【正文】 1 插槽 2 插槽 3 插槽 4 插槽 5 插槽 6 插槽 7 OVI OVI DVI ACS TMU DDD8 插槽 8 插槽 9 插槽 10 插槽 11 插槽 12 插槽 13 插槽 14 DOAL DVI DOAL DVI DVI DVI 2 K MUX 插槽 15 插槽 16 插槽 17 插槽 18 插槽 19 插槽 20 插槽 21 DVI DVI MUX DVI 圖 33 插槽配置 ASL1000 測(cè)試 pcb 板的繪制根據(jù)所給程序的信息來(lái)繪制 pcb 板如告訴程序所給的測(cè)試資源為 ovi1dvi9dvi11_2021mux20 那就是告訴了 ovi 插在 1 號(hào)槽dvi_300 插在了 9 號(hào)槽 dvi_2021 插在了 11 號(hào)槽 mux 插在了 20 號(hào)槽一般 dvi 測(cè)試板沒(méi)有特殊說(shuō)明就是為 300 的測(cè)試板根據(jù)這些信息可以到 ASL_1000 的說(shuō)明書(shū)上找到 1 號(hào)板 ovi 對(duì)應(yīng)的一些硬件腳的位置如 ovi1_0 對(duì)應(yīng)的 force 的硬件腳為J2 B23sense 的硬件腳為 J2 B24 這就是在繪制 pcb 所要連接到我們對(duì)應(yīng)產(chǎn)品的pin上的測(cè)試資源如果測(cè)試的產(chǎn)品的 pin比較少的話(huà)可以盡量使用 DVI測(cè)試板的資源 DVI的測(cè)試精度以及測(cè)試電壓和電流的范圍都會(huì)比 OVI高還有 DVI_300的測(cè)試精度比 DVI_2021 的要高 34 測(cè)試參數(shù) 說(shuō)明 OpenShort Test 及其他參數(shù) OpenShort Test 也稱(chēng)為 ContinuityTest 或 Contact Test 用以確認(rèn)在器件測(cè)試時(shí)所有的信號(hào)引腳都與測(cè)試系統(tǒng)相應(yīng)的通道在電性能上完成了連接并且沒(méi)有信號(hào)引腳與其他信號(hào)引腳電源或地發(fā)生短路測(cè)試時(shí)間的長(zhǎng)短直接影響測(cè)試成本的高低而減少平均測(cè)試時(shí)間的一個(gè)最好方法就是盡可能早地發(fā)現(xiàn)并剔除壞的芯片 OpenShort測(cè)試能快速檢測(cè)出 DUT是否存在電性物理缺陷如引腳短路 bond wire缺失引腳的靜電損壞以及制造缺陷等另外在測(cè)試開(kāi)始階段 OpenShort測(cè)試能及時(shí)告知測(cè)試機(jī)一些與測(cè)試配件有關(guān)的問(wèn)題如 ProbeCard 或器件的 Socket 沒(méi)有正確的連接輸出驅(qū)動(dòng)電流 VOLVOHIOLIOH 輸出驅(qū)動(dòng)電流測(cè)試保證器件能在一定的電流負(fù)載下保持預(yù)定的輸出電平 VOL和 VOH規(guī)格用來(lái)保證器件在器件允許的噪聲條件下所能驅(qū)動(dòng)的多個(gè)器件輸入管腳的能力 VOH VOLIOHIOL TEST O6 w q O8 y ]分別在邏輯條件下測(cè)定輸出電壓 IDD STATIC TEST 2 3 ]5 B4 t7 k A測(cè)定靜止?fàn)顟B(tài)下的消耗電流 IDD ACTIVE TEST 用仿真 device 在工作時(shí)頻率測(cè)定工作中的消耗電流 5 K5 T I1 P0 w W TRIMMING 簡(jiǎn)介 Trimming 是修調(diào)的意思對(duì)于測(cè)試來(lái)說(shuō)由于 wafer 工藝的影響測(cè)試的參數(shù)不能夠完全達(dá)到客戶(hù)所需要的目標(biāo)值所以只能夠改變內(nèi)部的電路其可分為以下類(lèi)型 1 電容反相端相接 2 電容同相端相接 3 直接用 VI 源燒熔絲 4 LASER TRIMMING 就是先用測(cè)試機(jī)測(cè)出芯片的輸出電壓將其與期望值比較得出 TRIMMING CODELASER TRIMMING 的機(jī)器再根據(jù) TRIMMING CODE 去修調(diào)芯片其工作原理是把一束聚焦的相干光在微機(jī)的控制下定位到芯片上使芯片的待調(diào)部分的膜層氣化切除以達(dá)到規(guī)定的參數(shù)或阻值 TRIMMING 注意事項(xiàng) 1 芯片的 PAD 點(diǎn)很容易受干擾燒熔絲時(shí)接到 PAD 點(diǎn)上的導(dǎo)線會(huì)有天線效應(yīng)引入干擾可在 PAD 點(diǎn)對(duì)地并 10pF的小電容消除干擾或在針卡上加繼電器直接將燒熔絲線切斷縮短導(dǎo)線 2 