【正文】 程 ............................................................................................................................ 4 3. 缺陷管理流程說(shuō)明 ..................................................................................................................... 5 . 發(fā)現(xiàn)階段 ........................................................................................................................ 5 . 測(cè)試類型 ...........................................................................................錯(cuò)誤 !未定義書(shū)簽。 原因類別： 測(cè)試原因 : 如 測(cè)試用例未覆蓋，測(cè)試方法有問(wèn)題等 開(kāi)發(fā)原因： 如 版本凍結(jié)后私自修改代碼 ，版本提交錯(cuò)誤 . 設(shè)計(jì)原因： 如 功能設(shè)計(jì)不符要求 環(huán)境原因： 如 測(cè)試環(huán)境與客戶的生產(chǎn)環(huán)境不 一致。 . 適用范圍 本 文檔 適用于 公司內(nèi)部的 整個(gè)測(cè)試 過(guò)程 。 測(cè)試 缺陷管理 4/9 2. 登記缺陷流程 測(cè)試 缺陷管理 5/9 3. 缺陷管理流程說(shuō)明 . 發(fā)現(xiàn)階段 序號(hào) 發(fā)現(xiàn)階段 描述 1 1系統(tǒng)測(cè)試 測(cè)試環(huán)境測(cè)試發(fā)現(xiàn)有的缺陷 2 2驗(yàn)收 測(cè)試 內(nèi)部驗(yàn)收 測(cè)試發(fā)現(xiàn)有的缺陷 ，由質(zhì)量部進(jìn)行 . 嚴(yán)重級(jí)別 序號(hào) 級(jí)別 描述 1 0建議 建議增加或修改優(yōu)化操作 2 1輕微 微小的問(wèn)題，幾乎不影響功能 ；如界面上錯(cuò)誤字 3 2中等 次要功能未實(shí)現(xiàn) 4 3較高 功能無(wú)法完成，配置錯(cuò)誤，程序異常錯(cuò)誤 5 4高 操作無(wú)法完成，數(shù)據(jù)庫(kù)對(duì)象存在問(wèn)題 6 5緊急 主機(jī)功能都未實(shí)現(xiàn)，出現(xiàn)嚴(yán)重的問(wèn)題 . 缺陷狀態(tài) 序號(hào) 狀態(tài) 描述 1 New 測(cè)試 過(guò)程 中新 提交