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s參數(shù)定義矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀基礎(chǔ)知識和s參數(shù)測量(留存版)

2025-08-06 15:41上一頁面

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【正文】 求。 第二點(diǎn)是它對波導(dǎo)系統(tǒng)無能為力。相同品種的同軸電纜,粗的分布反射比細(xì)的分布反射小。樣本長度與掃頻方案是相互有關(guān)的,可以點(diǎn)頻測也可以掃頻測,取值要取相位靠近2700時(shí)的電抗值,此時(shí)電長度為λ/ 電抗值在177。除非電纜非常好,否則不易通過。 2.測插損 在儀器輸出輸入端各接一根50Ω電纜,在電纜另一端各接一只50K/75Ω轉(zhuǎn)換,并用75Ω雙陰將它們對接起來校直通,然后取出雙陰串入待測件即可測出其插損與相移。15Ω要求的,而對于傳輸線而言卻是全反射,根本不能用。二.微帶接頭的測試 在一塊50Ω微帶線的樣本為一長度≥6cm的微帶線兩端裝上連接器,對此線進(jìn)行時(shí)域故障檢查,調(diào)節(jié)兩端連接器與微帶線的過渡尺寸,使得兩端的時(shí)域反射≤(越小越好),樣本適當(dāng)長些以便分清兩端分別對待。 3.相位按177。180176。反射電橋接到同軸變波導(dǎo),并在波導(dǎo)口接上待測件(),記下Γ0測試值(或打印出〖反射〗數(shù)據(jù))。 C.雙線法(雙波導(dǎo)法) 假如有兩段長度約λg/6的短波導(dǎo),即可采用此法。這是一種典型的點(diǎn)頻計(jì)量方法。三.3 常用器件的測試 電感(分立元件)一.標(biāo)稱值的測試 標(biāo)稱值一般用LCR儀器進(jìn)行測試,也可用PNA進(jìn)行測試。注意:屏幕上仍顯R+jX。再找出兩個(gè)7dB點(diǎn)的頻率f1和f2,則Q = f0/(f2f1),[當(dāng)臨界耦合時(shí),∣R∣=∣X∣點(diǎn)的反射為 177。雖然此法比較嚴(yán)格,但由于實(shí)際上的問題可能并不太實(shí)用。直接測反射系數(shù)法 必須要矢網(wǎng),頻率分辨力受相位分辨力限制,對裝夾要求很嚴(yán); 轉(zhuǎn)接器 由于實(shí)際產(chǎn)品的插頭各種各樣,而儀器的測試接頭通常只有一種,這就有個(gè)轉(zhuǎn)接問題,而且它要參與到測試值中去,因此必須對其進(jìn)行檢測,有幾種作法。注意電纜外導(dǎo)體必須與連接器外殼接觸良好,必要時(shí)還要考慮儀器是否要加屏蔽。其實(shí)用時(shí)域來觀測這些反射,那是分得很清的,一般遠(yuǎn)端反射并不大。假如在實(shí)軸上,但阻值不對,這時(shí)就要用到單節(jié)或兩節(jié)λ/4變阻器。),R與X是不太好用的(一定要用的話,可將R+jX用50Ω除后再取倒數(shù),即得到歸一后的相對導(dǎo)納g + j b)。相位中心不是一次就找得出來的,它是一個(gè)試湊過程,甚至有的照射器E面與H面相位中心不重合,假如你能在天線反射面或付面中能修正這些相位誤差的話,你的天線設(shè)計(jì)就又高了一層。五.不穩(wěn)定的問題 1.接收的信號噪音比(S/N)不高是主要原因,至少要40dB,越高越好。暗室大到能作遠(yuǎn)場測試當(dāng)然更好。