【正文】 RF全寬開(kāi)低通采樣結(jié)構(gòu)SDR射頻儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，模擬電路數(shù)量最少，是理想的SDR結(jié)構(gòu)。ADC/ DAC是模擬信號(hào)與數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換的關(guān)鍵器件，其采樣方式和性能指標(biāo)決定RF前端的結(jié)構(gòu)，影響數(shù)字信號(hào)處理單元的處理方式和處理速度要求，同時(shí)還涉及寬帶、線(xiàn)性和高效RF放大器結(jié)構(gòu)以及電磁兼容問(wèn)題，直接影響整個(gè)測(cè)量?jī)x器的性能，其中ADC的主要指標(biāo)為采樣速率和采樣位數(shù)，DAC的主要指標(biāo)為轉(zhuǎn)換速率和轉(zhuǎn)換位數(shù)。通用處理器方式測(cè)量?jī)x器采用微處理器、DRAM存儲(chǔ)器、ADC以及DAC組成的基本硬件架構(gòu)，所有軟件由微處理器執(zhí)行，具有容易重配置、擴(kuò)展性強(qiáng)、方便升級(jí)等優(yōu)點(diǎn)，軟件編程相對(duì)比較繁瑣；專(zhuān)用硬件方式測(cè)量?jī)x器根據(jù)自身特性采用專(zhuān)用集成電路(ASIC)或現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)，其中ASIC方式成本最低，但其內(nèi)部固化程序無(wú)法修改和升級(jí)，F(xiàn)PGA方式可以現(xiàn)場(chǎng)編程及調(diào)試，系統(tǒng)靈活，但成本相對(duì)較高；可編程信號(hào)處理硬件方式測(cè)量?jī)x器采用DSP處理器完成系統(tǒng)數(shù)字信號(hào)處理功能，結(jié)合十進(jìn)制和實(shí)時(shí)數(shù)字插值的數(shù)字上、下變頻器，儀器硬件能力得到很大提高，相比通用處理器方式，軟件編程難度有所減小。相比傳統(tǒng)射頻測(cè)量?jī)x器，基于SDR結(jié)構(gòu)的射頻測(cè)量?jī)x器具有研發(fā)時(shí)間及參數(shù)測(cè)量時(shí)間短、配置靈活、成本低等優(yōu)點(diǎn)，目前已廣泛應(yīng)用于各種射頻產(chǎn)品的測(cè)量。SDR系統(tǒng)采用數(shù)字電路和信號(hào)處理軟件替代傳統(tǒng)無(wú)線(xiàn)收發(fā)系統(tǒng)中的超外差變頻、中頻放大、本振、濾波、檢波放大等模擬電路，具有電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、功耗低、配置靈活、成本低等優(yōu)點(diǎn)。ADC/ DAC是發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的核心部件，完成模擬信號(hào)和數(shù)字信號(hào)之間的相互轉(zhuǎn)換工作，并且在基帶頻率范圍內(nèi)具有足夠的分辨率和采樣率。，系統(tǒng)包括射頻（RF）前端、ADC / DAC和基帶處理器（數(shù)字信號(hào)處理單元）三個(gè)基本部件。DDC是數(shù)字接收機(jī)中ADC采樣后的第一個(gè)信號(hào)處理模塊，包括數(shù)字控制振蕩器（NCO）、正交混頻器以及抽取濾波器等，其輸入數(shù)據(jù)率、信號(hào)帶寬、抽取倍數(shù)等參數(shù)可調(diào)。二十一世紀(jì)初，射頻測(cè)量?jī)x器開(kāi)始采用SDR技術(shù)，目前矢量信號(hào)發(fā)生器和矢量信號(hào)分析儀均采用SDR結(jié)構(gòu)的無(wú)線(xiàn)發(fā)射和接收裝置[2930]。相比傳統(tǒng)臺(tái)式儀器，虛擬儀器采用通用硬件模塊，用戶(hù)根據(jù)需求自定義和構(gòu)建各種測(cè)量?jī)x器，在應(yīng)用程序、數(shù)據(jù)處理能力、性格比和可操作性等方面具有明顯的技術(shù)優(yōu)勢(shì)[28]。PXI總線(xiàn)具有PCI總線(xiàn)的電氣總線(xiàn)特性、Eurocard的機(jī)械封裝特性和Compact PCI的堅(jiān)固性、模塊化特性，適合于試驗(yàn)、測(cè)量與數(shù)據(jù)采集場(chǎng)合應(yīng)用的機(jī)械、電氣和軟件規(guī)范。