培訓(xùn)資料電鏡ppt課件(2)(參考版)
2025-01-13 17:36本頁面
【正文】 5．電子探針的點分析、線分析和面分析的應(yīng)用 本章要求 。 3．掌握二次電子像、背散射電子像的像襯原理、特點、分析方法及應(yīng)用；了解其它電子像的像襯原理、特點、分析方法及應(yīng)用。 鎂合金中的析出相 Mg2Si的鑒別 Si的元素面分布圖，可以清晰地看到 Mg2Si所在的位置 43 ZrO2(Y2O3)陶瓷析出相與基體的 定點分析 Y2O3mol% 析出相（ t相） Y2O3含量低 基體 (c相 )Y2O3含量高 與相圖相符 44 在晶界上有 O的偏聚 BaF2晶界的 線掃描分析 (a)形貌像及 掃描線位置 (b)O及 Ba元素在掃描線位置上的分布 45 Bi在晶界上有嚴(yán)重偏聚 ZnOBi2O3陶瓷燒結(jié)表面的 面分布成分分析 (a)形貌像 (b)Bi元素的 X射線面分布像 46 Preparation of nanotubeshaped TiO2 powder XRD， TEM， ED， SEM的應(yīng)用實例 47 TiO2隨溫度的相變 anatase銳鈦礦 rutile金紅石 48 100℃ 消解 12小時 銳鈦礦 —— 納米管 金紅石 —— 不形成納米管 49 納米管的形成與溫度的關(guān)系 未消解 100 ℃ 150 ℃ 200 ℃ 50 選區(qū)電子衍射 SAD 1．理解掃描電子顯微鏡的工作原理、結(jié)構(gòu)與組成，掌握表征儀器性能的主要技術(shù)指標(biāo)。 改變位置可得到另一元素的濃度分布情況。 改變位置可得到另一元素的濃度分布情況。 缺點 ： （ 1） X射線信號的利用率極低； （ 2）靈敏度低，難以在低束流和低激發(fā)強度下使用； （ 3）分析速度慢，不適合定性分析； 39 能譜議和波譜儀的譜線比較 能譜曲線 波譜曲線 40 三、電子探針分析的基本工作方式 ? 定點分析 ：將電子束固定在要分析的微區(qū)上，用波譜儀分析時，改變分光晶體和探測器的位置，即可得到分析點的X射線譜線；用能譜儀分析時，幾分鐘內(nèi)即可直接從熒光屏（或計算機）上得到微區(qū)內(nèi)全部元素的譜線。通過連續(xù)地改變 θ，就可以在與 X射線入射方向呈 2 θ的位置上測到不同波長的特征 X射線信號。 36 二、波譜儀 ? 組成：波譜儀主要由分光晶體和 X射線檢測系統(tǒng)組成。 Si(Li)探頭必須始終保持在液氦冷卻的低溫狀態(tài)。能譜儀的能量分辨率 (130eV)比波譜儀的能量分辨率 (5eV)低。 (3)譜線重復(fù)性好 適合于表面比較粗糙的分析工作。 35 Si(Li)能譜儀的特點 優(yōu)點： (1)定性分析速度快 可在幾分鐘內(nèi)分析和確定樣品中含有的幾乎所有元素。 33 一、能譜儀 ? 目前最常用的是 Si(Li)X射線能譜儀，其關(guān)鍵部件是Si(Li)檢測器，即 鋰漂移硅固態(tài)檢測器 ，它實際上是一個以 Li為施主雜質(zhì)的 nip型二極管。 電子探針結(jié)構(gòu)示意圖 X射線譜儀是電子探針的信號檢測系統(tǒng)，分為： ? 能量分散譜儀（ EDS），簡稱能譜儀，用來測定 X射線特征能量。 ? 原理：用細(xì)聚焦電子束入射樣品表面，激發(fā)出樣品元素的特征 X射線，分析特征 X射線的波長（或能量）可知元素種類；分析特征 X射線的強度可知元素的含量。
環(huán)評公示相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1