【正文】 目錄1 CT1000功能概述 1 主要功能及特點(diǎn) 1 主要技術(shù)參數(shù) 1 儀器外觀說(shuō)明 1 顯示屏顯示區(qū)域說(shuō)明 52 儀器基本功能與操作 5 儀器開(kāi)機(jī)和關(guān)機(jī) 5 儀器功能概述 63 系統(tǒng)模式操作 7 系統(tǒng)顯示 7 系統(tǒng)管理 8 系統(tǒng)設(shè)置 8 數(shù)據(jù)管理 9 系統(tǒng)復(fù)位 104 手持功能初級(jí)使用 10 手持模式基本調(diào)整 10 頻道切換操作 11 屏幕鎖定 11 全屏/菜單功能切換 11 存儲(chǔ)操作 11 回放操作 125 手持模式高級(jí)使用 13 參數(shù)設(shè)置 13 B顯功能 14 測(cè)量標(biāo)定 17 DAC/AVG曲線制作與應(yīng)用 216 矩陣功能操作 23 增益調(diào)整 24 抑制調(diào)整 24 掃查方式 24 報(bào)警狀態(tài) 24 測(cè)量線寬度 25 增益補(bǔ)償 25 雙矩陣B型顯示 25 操作實(shí)例 267 儀器充電與充電器使用 27 電池充電 27 儀器供電 288 儀器維護(hù)及維修 28 操作注意事項(xiàng) 28 儀器維護(hù) 28 常見(jiàn)故障處理 28地址：河北省邢臺(tái)市邢州南路五里鋪C座5樓電話：03193160009傳真：03193189588郵編：054001CT1000型超 聲 波 探 傷 儀使用說(shuō)明書邢臺(tái)超拓科技開(kāi)發(fā)有限公司出品33。⑷ 如長(zhǎng)時(shí)間使用后，儀器時(shí)鐘顯示錯(cuò)誤，需更換內(nèi)部紐扣電池，然后再調(diào)整時(shí)間。⑶ 儀器開(kāi)機(jī)后，若只顯示開(kāi)機(jī)界面、或顯示紊亂、或工作不正常，要對(duì)儀器進(jìn)行復(fù)位操作，使儀器參數(shù)回到出廠設(shè)置狀態(tài)。⑴ 儀器打不開(kāi)機(jī)或開(kāi)機(jī)后很快自動(dòng)關(guān)機(jī)，首先檢查電池電壓是否正常，電池空載電壓應(yīng)在20V以上，如低于此值，應(yīng)充電后再用。⑸ 儀器使用完畢，應(yīng)將外部清潔干凈。較長(zhǎng)時(shí)間不用時(shí)，應(yīng)將儀器電池取出。⑵ 儀器應(yīng)避免雨水及機(jī)油滲入內(nèi)部，避免跌落或強(qiáng)烈振動(dòng)，存放于干燥地方。⑶ 轉(zhuǎn)動(dòng)儀器支撐角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)時(shí)，不要用力過(guò)猛，并要旋轉(zhuǎn)到位。8　 儀器維護(hù)及維修　 操作注意事項(xiàng)⑴ 不要將電池短路?！?儀器供電本儀器用電池供電，電池電量將盡時(shí)，可以接上充電器，繼續(xù)探傷工作。7　 儀器充電與充電器使用本儀器隨機(jī)提供一套充電器及電池，充電器輸入電壓AC220V，輸出電壓DC24～26V，輸出電流1A，電池容量2200mAh，充電器既可在關(guān)機(jī)狀態(tài)下充電，也可以在開(kāi)機(jī)時(shí)充電（開(kāi)機(jī)時(shí)因?yàn)橛邢模錆M電需要更長(zhǎng)時(shí)間）。按【選1】～【選5】鍵選擇所需的其它操作。圖68通過(guò)【上調(diào)】鍵或【下調(diào)】鍵選擇所需文件，再按【回放】鍵，回放開(kāi)始，回放完成后，顯示屏下部顯示：“按‘回放’鍵返回，按‘存貯’鍵調(diào)入”。調(diào)整完畢，再按【存儲(chǔ)】鍵 ，存儲(chǔ)開(kāi)始，同時(shí)顯示屏下部顯示“存儲(chǔ)進(jìn)度”，自動(dòng)完成存儲(chǔ)，返回矩陣模式工作界面。