LabVIEW開(kāi)發(fā)平臺(tái)采用圖形化編程環(huán)境，用戶(hù)可以采用程序自帶的常見(jiàn)測(cè)試儀表面板顯示控件，還可以根據(jù)要求創(chuàng)建或修改控件，具有快捷的程序編譯、便捷的程序調(diào)試、強(qiáng)大的函數(shù)運(yùn)算及數(shù)據(jù)分析功能，還提供各種DLL和CIN數(shù)據(jù)庫(kù)接口，支持現(xiàn)有各種系統(tǒng)平臺(tái)，與其他軟件調(diào)用方便，具有很強(qiáng)的開(kāi)放性。LabVIEW語(yǔ)言是一種專(zhuān)門(mén)面向非專(zhuān)業(yè)程序員的最終用戶(hù)開(kāi)發(fā)工具，采用工程技術(shù)人員熟悉的術(shù)語(yǔ)、圖表和概念進(jìn)行編程，目前已經(jīng)成為一種主流的測(cè)試程序開(kāi)發(fā)環(huán)境。儀器驅(qū)動(dòng)程序是儀器控制與通信的軟件程序集，虛擬儀器通過(guò)設(shè)備驅(qū)動(dòng)軟件控制各種硬件接口的驅(qū)動(dòng)程序，完成底層設(shè)備與模塊化功能硬件通信。VISA是標(biāo)準(zhǔn)I/O函數(shù)庫(kù)或可調(diào)用的操作函數(shù)集，實(shí)現(xiàn)儀器的程控。模塊化功能硬件通過(guò)DAQ、GPIB、VXI、PXI和串口總線(xiàn)五種標(biāo)準(zhǔn)體系結(jié)構(gòu)，完成信號(hào)的采集、放大、模／數(shù)（A/D）轉(zhuǎn)換。虛擬儀器由計(jì)算機(jī)、模塊化功能硬件和軟件三大部分組成，不同模塊化功能硬件采用不同構(gòu)成方式。虛擬儀器（Virtual Instrument）是上世紀(jì)90年代初美國(guó)國(guó)家儀表（NI）公司研發(fā)的將計(jì)算機(jī)技術(shù)、通信技術(shù)和儀器儀表技術(shù)深層次結(jié)合的一種新型儀器。RFID協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)的多樣化，導(dǎo)致相關(guān)調(diào)制參數(shù)、編碼方式、防碰撞機(jī)制、信號(hào)幀結(jié)構(gòu)、系統(tǒng)指令等參數(shù)差異，傳統(tǒng)設(shè)備搭建的一致性測(cè)試系統(tǒng)無(wú)法支持多協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試。實(shí)時(shí)頻譜分析儀通過(guò)第三方獲取RFID系統(tǒng)通信信號(hào)，可以完成部分物理參數(shù)測(cè)試和分析，但需要額外的讀寫(xiě)設(shè)備與待測(cè)器件建立通信鏈路，且無(wú)法進(jìn)行協(xié)議一致性測(cè)試。為了提高測(cè)試效率，同時(shí)保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性，消除人為誤差的影響，一般要求采用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)完成相關(guān)的測(cè)試任務(wù)。目前應(yīng)用較多的模擬和數(shù)字化儀器有：指針式萬(wàn)用表、晶體管電壓表、數(shù)字電壓表、數(shù)字頻率計(jì)等，這類(lèi)儀表體積小、成本低，但是功能簡(jiǎn)單，所能完成的測(cè)試項(xiàng)目少，主要適用于快速響應(yīng)以及對(duì)測(cè)試指標(biāo)有較高準(zhǔn)確度要求的測(cè)量。4．輔助測(cè)試設(shè)備：用于貼附標(biāo)簽的貨箱、托盤(pán)、傳輸帶、龍門(mén)架、天線(xiàn)固定設(shè)備等，芯片測(cè)試需要的測(cè)試夾具、巴倫和SNA接頭等。2．測(cè)試設(shè)備：針對(duì)RFID系統(tǒng)標(biāo)簽及閱讀器測(cè)試的數(shù)據(jù)采集設(shè)備，如：場(chǎng)強(qiáng)儀、測(cè)速儀、溫度計(jì)、濕度計(jì)等；專(zhuān)業(yè)的數(shù)據(jù)分析設(shè)備，如：實(shí)時(shí)頻譜分析儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、射頻阻抗/頻譜/網(wǎng)絡(luò)分析儀、專(zhuān)用誤碼測(cè)試儀、功率計(jì)、精密LCR表、矢量信號(hào)發(fā)生器、EMI/EMC預(yù)兼容測(cè)試系統(tǒng)和電子計(jì)算機(jī)等。 