有些器件熔絲值有波動(dòng)可選擇將前一顆的熔絲值作為后一顆的基準(zhǔn) 3 燒熔絲時(shí)最好選擇串行熔絲的方法提高準(zhǔn)確度 4 熔絲后芯片會(huì)有殘留電荷影響測(cè)試精度可適當(dāng)延時(shí)一段時(shí)間再測(cè)試 35 測(cè)試結(jié)果 除了對(duì)于測(cè)試結(jié)果記錄還需要對(duì)影響結(jié)果的因素作出分析在 cp 測(cè)試如果某個(gè) die 不符合規(guī)格書(shū)那么它會(huì)被測(cè)試過(guò)程判為失效 fail 通常會(huì)用墨點(diǎn)將其標(biāo)示出來(lái) 第四章 DCDC 芯片測(cè)試分析 41 測(cè)試編程 一旦 DUT Device under test 放置在測(cè)試儀上需要做三件事來(lái)啟動(dòng)測(cè)試它們是測(cè)試程序數(shù)字測(cè)試矢量和模擬測(cè)試波形器件規(guī)范產(chǎn)生幾種行為這些行為的結(jié)果都需要測(cè)試程序自動(dòng)測(cè)試程序生成系統(tǒng) 通常稱(chēng)為 ATPG 要求三種類(lèi)型的輸入 1 測(cè)試規(guī)范和從測(cè)試計(jì)劃得到的測(cè)試類(lèi)型信息 2 由版圖獲得的器件的物理數(shù)據(jù) 管腳位置圓片分布圖等 3 由模擬器獲得的信號(hào)的時(shí)序信息和測(cè)試矢量 輸入和期望的響應(yīng) 42 測(cè)試數(shù)據(jù)分析 從 ATE獲得的測(cè)試數(shù)據(jù)服務(wù)于三個(gè)目的第一它幫助判定接受或拒絕 DUT第二它提供制造過(guò)程的有用信息第三它提供設(shè)計(jì)不足的信息沒(méi)通過(guò)測(cè)試即表明器件失效但是通過(guò)測(cè)試的器件只有在測(cè)試覆蓋 10 的故障時(shí)才能認(rèn)為是好的對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的分析能夠提供器件質(zhì)量的有用信息失效器件的失效模式分析 FMA 為改善VLSI 藝過(guò)程提供了進(jìn)一步的信息失效器件經(jīng)常顯示重復(fù)失效的模型常用的方法是根據(jù)存的 DATALOG用 EXCEL來(lái)分析 fuse熔絲 每個(gè)芯片所需要燒斷的熔絲都不一樣根據(jù) CP1 的測(cè)量值就可以知道需要熔斷哪根 fuse Fuse 的阻值很小一般 1歐姆左右加大電流后一般都可以熔斷對(duì)于某個(gè) sitebefore trim trim 和 after trim 整體結(jié)合去分析不要獨(dú)立去看待失效模式不是說(shuō)看到頻率失效就要去換TMU trim 后失效的最可能的原因是因?yàn)?fuse 沒(méi)有被 trim 通常情況下和 TMU 無(wú)關(guān)的若有某個(gè) site 測(cè)試連續(xù) fail 斷斷續(xù)續(xù) fail 等異常對(duì)于 trim 參數(shù)要整體考慮不能夠認(rèn)為頻率 after trim 后失效就是 TMU 的問(wèn)題 [10]但最可能的原因是其中某個(gè) fuse 沒(méi)有被燒斷 異常處理中可能的解決方法有以下情況 1 由于掃描步長(zhǎng)過(guò)大導(dǎo)致電壓誤差也偏大所以需要減小掃描的步長(zhǎng)需要把 scan step 由 20mv 改為 1mv 以便于減小CS pin 電壓值的誤差但這樣會(huì)大大增加測(cè)試時(shí)間使整片 wafer 的時(shí)間延長(zhǎng)不利于生產(chǎn) 2 和客戶(hù)溝通制定 2 點(diǎn)法的測(cè)試方案不需掃描不存在 scan step 的誤差即根據(jù)計(jì)算公式求得 cs_peak 的電壓值進(jìn)而去測(cè)量 Gate pin 的頻率 3 有問(wèn)題的 wafer 由于是 fail 的芯片里部分芯片應(yīng)該是 pass 的 所以將 fail 的芯片 retest 一次避免了損失 第五章 芯片 LM2576 測(cè)試案例 51 LM2576 簡(jiǎn)介 LM2576 是從美國(guó)國(guó)家半導(dǎo)體的直流 直流 IC 產(chǎn)品范圍之一還有各種品牌的直流 直流穩(wěn)壓 IC 可用穩(wěn)壓器轉(zhuǎn)換器或另一個(gè)名稱(chēng)稱(chēng)為降壓穩(wěn)壓器或開(kāi)關(guān)穩(wěn)壓器提供了穩(wěn)定的調(diào)整的輸出電壓供應(yīng)電子線路開(kāi)關(guān)電源轉(zhuǎn)換器 LM2576 如使用切換控制平均減少輸入的直流電壓這相當(dāng)