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正文內(nèi)容

ct-1000型超聲波探傷儀使用說明書-wenkub.com

2025-03-20 12:57 本頁面
   

【正文】 更換后注意將后蓋螺絲緊固好。⑵儀器無回波時,檢查探頭、連接線是否有問題或連接插座是否接觸不良。⑷ 使用中注意保護顯示屏,避免磕碰和硬物刻劃?!?儀器維護⑴ 本儀器為精密電子儀器,在日常使用中應(yīng)妥加維護,使儀器保持良好工作狀態(tài)。接充電器時,最好先關(guān)閉儀器,待充電器接好后,再開機。⑻導(dǎo)出操作:在回放界面,選擇需要導(dǎo)出的文件,按【選3】子菜單,顯示屏下部提示“請插入U盤,按‘存儲’,確認執(zhí)行!”依照提示操作后,儀器顯示“文件導(dǎo)出成功!”,如未插入U盤或U盤損壞,提示:“請確認U盤正確插入?。?!”,5秒后仍無U盤插入,則顯示“文件導(dǎo)出失敗”,如有U盤插入,則導(dǎo)出開始,導(dǎo)出完成后顯示“文件導(dǎo)出成功”,此時可以拔出U盤。圖67 ⑺回放操作:按【回放】,顯示屏顯示已存儲的文件、相關(guān)參數(shù)及文件操作菜單,見圖68。⑹存儲操作:按【存儲】功能鍵,儀器進入“矩陣存儲 1/2” 界面,按【翻頁】鍵進入“矩陣存儲 2/2”,見圖67,顯示屏左下角顯示存儲文件編號。 ⑵按【選2】鍵,進入“抑制”子菜單,用子菜單調(diào)整鍵調(diào)整抑制度,如15%?!?雙矩陣B型顯示在雙矩陣探傷模式下,按【功能】鍵,進入雙矩陣B型顯示,見圖65,矩陣B顯為多發(fā)多收模式,即每一個晶片發(fā)射的超聲波,根據(jù)傷損位置的不同,1~5號晶片都可以接收并在顯示屏上顯示出來?!?報警狀態(tài)按【選4】子菜單鍵-【上調(diào)】子菜單鍵或【下調(diào)】子菜單鍵,調(diào)整當前報警狀態(tài),分為“開”和“關(guān)”,開、關(guān)是針對蜂鳴器而言的,報警指示燈始終為“開”。  增益調(diào)整。6  矩陣功能操作按兩次【矩陣】鍵進入“矩陣CH1 1/2”操作界面,見圖61;再按【翻頁】鍵,進入“矩陣CH1 2/2”界面,見圖62。如果所作曲線不理想,按【回放】鍵刪除,重新制作。⑺按子菜單翻頁鍵【選2】,選擇晶片尺寸,見圖519,通過【上調(diào)】鍵和【下調(diào)】鍵調(diào)整晶片尺寸到實際值,如φ20。 圖519⑶按【選2】,選擇曲線顯示,通過【上調(diào)】鍵或【下調(diào)】鍵將曲線顯示調(diào)整為“開”。AVG曲線的制作原理是根據(jù)試塊底面的回波來計算要檢測出的傷損當量和距離的關(guān)系曲線。⑾按【CH1】,退出DAC制作,并自動將DAC曲線存儲在所用頻道。⑻將探頭接與發(fā)射探頭接口、放置在WGT3試塊上,對準第一個基準孔(深10mm),移動探頭尋找最高波,按測量線左右位移鍵,使測量線到最高波位置,調(diào)整增益使最高波高于測量線且低于滿幅,按【選5】,選擇曲線點設(shè)置,按【存儲】功能鍵,完成第一個基準點的制作。⑷按【選4】,選擇定量線,通過【上調(diào)】子菜單鍵和【下調(diào)】子菜單鍵調(diào)整定量線參數(shù),定量線參數(shù)應(yīng)在報廢線和評定線之間?!?DAC曲線制作實例在制作DAC曲線前,需對探頭延時和K值進行標定;制作過程中,儀器增益調(diào)節(jié)鍵和測量線左右位移鍵仍能使用,所選測量點的回波必須位于測量線內(nèi)且高于測量線。探頭頻率:~。報廢線:調(diào)整范圍+~+,。按【CHx】鍵進入手持模式,按【功能】鍵進入“手持DAC1/2”,按【翻頁】鍵進入“手持DAC2/2”,見圖518。本儀器通過試塊實測,儀器自動生成DAC曲線。本儀器為K值標定提供的是ⅡW(或CSK1)試塊φ50孔,K≥,K≤。⑴,選擇【選2】,調(diào)整測量線左右位移,使測量線到R50回波位置,按【存儲】鍵基準波1確定;⑵選擇【選5】,按【存儲】鍵零點延時標定完成,【選5】子菜單出現(xiàn)標定結(jié)果(),儀器將自動圖515記錄。零點延時標定前需先標定聲速。圖512⑷選擇【選3】,調(diào)整測量線左右位移,使測量線到R100回波位置,按【存儲】鍵基準波2確定;見圖513。探頭角度標定:用于自動標定探頭角度,也可以手動調(diào)整?;鶞什?:為二次回波,有100mm、200mm兩個選項,基準波1調(diào)整后,基準波2自動變化,不用再調(diào)。通過【選1】~【選5】子菜單鍵選擇所需調(diào)整的項,通過【上調(diào)】子菜單鍵、【下調(diào)】子菜單鍵進行調(diào)整。圖57(局部放大)圖58(全屏顯示)B顯模式時,存儲、回放仍然有效,本機共能存儲200個B顯圖像。