RFID系統(tǒng)測(cè)試環(huán)境主要包括以下幾個(gè)方面:1．測(cè)試場(chǎng)地：由于RFID產(chǎn)品性能參數(shù)不同，讀取范圍變化較大，需要對(duì)應(yīng)不同場(chǎng)合的測(cè)試場(chǎng)地。此外還有一些區(qū)域性和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化機(jī)構(gòu)，如CEN、 BSI、ANSI和DIN，相關(guān)產(chǎn)業(yè)技術(shù)聯(lián)盟，如ATA、AIAG、EIA等。 RFID測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試環(huán)境RFID測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是科學(xué)、公正地對(duì)各種RFID系統(tǒng)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試和性能評(píng)估的重要依據(jù)和基礎(chǔ)，同時(shí)也是RFID系統(tǒng)在具體實(shí)施過(guò)程中的技術(shù)保障。隨著RFID技術(shù)及產(chǎn)品的應(yīng)用推廣，為了保證不同廠家同類(lèi)產(chǎn)品之間的可替換性，還需要進(jìn)行兼容性（可互操作性）測(cè)試，包括單閱讀器對(duì)單標(biāo)簽、單閱讀器對(duì)多標(biāo)簽、多閱讀器對(duì)單標(biāo)簽、多閱讀器對(duì)多標(biāo)簽等不同場(chǎng)合測(cè)試。3．RFID系統(tǒng)協(xié)議一致性測(cè)試包括：RFID系統(tǒng)協(xié)議一致性測(cè)試主要是測(cè)試RFID系統(tǒng)是否符合ISO/IEC 18047系列標(biāo)準(zhǔn)定義的空中接口協(xié)議，測(cè)試內(nèi)容主要包括RFID標(biāo)簽與閱讀器的通信參數(shù)，如：工作頻率、工作場(chǎng)強(qiáng)、數(shù)據(jù)速率和編碼、調(diào)制參數(shù)、幀結(jié)構(gòu)、通訊時(shí)序等。RFID系統(tǒng)測(cè)試內(nèi)容主要包括以下四個(gè)方面：1．RFID系統(tǒng)功能測(cè)試包括：標(biāo)簽解調(diào)方式、返回時(shí)間、響應(yīng)時(shí)間、返回信息準(zhǔn)確率、信號(hào)返回速率等測(cè)試；閱讀器調(diào)制及調(diào)方式、信號(hào)返回時(shí)間、閱讀器指令等測(cè)試；RFID中間件系統(tǒng)功能測(cè)試和RFID應(yīng)用系統(tǒng)功能測(cè)試。典型的RFID系統(tǒng)測(cè)試一般分為功能測(cè)試、性能測(cè)試和一致性測(cè)試三個(gè)方面，隨著RFID技術(shù)在公共安全、交通管理、軍事應(yīng)用等領(lǐng)域中的應(yīng)用，對(duì)標(biāo)簽、RFID系統(tǒng)數(shù)據(jù)及網(wǎng)絡(luò)安全等方面也提出了要求，因此有必要進(jìn)行相關(guān)安全性測(cè)試。4．RFID系統(tǒng)動(dòng)態(tài)仿真測(cè)試技術(shù)RFID系統(tǒng)性能受環(huán)境影響嚴(yán)重，同時(shí)應(yīng)用場(chǎng)合的多樣性又需要多樣化的產(chǎn)品，如果采用現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試將大大增加產(chǎn)品成本及延長(zhǎng)產(chǎn)品研發(fā)周期，因此有必要構(gòu)建一個(gè)可以模擬不同應(yīng)用場(chǎng)景的開(kāi)放式RFID軟硬件產(chǎn)品綜合測(cè)試平臺(tái)，為RFID 技術(shù)研究及產(chǎn)品研發(fā)提供自動(dòng)化測(cè)試手段和技術(shù)保障，滿(mǎn)足不同的RFID測(cè)試需求及服務(wù)。標(biāo)簽測(cè)試面臨的最大問(wèn)題是多標(biāo)簽的碰撞問(wèn)題，按照協(xié)議方法測(cè)試需對(duì)每一個(gè)標(biāo)簽單獨(dú)進(jìn)行調(diào)諧，造成測(cè)試效率低，測(cè)試成本高。