六西格瑪注冊黑帶知識大綱試行(編輯修改稿)
2025-07-25 17:37 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 定理及樣本均值分布 定義中心極限法則，并且理解其在置信區(qū)間、控制圖等統(tǒng)計推斷應用中的意義。（應用） 3．主要概率概念 描述和應用一些基本的概率，如獨立性、不相容、乘法法則、條件概率等。（應用） C．收集與匯總數(shù)據(jù) 1. 數(shù)據(jù)類型 識別、定義、分類并比較連續(xù)數(shù)據(jù)（計量值）與離散數(shù)據(jù)（計數(shù)值），并且識別把計數(shù)值轉變成計量量度的機會。（評估） 2. 測量標度 定義并應用定名、定序、定距、定比測量標度。（應用） 3. 收集數(shù)據(jù)的方法 定義并應用收集數(shù)據(jù)的方法，如檢查表、編碼數(shù)據(jù)、自動計量等。（評估） 4. 確保數(shù)據(jù)準確和完整的技巧 定義和應用確保數(shù)據(jù)準確和完整的技巧，如隨機抽樣法、分層抽樣法、樣本同質(zhì)性等。（評估） 5. 描述性統(tǒng)計 定義、計算并解釋離散和集中趨勢的量度，構建并解釋頻率分布和累積頻率分布。（評估） 6. 圖表法 通過構建、應用、解釋圖形和圖表來詮釋事物之間的關系，例如：莖葉圖、箱線圖、運行圖、散布圖等；通過構建、應用、解釋諸如直方圖、正態(tài)概率點圖、威布爾點圖來解釋分布狀態(tài)。（評估） D．掌握并應用概率分布 1．黑帶常用的分布 描述并應用二項分布、柏松分布、正態(tài)分布、卡方（χ2）分布、t 分布、F分布。（評估） 2．其他分布 識別超幾何分布、二元分布、指數(shù)分布、對數(shù)分布及威布爾分布。（應用） E． 測量系統(tǒng) 1. 測量方法 描述和評審測量方法。如計數(shù)篩選、計量分塊、卡鉗、測微計、光學比色計、張力、滴定等（理解） 2. 測量系統(tǒng)分析 用可重復性、可再現(xiàn)性、測量相關性、偏移、線性、百分比符合、精確度/容差（P/T）、精確度/總變異（P/TV）計算、分析和解釋測量系統(tǒng)的能力，同時考慮非破壞性、破壞性和計數(shù)系統(tǒng)，既使用方差分析（ANOVA）也使用控制圖（評估） 3. 計量學 理解校準標準可追溯性、測量誤差、校準系統(tǒng)、標準和測量儀器的控制和完整性（理解） F． 分析過程能力 1．設計并實施過程能力研究 識別、描述、應用設計并實施過程能力研究的要素，包括識別特性、識別規(guī)格/容差、擬定抽樣方案、驗證穩(wěn)定性和正態(tài)性。（評估） 2．計算過程績效與規(guī)格 區(qū)分自然過程界限和規(guī)范界限的，計算過程績效度量指標，如缺陷率。（評估） 3．過程能力指數(shù) 定義、選擇、計算Cp、Cpk并評價過程能力。（評估） 4．過程績效指數(shù) 定義、選擇和計算Pp、Ppk、Cpm和評價過程績效。（評估） 5．短期與長期能力 理解在僅僅收集到短期數(shù)據(jù)并且僅有計數(shù)數(shù)據(jù)的情況下，假設和轉換的合理性；理解當使用長期數(shù)據(jù)時，各種關系發(fā)生的；針對技術及控制問題，解釋長期能力和短期能力之間的關系。（評估） 6．非正態(tài)數(shù)據(jù)的變換（用于非正態(tài)數(shù)據(jù)的過程能力）。（評估） 理解非正態(tài)分布數(shù)據(jù)產(chǎn)生的原因，確定什么情況下轉換比較合理。（應用） 7．用于計數(shù)數(shù)據(jù)的過程能力 計算西格瑪水平并且理解它與Ppk的關系。（應用） VI. 六西格瑪改進方法和工具——分析（23個問題） A．探測性數(shù)據(jù)分析 1．多變量研究 使用多變量研究，解釋位置型、周期型和暫時型變量；設計調(diào)查最大變異來源的抽樣方案；建立并解釋多變量圖。（應用） 2．測量并建立變量間的關系模型 1) 一元和多元最小二乘線性回歸。計算回歸方程、應用并解釋回歸統(tǒng)計量的假設檢驗；使用回歸模型進行估計和預測；分析估計值的不確定性（帶有非線性參數(shù)的模型不包括在考試范
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