發(fā)射天線應(yīng)為對稱線天線,并加有寬帶平衡裝置,防止發(fā)射交叉極化。 因此G≤10,頻率高時(shí)好辦些。 2.基本布置 書上談到的測增益方法不止一種,但在米波段,用半波振子作參考天線(也可稱標(biāo)準(zhǔn)增益天線),用比較法測增益可能是最簡單實(shí)用的方法。 信號天線與被測天線等高,設(shè)此時(shí)測出的增益為G2。 4.步驟(以接收法為例) 也曾介紹給來廠參觀的同志,并寫入產(chǎn)品技術(shù)總結(jié)。 嚴(yán)格地講,應(yīng)找出八木天線的相位中心,但一般可將半波振子放在激勵元附近,然后前后移動(或擺動)測出空間駐波即可。這個(gè)問題讓我們從信號天線的架高考慮上談起。但看到目前有些單位的場地、設(shè)備條件以及測試方法的采用上,仍然想談一下我們在1965年測一米波雷達(dá)天線增益時(shí)碰到的一些問題,以及我們的做法。 2.原理 此法的理論根據(jù)是,兩點(diǎn)源在自由空間的插損IL是可以算出的,因此換成兩個(gè)天線后,插損減小的dB值即兩天線增益dB值的和。 喜連川天線本身應(yīng)加扼流套,正反加皆可; 六.改進(jìn)方向 1.測方向圖最好有正規(guī)的轉(zhuǎn)臺與固定裝置。 1.大功率檢波低放方案 Pr=PdBm+2+132052= PdBm57dB 與交流調(diào)制的二極管靈敏度相當(dāng),但是還要加40dB動態(tài),所以發(fā)射功率要40dBm即10W,這種作法的優(yōu)點(diǎn)是抗干擾能力強(qiáng),因?yàn)榘l(fā)射功率大,但這樣作會干擾其它設(shè)備,大功率信號源也不太好找。首先是空曠的場地或暗室,其次是轉(zhuǎn)臺與安裝設(shè)備,當(dāng)然還要有一套收發(fā)裝置能自動記錄測試數(shù)據(jù)。尺寸λ,外觀對稱而將同軸線心線焊到對面即可,環(huán)本身是對稱的,因而形成了一個(gè)穿入式的平衡器。 3.調(diào)匹配 167。二.反射電橋 電橋與負(fù)載之間有點(diǎn)象雞生蛋,還是蛋生雞的問題,沒有好橋作不出好負(fù)載,反過來沒有好負(fù)載也作不出好橋,兩者是互相促進(jìn)的,檢測電橋與檢測負(fù)載差不多。3.實(shí)測效果 在未放入腔體時(shí),兩針間系一截止波導(dǎo),插損約60dB,放入陶瓷腔體后,陶瓷腔體的連接片改變了兩針之間的耦合,使插損約40dB左右,對于1900MHz的λ/2開路腔,即Q約560,與國外產(chǎn)品用HP8720實(shí)測數(shù)值相符。諧振頻率的分辨率,決定于矢網(wǎng)的相位分辨率,反射相位為1800即能分辨1800分之一,對于900MHz。 其思路為在一矢網(wǎng)上作一測試夾具,測試夾具本身為一插座,其內(nèi)導(dǎo)體伸出一叉形簧片,插座在經(jīng)過開路與短路校正后將陶瓷腔放在夾具上,陶瓷腔的引線(通常為一薄銅片)與插座的叉形形成一個(gè)耦合電容,前后移動腔體(改變耦合電容)使得腔形成臨界耦合,則此時(shí)虛部為0,實(shí)數(shù)為50Ω的點(diǎn)的頻率,即諧振頻率。這兒主要想說明器件或零件用在什么頻率,就應(yīng)該在什么頻率下進(jìn)行測試。 2.點(diǎn)頻計(jì)量測試法 采用魔T測試后,也能采用點(diǎn)頻計(jì)量測試法,作法同上(見二、中各項(xiàng))。但若沒有好的負(fù)載, 或者接上負(fù)載后駐波≥, 則不能校零, 否則反而出錯。