RFID系統(tǒng)性能測(cè)試主要包括：系統(tǒng)動(dòng)態(tài)性能（如傳送帶，分揀系統(tǒng)）、特殊環(huán)境（金屬，液體）下的系統(tǒng)性能、系統(tǒng)安全性、可靠性、魯棒性等。標(biāo)簽性能測(cè)試主要有：協(xié)議一致性、物理特性、讀取距離、讀取角度、動(dòng)態(tài)讀取率、可靠性、環(huán)境適應(yīng)性、安全性等。產(chǎn)品用戶(hù)主要關(guān)注RFID系統(tǒng)性能，并不關(guān)注RFID產(chǎn)品內(nèi)部狀況，同樣RFID測(cè)試也必須從功能測(cè)試向性能測(cè)試轉(zhuǎn)變。RFID系統(tǒng)性能測(cè)試需要測(cè)試瞬態(tài)信號(hào)的瞬態(tài)速度、瞬變規(guī)律及瞬態(tài)方式等參數(shù)，如：跳頻速率、脈沖寬度、頻率瞬變方式、幅度瞬變方式，信號(hào)調(diào)制方式、跳頻頻點(diǎn)、順序、頻點(diǎn)駐留時(shí)間、脈沖間隔、出現(xiàn)頻率等。隨著RFID技術(shù)的不斷發(fā)展，標(biāo)簽芯片更加小巧經(jīng)濟(jì)，標(biāo)簽與閱讀器之間的數(shù)據(jù)通信不斷加快，標(biāo)簽信息存儲(chǔ)量、系統(tǒng)防碰撞算法及讀取速率等性能得到很大提高，因此對(duì)RFID系統(tǒng)測(cè)試也提出了更高的要求，如標(biāo)簽與閱讀器之間的通信速率已達(dá)到微秒級(jí)，對(duì)測(cè)試設(shè)備完成實(shí)時(shí)通信、應(yīng)答以及決策的要求相應(yīng)也大大提高。目前的RFID系統(tǒng)測(cè)試主要集中在功能測(cè)試方面，但是隨著RFID技術(shù)的發(fā)展和推廣，新的應(yīng)用不斷帶來(lái)新的測(cè)試需求，測(cè)試技術(shù)也由功能測(cè)試向復(fù)雜的性能測(cè)試、芯片功能測(cè)試及通信安全性測(cè)試等方向發(fā)展，力求建立完整的RFID電磁學(xué)模型。 RFID系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)及內(nèi)容RFID系統(tǒng)測(cè)試是在模擬的RFID系統(tǒng)應(yīng)用環(huán)境中，通過(guò)一系列測(cè)試方法，建立開(kāi)放式的RFID軟硬件產(chǎn)品綜合測(cè)試平臺(tái)，制定RFID產(chǎn)品系列測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，形成RFID技術(shù)測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)化體系，對(duì)標(biāo)簽、閱讀器及RFID系統(tǒng)進(jìn)行性能測(cè)試和性能評(píng)估，給企業(yè)提供參考依據(jù)，為產(chǎn)品應(yīng)用提供可靠性保障，滿(mǎn)足RFID技術(shù)研究測(cè)試、應(yīng)用測(cè)試等公共服務(wù)需求。隨著RFID技術(shù)的發(fā)展及其應(yīng)用的推廣，對(duì)RFID相關(guān)測(cè)試也帶來(lái)新的要求和挑戰(zhàn)，RFID標(biāo)準(zhǔn)的多樣性及應(yīng)用的特殊性給RFID測(cè)試也帶來(lái)相當(dāng)?shù)睦щy，造成RFID測(cè)試技術(shù)發(fā)展的滯后。第2章 基于虛擬儀器技術(shù)的RFID測(cè)試系統(tǒng)隨著世界信息產(chǎn)業(yè)第三次浪潮“物聯(lián)網(wǎng)”時(shí)代的來(lái)臨，作為“物聯(lián)網(wǎng)”關(guān)鍵技術(shù)之一的RFID技術(shù)將在工業(yè)自動(dòng)化、物流、交通、商業(yè)等領(lǐng)域得到更加廣泛的應(yīng)用，成為一個(gè)新的經(jīng)濟(jì)增長(zhǎng)點(diǎn)。