變，而晶體的取向由于變形等原因而有微小的變化時，相當于偏離矢量 s有微小的變化，這時衍射波對小晶柱下表面的強度貢獻公式可寫為： 這時電子衍射襯度的表達式是偏離矢量的函數(shù)，隨著偏離矢量的改變，襯度改變，這是等傾條紋產(chǎn)生的原因。根據(jù)衍射強度公式的計算，在衍射圖像上楔形邊緣上將得到幾列亮暗相間的條紋，每一亮暗周期代表一個消光距離的大小，此時 st g1?32 等厚條紋形成原理的示意圖 因為同一條紋上晶體的厚度是相同的，所以這個條紋叫做等厚條紋，由 t=n/s可知，消光條紋的數(shù)目實際上反映了薄晶體的厚度。下圖為一薄晶體，其一端是一個楔形的斜面，在斜面上的晶體的厚度 t是連續(xù)變化的，故可把斜面部分的晶體分割成一系列厚度各不相同的晶柱。 23 衍襯運動學理論 1. 運動學理論的基本假設(shè)與實驗條件 1) 忽略樣品對電子束的吸收和多重散射 2) 不考慮衍射束和通射束的交互作用。 ,是精確測定晶體取向、位向關(guān)系和跡
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