【正文】 45176。 、橫波 、方位、類型 （d）： （波形）可以分為（e）： ，若介質(zhì)兩側(cè)的物質(zhì)聲阻抗相等，則薄層厚度為（b）時(shí)， ，有時(shí)發(fā)散 入射角自水中入射至鋼中，右圖中哪個(gè)聲束路徑是正確的？（d） ，聲束在工件中將（d）（如果工件表面為凹面）或發(fā)散（如果工件表面為凸面） 176。 ，表示反射波相位與入射波相位有何種關(guān)系？（b）： （a） 176。 ,聲束進(jìn)入工件后將(b) 176。 ,如果超聲波頻率增大,則聲束擴(kuò)散角將(b): =c (b): (Tc=75176。 (d) 176。的探頭，有機(jī)玻璃楔塊內(nèi)聲速為2730m/s，被檢材料（碳鋼 ）中的聲速為3230m/s，求入射角α的公式為（b）=(3230/2730) ，對(duì)于薄層反射體，若其厚度為（b）可得到最大反射信號(hào)， 、Z耦、Z鋼，當(dāng)耦合劑薄層厚度為1/4波長(zhǎng)時(shí)，從聲阻抗考慮，超音波易于通過(guò)的條件為（c）：=(Z晶+Z鋼)1/2 ≥3N的距離上，當(dāng)聲程相同時(shí)，若孔徑相差一倍，則球孔回波高度差（c）dB： =(R)1/2 (d): ,一般用來(lái)測(cè)量缺陷邊界位置的方法是(a): ?(c) (d): 176。 。 ，應(yīng)把槽加工在管子的（a） （d） 176。 ，始脈沖和工件表面反射波之間顯示的水層反射間隔很寬，這是由于（a） 322.（d），Φ14毫米 d.≤2% ，鋼管用橫波檢測(cè)的條件是（b）≤40%或T/d≤20% 、Φ20毫米直探頭探測(cè)如右圖所示的筒體鍛件，探測(cè)時(shí)以筒體內(nèi)表面作參考反射體，起始靈敏度為Φ2毫米平底孔，波高40%，此時(shí)的校驗(yàn)分貝和探測(cè)分貝各為（a）： ，缺陷越薄，對(duì)聲波的反射越差，當(dāng)能得到最大反射時(shí)，缺陷厚度最小的尺寸等于（a） % ,60176。 ,具體數(shù)值與靈敏度和檢測(cè)對(duì)象及條件有關(guān) ,應(yīng)采取的方法是(b) ,管材螺旋前進(jìn) ,Φ14mm,窄脈沖探頭 ,找到缺陷最大回波後,缺陷的中心位置(d) ,產(chǎn)生時(shí)基線的電路單元叫做(b): =P2/2Z ，同直徑橫孔，聲程增大1倍，不計(jì)材質(zhì)衰減，則聲壓減小（b）： ，（Z=聲阻抗）應(yīng)是（c）=(Z晶片+Z工件)1/2 ＞＞6N時(shí)此公式正確 (Tc=365176。 b.△dB=10lg(I1/I2) (a): 時(shí)的反射率最高 ,可能發(fā)生(d): ，除了與探頭特性有關(guān)外，主要還決定于接收放大器在強(qiáng)信號(hào)沖擊下的（a）時(shí)間。 ？（a）： ，如果面對(duì)入射方向的界面為一個(gè)凸面，并且聲速CA＜CB,則該曲面將對(duì)透過(guò)波（b） （Snell）折射定律規(guī)定，入射角和折射角的正弦之比等于兩種介質(zhì)的（d） （b）： ，使超聲波垂直于探測(cè)面而進(jìn)入被檢材料的檢驗(yàn)方法稱為（a）： ，反射波和透射波的（a）： ，超聲波反射角（d）入射角： （θ/2）= ，它屬于（c）： （a）： ，入射聲束軸線與界面法線所成的夾角稱為（a） （d）： ，若孔徑相同，聲程差一倍，平底孔回波高度差（d）dBa. 12 Wave ，如果面對(duì)入射方向的界面為一個(gè)凹面，并且聲速CA＞CB,則該曲面將對(duì)透過(guò)波（b） ，聲波到達(dá)底面之前，由于聲束擴(kuò)散，在試件側(cè)面可能產(chǎn)生（c） (c): 176。 c.△dB=20lg(I2/I1) ) 、c和d 176。 =(Z晶片Z工件)1/2 ，該聲束將（d） ,隨聲阻抗比Z1/Z2的增大，透過(guò)聲壓則（b）： ,鍛鋼件超聲波檢測(cè)需要使用對(duì)比試塊調(diào)節(jié)探測(cè)靈敏度?(c),工件表面粗糙,工件表面粗糙,探測(cè)面與底面不平行 ,容易出現(xiàn)的非缺陷回波是(d): ,探頭直線移動(dòng) （縱橫波）法斜探頭 ，最有效的方法是（d）： （b）： % （d） ，可以（b） （c）： ，其水平線性誤差應(yīng)為（d）：a.＞6分貝 。 ，主要用于檢測(cè)（b）： ，探測(cè)時(shí)，當(dāng)波形出現(xiàn)疊加效應(yīng)，則對(duì)缺陷的評(píng)價(jià)應(yīng)以（b）為據(jù)： c.＜6分貝 （a） （d） ，應(yīng)盡可能使探頭隔聲片的放置方向與探頭掃查方向（c） ，若缺陷垂直于探測(cè)面，且缺陷稍有曲折或較粗糙時(shí)，若采用高靈敏度探傷，其反射波特征是（c） ，檢驗(yàn)表面粗糙的工件時(shí)，一般應(yīng)采用（a） (c) ,采用的對(duì)比試塊最好是(c) ?(d): ,其目的是(