在同軸變波導(dǎo)口與待測件之間,再接入一短波導(dǎo)(電長度Φ約60176。此法雖然能掃頻測試,但修正還得一點(diǎn)一點(diǎn)的進(jìn)行。(每格72176。即可直接得測得100Ω雙線系統(tǒng)的回?fù)p或駐波比,也可測試輸入阻抗;但數(shù)值要乘2,因?yàn)閮x器為50Ω系統(tǒng)。對于100MHz,標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定回?fù)p為16dB,假如按輸入阻抗要求則為23dB,超過標(biāo)準(zhǔn)7dB;因此把特性阻抗驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)改成按輸入阻抗驗(yàn)收,是不符合標(biāo)準(zhǔn)的作法。 電纜兩端測出的特性阻抗有可能是不相同的,說明該電纜一頭特性阻抗高,一頭低。 2.作法 如果負(fù)載是無反射的標(biāo)阻,則遠(yuǎn)端反射即指輸出連接器處的反射,另一段是輸入連接器(包括轉(zhuǎn)接器)處的反射叫近端反射。 少數(shù)是電纜本身形成的,那么此電纜只能隔離待查,停止使用。對插損的廣義理解 隔離度 不該通而通了的插損稱隔離度或防衛(wèi)度。只能測網(wǎng)絡(luò)各種參數(shù)的幅值特性者稱為標(biāo)量網(wǎng)絡(luò)分析儀,簡稱標(biāo)網(wǎng)。因此,在調(diào)試中首先要將天線阻抗調(diào)集中(在圓圖上成團(tuán))。反射系數(shù)、回波損耗、電壓駐波比回波損耗(Return Loss):216。因?yàn)橹挥幸粋€(gè)口,總是接在最后又稱終端負(fù)載。S21:增益或插損,描述信號經(jīng)過器件后被放大的倍數(shù)或者衰減量。式中ZL為負(fù)載阻抗, Z0為同軸線的特性阻抗。永遠(yuǎn)按離開負(fù)載方向?yàn)檎D(zhuǎn)圓圖,不要用源端作參考,否則又要把人弄昏。差分電橋 能測雙線饋線系統(tǒng)的反射電橋稱差分電橋。這種現(xiàn)象在1998年我們買的SYV503電纜中多次碰到,回?fù)p只有10-14dB,粗的電纜倒不常見此情況,用戶只有自己保護(hù)自己,選擇質(zhì)量好的才買。 2.測反射相位定電纜電長度當(dāng)電纜末端開路時(shí),在其輸入端測其反射的相位是容易的,由于反射很強(qiáng)測試精度也較高。同前(即在點(diǎn)頻測回?fù)p狀態(tài)下,校開路與短路)。在測插損狀態(tài)下,經(jīng)過連接電纜與兩個(gè)10dB衰減器對接后校直通。將光標(biāo)移到峰點(diǎn)附近后按菜單鍵, 光標(biāo)在《放大》下閃動, 再按執(zhí)行鍵畫面將展開四倍后重畫一次,并在方格下面顯出dmax=等數(shù)值, 此值即電纜電長度。它的作法是在頻域中測出多個(gè)有關(guān)頻率的反射系數(shù),然后經(jīng)過運(yùn)算來得到時(shí)域畫面。故障定位功能是很有用的,按使用頻段設(shè)定掃頻頻段也是有效的,寬帶反射小而起伏多,窄帶的反射大而起伏少不容易漏掉故障。儀器在測回?fù)p狀態(tài)下,電橋輸入端與輸出端各串一只10dB衰減器。