通過(guò)【選1】～【選5】鍵選擇所需調(diào)整的項(xiàng)（被調(diào)整項(xiàng)右側(cè)有“”符號(hào)時(shí)，重復(fù)按此子菜單鍵，仍有其它項(xiàng)供調(diào)整。⑸探頭固定不動(dòng)，改變“發(fā)收”狀態(tài)，各收發(fā)方式都應(yīng)有回波顯示。⑶探頭接入儀器收發(fā)插座，加耦合劑置于試塊軌底兩側(cè)面，見(jiàn)圖66。1 發(fā)射探頭，1~6表示晶片號(hào)2 A型回波顯示區(qū)3 B型圖像顯示區(qū)，綠色線條表示發(fā)現(xiàn)傷損的超聲波所走的路線4 傷損顯示（紅色短線）5發(fā)射晶片，測(cè)量線內(nèi)的回波由反顯晶片發(fā)射6接收晶片，測(cè)量線內(nèi)的回波由反顯晶片接收7 接收探頭，1~6表示晶片6151圖652113214171　 操作實(shí)例 以雙矩陣探頭探測(cè)GHT1雙探頭試塊a面軌底5～8孔為例：⑴按【矩陣】鍵，進(jìn)入矩陣CH1探傷模式，見(jiàn)圖61。圖65中，A型回波顯示區(qū)的紅色回波是由6號(hào)發(fā)射晶片完成的單收發(fā)，綠色回波表示雙收發(fā)回波?！?增益補(bǔ)償按子菜單翻頁(yè)鍵【選4】鍵－【上調(diào)】鍵或【下調(diào)】鍵，調(diào)整選中“發(fā)收”狀態(tài)（配合3子菜單鍵先選擇再進(jìn)行調(diào)整）的增益補(bǔ)償數(shù)值，調(diào)整范圍0～12dB。圖63圖64　 測(cè)量線寬度按【選5】鍵－【上調(diào)】鍵或【下調(diào)】鍵，測(cè)量線相應(yīng)的加寬或減窄。手動(dòng)方式時(shí)“發(fā)收”狀態(tài)反顯，此時(shí)按【上調(diào)】子菜單鍵或【下調(diào)】子菜單鍵選擇所需要的“發(fā)收”狀態(tài)?！?抑制調(diào)整。矩陣CH2用于單探頭矩陣探頭組合一發(fā)多收掃查探傷。矩陣CH1用于雙矩陣探頭的軌底K型掃查探傷。注：當(dāng)制作有多條曲線時(shí)，可以在“手持”界面按【存儲(chǔ)】鍵，將其存入儀器內(nèi)，使用時(shí)根據(jù)實(shí)際需要隨時(shí)調(diào)用。⑾按【CH4】鍵，退出AVG制作，并自動(dòng)將AVG曲線存儲(chǔ)在所用頻道。⑽將直探頭接與發(fā)射探頭接口、放置在CS15試塊上，移動(dòng)探頭尋找底面最高回波，按測(cè)量線左右位移鍵，使測(cè)量線到最高波位置，調(diào)整增益使最高波高于測(cè)量線且低于滿幅，按【選5】鍵，選擇曲線點(diǎn)設(shè)置，按【存儲(chǔ)】鍵，自動(dòng)顯示出AVG曲線，完成制作。⑻探頭頻率，符合實(shí)際參數(shù)，不用再調(diào)整。⑹按【選5】，選擇評(píng)定線，通過(guò)【上調(diào)】鍵和【下調(diào)】鍵調(diào)整評(píng)定線參數(shù)。⑷按【選3】，選擇報(bào)廢線，通過(guò)【上調(diào)】鍵和【下調(diào)】鍵調(diào)整報(bào)廢線參數(shù)。⑵按【功能】菜單鍵 (按3次)，進(jìn)入AVG界面，見(jiàn)圖518。同樣，在在制作AVG曲線前，需對(duì)探頭零點(diǎn)和延時(shí)進(jìn)行標(biāo)定，并將聲程調(diào)到合適位置（使所測(cè)底波顯示在顯示屏之內(nèi)）；制作過(guò)程中，儀器增益調(diào)節(jié)鍵和測(cè)量線左右位移鍵仍能使用，所選底波必須位于測(cè)量線內(nèi)且高于測(cè)量線。探頭檢測(cè)通道，在此通道不僅可以設(shè)置DAC曲線，也可以設(shè)置AVG曲線，通過(guò)“曲線類型”子菜單選擇。