第5章介紹了實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)方法，并設(shè)計(jì)了一個(gè)RFID系統(tǒng)性能測(cè)試實(shí)驗(yàn)，利用統(tǒng)計(jì)分析方法給出了影響RFID系統(tǒng)性能的主要因素，介紹了模擬的RFID系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)環(huán)境，重點(diǎn)介紹了模擬RFID系統(tǒng)應(yīng)用環(huán)境硬件平臺(tái)和軟件架構(gòu)，并給出了具體的設(shè)計(jì)方案及軟件設(shè)計(jì)，最后將學(xué)習(xí)矢量量化神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)和遺傳算法引入標(biāo)簽的識(shí)別率預(yù)測(cè)，提出了一種改進(jìn)的GALVQ標(biāo)簽識(shí)別率預(yù)測(cè)方法，并給出了實(shí)驗(yàn)，驗(yàn)證了其有效性結(jié)論部分對(duì)全文進(jìn)行了總結(jié)，并對(duì)進(jìn)一步的研究工作進(jìn)行了展望。第4章分析了無(wú)源超高頻RFID系統(tǒng)閱讀器接收機(jī)有效吸收功率最大的最佳條件，討論阻抗失配對(duì)標(biāo)簽反向散射鏈路調(diào)制系數(shù)的影響，導(dǎo)出閱讀器接收機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化有效吸收功率、解調(diào)輸出信號(hào)信噪比（SNR）下邊界和接收端誤碼率（BER）的反向散射調(diào)制系數(shù)表示形式。第3章主要研究了無(wú)源超高頻反向散射RFID系統(tǒng)傳播特性，以無(wú)源超高頻反向散射RFID系統(tǒng)傳播模型為中心，研究了無(wú)源超高頻RFID系統(tǒng)△RCS及通信誤碼率。從RFID系統(tǒng)性能測(cè)試技術(shù)入手，按照測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求，給出了RFID系統(tǒng)性能測(cè)試的環(huán)境和內(nèi)容，并給出了一些具體的性能測(cè)試方法及測(cè)試實(shí)例。綜述了RFID技術(shù)及RFID系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)的國(guó)內(nèi)外發(fā)展及研究現(xiàn)狀，明確了本文研究的出發(fā)點(diǎn)和主要工作內(nèi)容。第1章介紹了RFID技術(shù)的研究背景，闡述了本研究課題的來(lái)源及現(xiàn)實(shí)意義。（4）分析了影響RFID系統(tǒng)標(biāo)簽識(shí)別率的因素的影響水平，設(shè)計(jì)了RFID系統(tǒng)標(biāo)簽識(shí)別率測(cè)試的實(shí)驗(yàn)方法和動(dòng)態(tài)仿真環(huán)境，并提出了一種結(jié)合學(xué)習(xí)矢量量化神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)和遺傳算法的RFID標(biāo)簽識(shí)別率的預(yù)測(cè)方法。（2）分析了無(wú)源超高頻RFID系統(tǒng)標(biāo)簽RCS和△RCS，提出了基于△RCS的標(biāo)簽通信誤碼率表現(xiàn)形式，并利用研發(fā)的RFID系統(tǒng)測(cè)試平臺(tái)，對(duì)不同參數(shù)設(shè)置情況下的標(biāo)簽△RCS和通信BER進(jìn)行了測(cè)量和分析。目前研究RFID系統(tǒng)性能指標(biāo)中的識(shí)別距離的文獻(xiàn)較多，而研究標(biāo)簽識(shí)別率的文獻(xiàn)很少，且標(biāo)簽識(shí)別率的測(cè)試主要通過(guò)大量的反復(fù)實(shí)驗(yàn)得出，測(cè)試效率低而且相應(yīng)的測(cè)試成本高，同時(shí)對(duì)RFID系統(tǒng)標(biāo)簽識(shí)別率預(yù)測(cè)方面的研究極少，文獻(xiàn)[2526]利用反向?qū)W習(xí)算法對(duì)標(biāo)簽識(shí)別率進(jìn)行了預(yù)測(cè)，但其實(shí)驗(yàn)環(huán)境為現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，成本高且實(shí)驗(yàn)周期長(zhǎng)。但是標(biāo)簽反射系數(shù)的測(cè)量需要網(wǎng)絡(luò)分析儀、探針和平衡非平衡轉(zhuǎn)換器等器件，BER的測(cè)量需要專(zhuān)用誤碼測(cè)試儀，而為了減少噪聲影響及測(cè)量誤差，需要測(cè)試多種負(fù)載情況下的反射系數(shù)，利用其最小平均方差來(lái)擬合曲線(xiàn)，測(cè)試成本高且測(cè)試效率低。