基于測(cè)試流程上的缺陷管理系統(tǒng)(專業(yè)版)
【正文】 也就是說(shuō) ， 當(dāng)一個(gè)程序有許多缺陷時(shí) ， 由于缺陷相互作用 ， 使得發(fā)現(xiàn)和修復(fù)缺陷的過(guò)程更加復(fù)雜 。稱為缺陷密度 (Dd)，其測(cè)量單位是 defects／KLOC。 ? 可參考 PSP中缺陷類型標(biāo)準(zhǔn) （ 如下表 ） ， 其中缺陷類型是按照問(wèn)題的復(fù)雜度來(lái)排列的 ， 類型 10到 40是比較簡(jiǎn)單的編碼缺陷 ， 類型 50到 100是比較復(fù)雜的設(shè)計(jì)缺陷 。 3. 軟件開(kāi)發(fā)人員應(yīng)避免檢查自已的程序，利用同行評(píng)審的方式對(duì)代碼進(jìn)行審查； (自己檢查容易依照原有的程序設(shè)計(jì)思路進(jìn)行，往往查不出問(wèn)題 ) 4. 在設(shè)計(jì)測(cè)試用例時(shí)， 必須明確預(yù)期的輸出結(jié)果，否則對(duì)實(shí)際的輸出結(jié)果很難有檢驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試失去意義。 Founder RD 希望對(duì)大家有幫助 QA 。 缺陷排除效益是 45% 100個(gè)缺陷 開(kāi)始測(cè)試 測(cè)試 發(fā)現(xiàn)45個(gè)缺陷 missing 55 defects Founder RD 測(cè)試結(jié)果分析和評(píng)價(jià) ? 測(cè)試覆蓋率測(cè)量 ? 語(yǔ)句覆蓋率 測(cè)試經(jīng)歷語(yǔ)句數(shù) /總語(yǔ)句數(shù) ? 分支覆蓋率 測(cè)試經(jīng)歷支路數(shù) /總支路數(shù) ? 簡(jiǎn)單路徑覆蓋率 測(cè)試經(jīng)歷簡(jiǎn)單路徑數(shù) /總簡(jiǎn)單路徑數(shù) ? 功能覆蓋率 ? 界面數(shù) ? 菜單數(shù) ? 輸入 /輸出的數(shù)據(jù)元數(shù) ? 構(gòu)件、模塊 ? … Founder RD 1. 所有的測(cè)試都應(yīng)追溯到需求。應(yīng)按不同的開(kāi)發(fā)階段詳細(xì)采集 bug的數(shù)據(jù) ? 要求軟件各開(kāi)發(fā)階段的缺陷密度小于本單位過(guò)去的平均值 ? 而且要求需求分析、設(shè)計(jì)和代碼復(fù)查階段的缺陷排除率之和大于或等于規(guī)定值（例如 75%）。 2. 統(tǒng)計(jì)程序中新開(kāi)發(fā)的和修改的代碼行數(shù) (N)。 一個(gè)缺陷可能掩蓋其它缺陷 ， 使得這些被掩蓋的缺陷難以發(fā)現(xiàn) ， 增加了它們逃過(guò)測(cè)試的可能性 。 Founder RD 結(jié)束語(yǔ) ? 產(chǎn)品越復(fù)雜 ， 測(cè)試花費(fèi)的時(shí)間就
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