將一個(gè)拾取環(huán)(見幅相檢測),通過一段電纜接到輸入端,當(dāng)環(huán)遠(yuǎn)離待測電纜時(shí)讀數(shù)應(yīng)≥70dB; 注意:由于75Ω與50Ω兩者內(nèi)導(dǎo)體差別較大,使用時(shí)應(yīng)小心不要插錯,粗的插入細(xì)的會損壞器件,細(xì)的插入粗的則接觸不良甚至不通。 3.將單端儀器測試口通過復(fù)用開關(guān)擴(kuò)為八個(gè),采用混合模式散射參量進(jìn)行計(jì)算與校準(zhǔn),這是ATN公司的方法。按菜單鍵,設(shè)定掃頻方案并按執(zhí)行鍵選定之。)。對于波導(dǎo)系統(tǒng)則用λg/4 。之間,不宜靠近180176。反射電橋接到同軸變波導(dǎo),并在波導(dǎo)口接上待測件,記下Γ0測試值(或打印出〖反射〗數(shù)據(jù))。 2.點(diǎn)頻計(jì)量測試法 采用波導(dǎo)定向耦合器測試后,也能采用點(diǎn)頻計(jì)量測試法,作法同上(見二、中各項(xiàng))。誰知,在PNA上一測卻為容性。由于引線電感的參與,變成了一個(gè)串聯(lián)諧振回路,隨著頻率的升高依次出現(xiàn)第一個(gè)串聯(lián)諧振點(diǎn)與第一個(gè)并聯(lián)諧振,也就是說一個(gè)電容的高頻測試特性也是在圓圖上周期性的繞圈。)處,接上陶瓷腔后,在顯示屏上將出現(xiàn)如圖()的情況,則Φ=0176。夾具要推敲一下,否則影響結(jié)果與速度,對儀器輸入輸出匹配也有要求,重復(fù)性不好,Q值數(shù)據(jù)起伏太大,不推薦采用。 2.λ/2腔比λ/4腔Q高些嗎? 在前面公式中λ/2腔的系數(shù)比λ/4腔高一倍,是否Q會高一倍呢?其實(shí)不然,由于λ/2腔長了一倍,考慮損耗后Q值并不高。 4.轉(zhuǎn)接器的本身反射(S11)能作到40dB是很好的,也是很難的,尤其是頻率高時(shí)譬如3GHz能到30dB也就能用了。這兒提一下阻抗匹配。在圓圖上某些散開的點(diǎn)子可以通過λ/4線的補(bǔ)償特性進(jìn)行收攏,有時(shí)甚至用到5倍λ/4,當(dāng)然這得碰得巧,要對癥下藥,不能千篇一律對待。二.拾取天線任何形狀的線天線、環(huán)皆可作拾取天線,但我們經(jīng)驗(yàn)以對稱振子與平衡環(huán)兩種為好。左右; 但測波瓣并不太在乎高度,也不宜放在盲區(qū),有時(shí)得適當(dāng)選擇一個(gè)高度才行。 傳導(dǎo)電流 正規(guī)喜連川天線引出處加有λ/4扼流套,可以防止天線電流向下流,但由于有的人為了簡單將這個(gè)套取消。兩次記錄同一狀態(tài)下的波瓣,應(yīng)基本一致,否則有接觸不良或干擾存在。試外部干擾與儀器的動態(tài)范圍。5.測法 若用dB值表示,Gλ/2則成dBd, G0 則成dBi, dBd= dBi+2dB(注:=,略作2dB)。在采用第三法時(shí),φ→1800,因此直接波與反射波是相消的,因此只能在信號足夠強(qiáng)的情況下才能架低,信號太弱時(shí)也只好架高一些。信號天線開始發(fā)射,大致看看半波振子收到的信號強(qiáng)度,只要檢測設(shè)備有足夠大的讀數(shù),而且讀數(shù)穩(wěn)定的話,盡量將信號天線架低。將半波振子前后移動(或擺動)λ/2,記下最大值P大與最小值P小。否則應(yīng)采用發(fā)射法以便對兩個(gè)天線的發(fā)射功率進(jìn)行監(jiān)測,并代入增益公式進(jìn)行修正。事實(shí)上,米波段天線垂直方向圖都比較寬,想擺脫地面是辦不到的。