⑿關(guān)閉DAC曲線時(shí)，在圖517界面按【選2】，選擇曲線顯示，按【上調(diào)】子菜單鍵或【下調(diào)】子菜單鍵，將當(dāng)前狀態(tài)設(shè)為“關(guān)”，DAC曲線消失。⑽在制作過(guò)程中，按【回放】功能鍵，刪除最后一個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)，重復(fù)按【回放】，依次向前刪除。⑼重復(fù)步驟⑺，依次制作20mm、30mm、40mm……，完成DAC曲線的制作。⑺探頭頻率和橫通孔，符合實(shí)際參數(shù)，不用再調(diào)整。⑸按【選5】，選擇評(píng)定線，通過(guò)【上調(diào)】子菜單鍵和【下調(diào)】子菜單鍵調(diào)整評(píng)定線參數(shù)。⑶按【選3】，選擇報(bào)廢線，通過(guò)【上調(diào)】子菜單鍵和【下調(diào)】子菜單鍵調(diào)整報(bào)廢線參數(shù)。操作步驟：（以CH1頻道、探測(cè)WGT3試塊為例）⑴按【CH1】【功能】菜單鍵 (按3次)，進(jìn)入DAC界面，見(jiàn)圖517。按【選5】鍵選擇“曲線點(diǎn)設(shè)置”欄，測(cè)量線套住測(cè)量點(diǎn)的回波，按【存儲(chǔ)】功能鍵，該測(cè)量點(diǎn)設(shè)置完成。橫通孔/平底孔：通過(guò)按【選4】鍵循環(huán)顯示橫通孔和平底孔，選定孔形后，再通過(guò)子菜單調(diào)整鍵調(diào)整孔徑，調(diào)整范圍φ1～?！?手持DAC2晶片尺寸:分為圓晶片和長(zhǎng)方形晶片，圓形晶片表示為ΦXX,長(zhǎng)方形晶片表示為X*X,通過(guò)按【選2】鍵循環(huán)顯示,選定晶片形狀后，再通過(guò)子菜單調(diào)整鍵調(diào)整選擇晶片尺寸。定量線: ～+,。曲線顯示：分為開(kāi)和關(guān)兩種，根據(jù)用戶需要調(diào)整。圖518 通過(guò)【選1】～【選5】子菜單鍵選擇所需調(diào)整的項(xiàng)，通過(guò)【上調(diào)】子菜單鍵和【下調(diào)】子菜單鍵調(diào)整當(dāng)前數(shù)值。此儀器AVG曲線功能只適用于直探頭，且只適用于三倍近場(chǎng)區(qū)之外。AVG曲線是描述規(guī)則反射體的距離波幅當(dāng)量大小（在相同的探測(cè)條件下，當(dāng)自然缺陷與某形狀規(guī)則的人工缺陷回波等高時(shí)，則該人工缺陷的尺寸就為此自然缺陷的當(dāng)量尺寸。（注：如果標(biāo)定不成功，則顯示屏下部提示條顯示“請(qǐng)確認(rèn)基準(zhǔn)波1”，表示此時(shí)測(cè)量線內(nèi)的回波位置不正確，超出了K0～，故無(wú)法顯示）圖517　 DAC/AVG曲線制作與應(yīng)用DAC曲線即距離波幅曲線，是描述某一特定規(guī)則反射體的回波高度隨距離變化的曲線，在斜探頭探傷時(shí)，常利用DAC曲線來(lái)對(duì)缺陷定量和評(píng)價(jià)。⑴、按子菜單翻頁(yè)鍵，進(jìn)入“手持標(biāo)定2” 菜單；⑵按【選2】子菜單，根據(jù)探頭標(biāo)稱K值，調(diào)整試塊為A面或B面；⑶將探頭對(duì)準(zhǔn)試塊φ50孔，調(diào)整儀器增益，使孔波有合適高度，探頭聲束軸線保持與試塊側(cè)面平行，前后移動(dòng)探頭，使回波最高，保持探頭不動(dòng)；圖516見(jiàn)圖516；⑷調(diào)整測(cè)量線位移，使測(cè)量線到孔波位置；⑸選擇【選3】，按【存儲(chǔ)】鍵，顯示屏下部提示條顯示“執(zhí)行成功！”，【選3】子菜單處出現(xiàn)探頭角度值，探頭K值標(biāo)