圖54是用K1探頭探測GHT5B試塊1~7號φ3橫孔,所得到的圖像。單色剖面時回波高度超過測量線時,B顯圖像顯示紅色,達不到測量線高度時,顯示藍色,見圖66。顯示窗口:用來對照顯示B顯圖像與A型回波?!?B顯功能在手持模式下,按【功能】鍵進入手持B顯1/1(圖53),通過【選1】~【選5】子菜單鍵選擇所需調(diào)整的項,通過【上調(diào)】子菜單鍵、【下調(diào)】子菜單鍵進行調(diào)整。零點延時:~。調(diào)整后,手持1/3【選4】子菜單的標定方式也相應(yīng)變化?!?手持2/3測量線寬度:調(diào)整范圍2~50小格,滿屏50小格。使用矩陣功能探傷時,也可進行回放操作,方法與手持模式回放相同。通過【翻頁】、【功能】鍵,上翻和下翻回放頁面、選擇頁碼,通過【上調(diào)】鍵和【下調(diào)】鍵選擇所需文件。文件回存:選擇【選2】鍵,按【存儲】鍵,將所選文件參數(shù)調(diào)入當前狀態(tài)?!?回放操作在手持模式探傷操作中,按【回放】鍵,進入回放界面,見圖44。例如:按【選1】子菜單鍵,“里程(km)”數(shù)反顯,光標在個位,按【上調(diào)】子菜單鍵個位數(shù)值加大,按【下調(diào)】子菜單鍵個位數(shù)值減小;再按【選1】子菜單鍵,光標移到十位,同樣通過【上調(diào)】子菜單鍵和【下調(diào)】子菜單鍵調(diào)整十位上的當前數(shù)值;重復(fù)按【選1】子菜單鍵,配合【上調(diào)】子菜單鍵和【下調(diào)】子菜單鍵直至將里程調(diào)到所需數(shù)值為止。股別:分為左股和右股。圖42  存儲操作儀器具有短片存儲功能,用來記錄現(xiàn)場缺陷動態(tài)回波,可以回放,并能傳輸?shù)接嬎銠C,便于事后對缺陷進行分析、識別和示范。在手持模式下,使用不同頻道的4種探頭檢測時,按【凍結(jié)】功能鍵,屏幕即被鎖定,同時屏幕右上角出現(xiàn)凍結(jié)符號“※”,再按【凍結(jié)】鍵,解除鎖定,凍結(jié)符號消失。用戶也可以通過調(diào)整測量線的位置和寬度選取需要的回波?!?測量線位置調(diào)整按【選5】鍵-【上調(diào)】鍵或【下調(diào)】鍵,測量線上升或下降,調(diào)整范圍5~95%?!?工作方式調(diào)整按【選3】鍵-【上調(diào)】鍵或【下調(diào)】鍵,調(diào)整當前工作方式,工作方式有“單”“雙”2種選擇。4  手持功能初級使用  手持模式基本調(diào)整  增益調(diào)整用增益調(diào)節(jié)鍵【dB+】和【dB-】調(diào)整儀器增益,步進值可調(diào)。圖35   系統(tǒng)參數(shù)復(fù)位按【選1】鍵-【存儲】鍵,顯示條顯示“復(fù)位 OK”,表示系統(tǒng)參數(shù)回到出廠設(shè)置狀態(tài)?!?手持B顯數(shù)據(jù)刪除按【選2】鍵-【存儲】功能鍵,顯示條顯示“刪除 OK”,表示B顯數(shù)據(jù)刪除成功。圖33  衰減器類型按【選1】鍵-【上調(diào)】鍵或【下調(diào)】鍵,上調(diào)為增益型、下調(diào)為衰減型,根據(jù)使用者的不同習(xí)慣選用。圖32  日期按【選1】鍵-【上調(diào)】鍵或【下調(diào)】鍵,先調(diào)整日(01~31循環(huán)),再按【選1】子菜單鍵調(diào)整月(01~12循環(huán)),最后按【選1】子菜單鍵調(diào)整年,如100422。  波形顏色按【選3】鍵-【上調(diào)】鍵或【下調(diào)】鍵,有綠色、藍色、白色、深藍、深紅、灰色、淺黃、淺紅、淺綠、淺藍、黃色、紅色12種波形顏色循環(huán)顯示,可根據(jù)使用者需要選用。輔助功能測量光標顯示窗口工件厚度B顯模式掃查狀態(tài)曲線類型曲線顯示晶片尺寸探頭頻率基準孔報廢線定量線評定線儀器增益試塊選擇探頭角度儀器增益儀器增益基準波1基準波2材料聲速零點延時B顯手持DAC測量標定1/21/22/22/2曲線點設(shè)置圖25  矩陣模式12晶長矩陣探頭用于軌墻和尖軌軌底的串列式掃查,雙矩陣探頭用于鋼軌焊縫軌底的K型掃查,單發(fā)多收矩陣可用于軌頭和軌底K型掃查,三種探頭三種矩陣探傷模式直接按【矩陣】鍵進入,重復(fù)按【矩陣】鍵循環(huán)顯示。通過【翻頁】鍵選擇,具體菜單見圖23。注意:當儀器紊亂或工作失常時,應(yīng)按住【系統(tǒng)】鍵,再按【電源】鍵關(guān)機,儀器會自動恢復(fù)出廠參數(shù)。  儀器按鍵說明序號鍵圖標鍵標識主要功能說明1【電源】儀
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