Curty等從功率傳輸和通信質(zhì)量?jī)煞矫嬗懻摿藰?biāo)簽的反向散射架構(gòu)形式，分析了工作周期和信號(hào)每比特能量對(duì)誤碼率(Bit Error Rate, BER)的影響，并著重比較了ASK和PSK兩種調(diào)制方式的性能差異[24]。這些針對(duì)RFID系統(tǒng)性能的研究，主要考慮前向鏈路中標(biāo)簽吸收功率的影響，并未考慮標(biāo)簽反向散射調(diào)制信號(hào)質(zhì)量對(duì)標(biāo)簽識(shí)別的影響。對(duì)RFID系統(tǒng)通信誤碼率(Bit Error Rate, BER)的研究，主要集中在編解碼方法、調(diào)制解調(diào)電路和噪聲以及閱讀器側(cè)性能對(duì)BER的影響，沒(méi)有考慮標(biāo)簽側(cè)阻抗變化對(duì)反向散射鏈路BER的影響，同時(shí)BER的測(cè)試需要專(zhuān)門(mén)的誤碼測(cè)試儀[2123]。目前，國(guó)內(nèi)外對(duì)無(wú)源RFID系統(tǒng)研究的文獻(xiàn)很多，主要研究集中于對(duì)標(biāo)簽和閱讀器的具體電路設(shè)計(jì)、識(shí)別距離及通信誤碼率方面，相對(duì)對(duì)整個(gè)RFID系統(tǒng)性能方面的研究較少[1420]。無(wú)源超高頻RFID系統(tǒng)的性能（不考慮閱讀器側(cè)性能影響）主要取決于標(biāo)簽反向散射信號(hào)的強(qiáng)弱以及信號(hào)質(zhì)量，前者主要決定標(biāo)簽的識(shí)別距離，后者主要決定反向散射信號(hào)解碼的質(zhì)量。無(wú)源超高頻RFID系統(tǒng)具有成本低、識(shí)別距離遠(yuǎn)和存儲(chǔ)信息量大等優(yōu)點(diǎn)，其應(yīng)用更為廣泛，因此本文主要針對(duì)無(wú)源超高頻RFID系統(tǒng)進(jìn)行研究。但這兩種方案均無(wú)考慮超高頻RFID系統(tǒng)的標(biāo)簽與閱讀器之間的實(shí)時(shí)“握手”，需要額外添加設(shè)備。泰克公司提供了基于任意信號(hào)發(fā)生器和實(shí)時(shí)頻譜分析儀及相應(yīng)RFID測(cè)試軟件的系統(tǒng)測(cè)試解決方案，克服了傳統(tǒng)頻譜分析儀的局限性，具備對(duì)瞬時(shí)信號(hào)的局部?jī)?yōu)化能力，可以觸發(fā)復(fù)雜頻譜環(huán)境下的特定頻譜事件。隨著RFID技術(shù)的發(fā)展和推廣，新的應(yīng)用帶來(lái)新的測(cè)試需求，傳統(tǒng)測(cè)試儀器對(duì)RFID系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試均存在一些缺點(diǎn)，如：掃頻調(diào)諧頻譜分析儀難以準(zhǔn)確捕獲和刻畫(huà)瞬時(shí)射頻信號(hào)，矢量信號(hào)分析儀不支持頻譜效率低的RFID調(diào)制技術(shù)及特殊解碼要求，快速示波器測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍小，不具備調(diào)制和解碼功能。目前，RFID產(chǎn)品測(cè)試遵循的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)主要有ISO18046系列、ISO18047系列。RFID系統(tǒng)測(cè)試內(nèi)容主要包括突出RFID系統(tǒng)測(cè)試方法，建立開(kāi)放式的RFID軟硬件產(chǎn)品綜合測(cè)試平臺(tái)，制定RFID產(chǎn)品系列測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，形成RFID技術(shù)測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)化體系。針對(duì)國(guó)內(nèi)外RFID系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)研究熱點(diǎn)，全面系統(tǒng)地介紹了RFID系統(tǒng)性能測(cè)試技術(shù)及方法，并提出了基于虛擬儀器技術(shù)的RFID系統(tǒng)性能分析和測(cè)試方法，期望為RFID產(chǎn)品的研發(fā)、設(shè)計(jì)與應(yīng)用提供理論依據(jù)、技術(shù)支持和技術(shù)服務(wù)