【正文】 9 參考文獻(xiàn)[1] 楊清德，[M].北京：:58[2] 賀衛(wèi)利，郭偉玲，高偉，［J］.應(yīng)用光學(xué)，2008，29(4):533.[3] 饒亮，傅志中，于英俊， 的LED 壽命檢測系統(tǒng)［J］.儀表技術(shù)，2009(5):12.[4] Shinya Ishizaki. 大功率白光LED 的壽命測定［J］.中國照明電器,2008[5] [M ] .北京:機(jī)械工業(yè)出版社, 2008: [6] 雷勇，范廣涵， [J]. 光電子現(xiàn)在想來，也許學(xué)校安排的課程設(shè)計(jì)有著它更深層的意義吧，它不僅僅讓我們綜合那些理論知識來運(yùn)用到設(shè)計(jì)和創(chuàng)新，還讓我們知道了一個團(tuán)隊(duì)凝聚在一起時所能發(fā)揮出的巨大潛能!三個星期前我們?nèi)齻€人還在為到底選那個課題而發(fā)生分歧，最后還是在老師的耐心分析和指導(dǎo)下完成了課題的選定，但是隨之而來的問題卻遠(yuǎn)比我們想想的要困難的多過沒想到這項(xiàng)看起來不需要多少技術(shù)的工作卻是非常需要耐心和精力在三個星期后的今天我已明白課程設(shè)計(jì)對我來說的意義,它不僅僅是讓我們把所學(xué)的理論知識與實(shí)踐相結(jié)合起來，提高自己的實(shí)際動手能力和獨(dú)立思考的能力，更重要的是同學(xué)間的團(tuán)結(jié)，雖然我們這次花去的時間比別人多，但我相信我們得到的也會更多!因此此次設(shè)計(jì)，我體會到的更多的是團(tuán)隊(duì)的力量，完完整整設(shè)計(jì)一樣?xùn)|西出來，沒有隊(duì)友的幫助，單單靠一人是難以完成的，甚至都是不能完成的，而對于這次設(shè)計(jì)，依然是存在問題的，設(shè)計(jì)出來的東西不美觀，以及焊接中出現(xiàn)了虛焊等問題，在系統(tǒng)調(diào)試方面，對于光通量的測量是較為不準(zhǔn)確的，說明在操作以及設(shè)計(jì)方面還是有很大缺陷的，在今后的設(shè)計(jì)中一定要注意這些問題。本論文通過文獻(xiàn)調(diào)研，已經(jīng)分析出發(fā)光壽命與LED結(jié)溫、熱阻的關(guān)系，光衰與溫度、濕度等環(huán)境因素之間的關(guān)系。用威布爾分布和對數(shù)正態(tài)分布圖估法進(jìn)行檢驗(yàn)和驗(yàn)證，在加速模型、失效模式等方面未發(fā)現(xiàn)有異常。最后，由于LED 結(jié)溫高低直接影響到LED 出光效率、器件壽命、可靠性、發(fā)射波長等，因此對結(jié)溫、熱阻等熱學(xué)參數(shù)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的測試是非常必要的目前主要的測試方法有紅外熱像儀法、電學(xué)參數(shù)法、光譜法等。7 結(jié)論傳統(tǒng)的LED壽命測試時直接測量其光強(qiáng)來獲取LED壽命，這種方法不僅實(shí)驗(yàn)長，而且通常受到外界干擾影響實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)確性。（當(dāng)m＜1時為早期失效；m＝1為偶然失效工作期，此時失效率接近于常數(shù)，此時樣品的壽命分布為指數(shù)分布）m＞1為磨損失效期，（本案例m=）。通過公式（67）求出激活能Ea （67）式中：Tj,(i1)、Tj,i為不同試驗(yàn)環(huán)境溫度下的結(jié)溫。試驗(yàn)過程中由于非產(chǎn)品本身原因所造成的失效不應(yīng)計(jì)入失效數(shù)內(nèi)。若光功率的初始值一直下降，－1所示，則加速壽命為Lc,i＝T，則可直接用退化系數(shù)外推求得。對于以光通量衰減作為單一失效判據(jù)，通過光通量衰減系數(shù)計(jì)算某一產(chǎn)品的試驗(yàn)截止時間和某一結(jié)溫下的工作壽命（簡稱退化系數(shù)外推解析法），按不同應(yīng)用要求，取光通量衰減到初始值的50％或70％作為失效判據(jù)。測試間隔時間的長短與施加應(yīng)力的大小有關(guān)，施加應(yīng)力小，則測試間隔長；施加應(yīng)力大，則測試間隔短。試驗(yàn)中應(yīng)測量的主要參數(shù)為光通量（或光功率）、色溫（色坐標(biāo)），其它參數(shù)為熱阻、正向電壓、色容差等。采用科學(xué)的試驗(yàn)線路和連接方式，使壽命試驗(yàn)臺不但操作簡便、安全，而且試驗(yàn)容量大。ADuC848具有串行下載和調(diào)度模式，可通過EA引腳提供引腳競爭模式，同時支持Quick該芯片的兩個獨(dú)立的ADC（主ADC和輔助ADC）由一個輸入多路復(fù)用器，一個溫度傳感器和一個可直接測量低幅度信號的可編程增益放大器PGA組成。在硬件調(diào)試方面，以使之運(yùn)行于32kHz外部晶振。我們認(rèn)為壽命試驗(yàn)的LED，以恒流驅(qū)動和串聯(lián)連接的工作方式為佳。并聯(lián)連接形式：即將多個LED的正極與正極、負(fù)極與負(fù)極并聯(lián)連接，其特點(diǎn)是每個LED的工作電壓一樣，總電流為ΣIFn，為了實(shí)現(xiàn)每個LED的工作電流If一致，要求每個LED的正向電壓也要一致。