兩連接電纜校直通后,分別接到兩個(gè)天線插座測其間插損IL;如IL=18dB,則G=5dB; 注意: 此法以點(diǎn)源為準(zhǔn),測出的增益倍數(shù)為G0,dB數(shù)為dBi;此法可與比較法結(jié)合起來作,即可先測兩個(gè)半波振子的G0 ,以作比較。四.結(jié)束語 喜連川天線由于是全向性,而且是不對稱結(jié)構(gòu),對測試帶來困難。改變天線在架上的角度以試天線本身的對稱性。對稱式平衡器只在對稱振子中有效,對于喜連川天線這種非對稱結(jié)構(gòu),只有扼流套才有效,其他平衡措施一律無效。 三.系統(tǒng)信號強(qiáng)度(接收功率)估算四.結(jié)束語 在V頻段以上S頻段以下, 全向縫陣用得較多, 我們經(jīng)驗(yàn)證明,在調(diào)匹配過程中必須監(jiān)視各縫的相位基本相同, 否則即使匹配調(diào)好了, 而增益降低了也是不好用的。1. 對稱振子()),其長度L沒有什么要求,一般短于被測件即可,只要拾取信號夠強(qiáng),短些也無妨,但兩臂長度要對稱。匹配時(shí)最怕的是在圓圖上為一弧形而高端在前,低端在后,越是遠(yuǎn)將越散開。阻抗匹配應(yīng)在矢網(wǎng)上進(jìn)行,其它儀器不知道改進(jìn)方向,事倍功半甚至選錯了對象。 3.帶有長饋線的天饋系統(tǒng)在機(jī)房內(nèi)測饋線端口駐波即天饋系統(tǒng)駐波,此時(shí)一般饋線較長,少則幾米多則上百米,這其中有三種反射,一是天線入口的反射,常稱遠(yuǎn)端反射;另一種是饋線到儀器的轉(zhuǎn)接頭的反射,稱近端反射;還有就是最不好控制的饋線本身的反射。 其它 1.隔離器與環(huán)流器 PNA只能測單向的參數(shù),必須掉頭才能測試隔離度。 λ/25/1000=, , |Г|=, Q=2728。 陶瓷諧振腔一般有兩種作法,一是作成λ/4短路線,一是作成λ/2開路線。普通瓷片電容的諧振頻率大致如下:高頻時(shí)電容的等效串聯(lián)電阻(ESR)變大,普通的貼片電容不宜用于微波頻段。線圈B(空心者)呈現(xiàn)4個(gè)偏心圓。最好用λg/4短路波導(dǎo)作開路標(biāo)準(zhǔn),掃頻進(jìn)行開路校正;雖然掃頻作開路校正只有一點(diǎn)嚴(yán)格有效,但常規(guī)窄帶應(yīng)用是可行的。 在同軸變波導(dǎo)口與待測件之間,接入一短波導(dǎo)(電長度Φ約60176。ba2φo做法如下:測件的反射)。()將反射電橋(RB)接到同軸變波導(dǎo)上, 并用一塊短路板將波導(dǎo)口短路(封上)后,按執(zhí)行鍵進(jìn)行〖校:開路〗項(xiàng)目。將兩只同軸變波導(dǎo)(cg)經(jīng)兩只波導(dǎo)隔離器對接起來, 入(左)端接到儀器輸出端,出(右)端接到儀器輸入A(或B)端,校直通。 三.測試結(jié)果 1.特性阻抗Z0測試 雖然Z0一般不是頻率的函數(shù),但仍測了三個(gè)頻點(diǎn),測時(shí)線長最好用測試頻率的λ/8,測其末端開、短路時(shí)的輸入電抗,相乘開方后即得。相當(dāng)線號為24AWG—26AWG)。連接器接地不良時(shí),其時(shí)域波形表現(xiàn)為拖尾巴波形,而不是一個(gè)單純的脈沖波形;以上講的是帶插頭的電纜(常稱跳線)的檢測方法,只是一種查毛病的方法,并不作為驗(yàn)收的依據(jù)。記下待測電纜在末端
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