單板硬件調(diào)試報告-資料下載頁
2025-08-03 01:14本頁面
【正文】 本次無法測試總結(jié)調(diào)試的結(jié)果，確定所有已解決了的問題，并對解決結(jié)果進行總結(jié)，確定未解決的問題。為每個被測對象給出總結(jié)性的評價，包括其局限性，評價必須基于調(diào)試結(jié)果和被測對象的通過/失敗準(zhǔn)則。對失敗風(fēng)險的估計應(yīng)包括在內(nèi)?？偨Y(jié)主要的調(diào)試活動和事件?？偨Y(jié)資源消耗數(shù)據(jù)，如總?cè)藛T、總機時，每個主要調(diào)試活動花費的時間。 遺留問題報告遺留問題是指調(diào)試過程中發(fā)生的并且在調(diào)試報告時仍沒有得到解決需要投下一版PCB回歸測試驗證的問題。建立遺留問題統(tǒng)計表格，可對遺留問題數(shù)和級別進行統(tǒng)計，包括問題總數(shù)，致命，嚴(yán)重，一般和提示問題的數(shù)目及百分比等，遺留問題統(tǒng)計一般可用以下表格描述，其中的字段可根據(jù)實際情況進行設(shè)計和裁剪。177。237。1 調(diào)試測試問題列表總共發(fā)現(xiàn)問題總數(shù)致命問題嚴(yán)重問題一般問題提示問題問題分四個級別來定義，各級別含義如下：致命：引起系統(tǒng)死機或系統(tǒng)崩潰的問題嚴(yán)重：引起系統(tǒng)某一功能失效且不能簡單恢復(fù)（如插拔單板）的問題一般：引起系統(tǒng)某一功能失效但可簡單恢復(fù)或較難重現(xiàn)的問題提示：從操作或維護的角度發(fā)現(xiàn)的問題或建議177。237。1 信號質(zhì)量遺留問題統(tǒng)計表問題總數(shù)致命問題嚴(yán)重問題一般問題提示問題其他統(tǒng)計項數(shù)目百分比177。237。1 時序遺留問題統(tǒng)計表問題總數(shù)致命問題嚴(yán)重問題一般問題提示問題其他統(tǒng)計項數(shù)目百分比177。237。1 功能遺留問題統(tǒng)計表問題總數(shù)致命問題嚴(yán)重問題一般問題提示問題其他統(tǒng)計項數(shù)目百分比問題分四個級別來定義，各級別含義如下：致命：引起系統(tǒng)死機或系統(tǒng)崩潰的問題嚴(yán)重：引起系統(tǒng)某一功能失效且不能簡單恢復(fù)（如插拔單板）的問題一般：引起系統(tǒng)某一功能失效但可簡單恢復(fù)或較難重現(xiàn)的問題提示：從操作或維護的角度發(fā)現(xiàn)的問題或建議 調(diào)試測試經(jīng)驗總結(jié)2 其他對于模擬和射頻部分以及其它關(guān)鍵內(nèi)容，由于其要求不一，根據(jù)實際設(shè)計的要求，根據(jù)模擬、射頻部分的測試用例，要求粘貼測試記錄，分析測試結(jié)果，總結(jié)測試問題。3 評審報告開發(fā)組長應(yīng)及時組織對單板硬件調(diào)試與單元測試報告的評審，按照單板硬件調(diào)試與單元測試過程的CHECKLIST 文檔，進行審核。并將評審報告記錄在這里。 參考資料清單：請羅列本文檔所參考的有關(guān)參考文獻和相關(guān)文檔，格式如下：作者＋書名（或雜志、文獻、文檔）＋出版社（或期號、卷號、公司文檔編號）＋出版日期+起止頁碼例如：[1] D. B. Leeson, “A Simple Model of Feedback Oscillator Noise Spectrum,” Proc. IEEE, pp329330, February 1966 （英文文章格式）[2] D. Wolaver, PhaseLocked Loop Circuit Design, Prentice Hall, New Jersey,1991 （英文書籍格式）[3] 王陽元，奚雪梅等，“薄膜SOI/CMOS SPICE電路模擬”，電子學(xué)報，，1994 （中文文章格式）[4] 鄭筠，《MOS存儲系統(tǒng)及技術(shù)》，科學(xué)出版社，1990 （中文書籍格式）[5] XXX，SDXXX用戶手冊 ，基礎(chǔ)部文檔室，2001/4/26 第18頁，共1
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