設(shè)計(jì)平臺軟硬件配置要求： ntium II 233MHZ內(nèi)存－32M硬盤－300M顯示器－SVGA，15〃顯示分辯率－800600。是在桌面環(huán)境下第一個以獨(dú)特的設(shè)計(jì)管理和團(tuán)隊(duì)合作技術(shù)為核心的全方位的印制板設(shè)計(jì)系統(tǒng)。Protel555定時器成本低，性能可靠，只需要外接幾個電阻、電容，就可以實(shí)現(xiàn)多諧振蕩器、單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器及施密特觸發(fā)器等脈沖產(chǎn)生與變換電路。工作，7555可在3~18V工作，輸出驅(qū)動電流約為200mA，因而其輸出可與TTL、CMOS或者模擬電路電平兼容。時，C1輸出為低電平，C2輸出為高電平，即=0，=1，基本RS觸發(fā)器被置0，晶體管T導(dǎo)通，輸出端u0為低電平。當(dāng)=0時，基本RS觸發(fā)器被置0，晶體管T導(dǎo)通，輸出端u0為低電平。分壓器為兩個電壓比較器CC2提供參考電壓。此外，還可以組成脈沖振蕩、單穩(wěn)、雙穩(wěn)和脈沖調(diào)制電路，用于交流信號源、電源變換、頻率變換、脈沖調(diào)制等。ADuC848具有串行下載和調(diào)度模式，可通過EA引腳提供引腳競爭模式，同時支持Quick該芯片的兩個獨(dú)立的ADC（主ADC和輔助ADC）由一個輸入多路復(fù)用器，一個溫度傳感器和一個可直接測量低幅度信號的可編程增益放大器PGA組成。，以使之運(yùn)行于32kHz外部晶振。該芯片的數(shù)據(jù)處理速度達(dá)12MIPS，且設(shè)計(jì)簡單，噪聲低，非常適用于精密儀器儀表。ADM3251E完全符合EIA/，并且數(shù)據(jù)傳輸速度達(dá)到460Kbps。iCoupler磁隔離技術(shù)是ADI公司的一項(xiàng)專利隔離技術(shù)，是一種基于芯片尺寸的變壓器隔離技術(shù)，它采用了高速CMOS工藝和芯片級的變壓器技術(shù)。 ADM3251EADM3251E是ADI（Analogdevice,inc）公司推出基于其專利iCoupler和isoPower磁隔離技術(shù)的RS232隔離器。在實(shí)際應(yīng)用中，常常會設(shè)計(jì)到電參數(shù)的測量。響應(yīng)時間是指輸入正向電流后LED開始發(fā)光(上升)和熄滅(下降)的時間。曲線是由1MHz交流信號用C—U特性測試儀測得。當(dāng)反向偏壓增加到使UUR時IR將突然增加而出現(xiàn)擊穿現(xiàn)象。因?yàn)長ED的光輸出與LED電流相關(guān)，所以在LED應(yīng)用中應(yīng)控制輸入電壓和環(huán)境溫度等因素的變化，否則LED的光輸出將隨輸入電壓和環(huán)境溫度等因素的變化而變化。在環(huán)境溫度升高時，將下降。 正向工作區(qū)：工作電流IF與外加電壓呈指數(shù)關(guān)系： (31)式中為反向飽和電流。1．IU特性是表征LED芯片PN結(jié)性能的主要參數(shù)。5．導(dǎo)通時間ton。反向漏電流是處于反偏置時的漏電流。一般指在一定的正向工作電流條件下的正向壓降。由于正向工作電壓的變化不大，所以正向工作電流變化時，一方面會引起耗散功率的變化，另一方面會引起我們最關(guān)心的發(fā)光強(qiáng)度的變化。 積分球法測LED光通量積分球的基本工作原理：光線由輸入孔入射后，光線在球內(nèi)部被均勻的反射及漫射，在球面上形成均勻的光強(qiáng)分布，因此輸出孔所得到的光線為非常均勻的漫射光束。系數(shù)K可以通過測量兩組不同的參考溫度和電壓得到K = (V1 V0 ) / ( T1 T0 ) ,也可以通過測量多組參考溫度和電壓作線性擬合得到。在恒定電流 ( 20 mA ) 改變環(huán)境溫度 ( 35 ～ 100 ℃ ) 測量的情況下,可以測得初始電壓與初始結(jié)溫符合很強(qiáng)的線性關(guān)系。熱電阻被焊接在LED的陽極管腳上, 它的電阻值由萬用 ( 4 ) ( VC 9802 A )來測量。因此, 我們假定其熱阻為 100 ℃/W。因此, 我們證實(shí)用兩種方法測得的數(shù)據(jù)可靠、準(zhǔn)確。這說明 Tj 的測量與是否去除了硅樹脂無關(guān)。因此我們用平均值作為最終測量結(jié)果。 熱阻測量裝置可以對結(jié)溫 Tj 進(jìn)行了常規(guī)測量。LED 模塊安裝在銅基電路板上。工作條件中的兩個重要因素是驅(qū)動電流和結(jié)溫 Tj 。采用此方法將會大大地縮短LED壽命的測試時間，有利于及時改進(jìn)、提高LED可靠性。采用此方法將會大大地縮短LED壽命的測試時間，有利于及時改進(jìn)、提高LED可靠性。燈具壽命和光源壽命不能混為一談：長期壽命測試方案一敘述：為了確認(rèn)LED燈具壽命是否達(dá)到5 10萬小時，需要進(jìn)行長期壽命試驗(yàn)，目前的做法基本上形成如下共識：因 GaN基的LED器件開始的輸出光功率不穩(wěn)定，所以按美國 ASSIST聯(lián)盟規(guī)定，需要電老化1000小時后，測得的光