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【正文】 它通常根據(jù)產(chǎn)品要求，對產(chǎn)品的重要特性定時抽取固定樣本個數(shù)。 ? 3?， 181。? 控制圖的組成 UCL(Upper Control Limit) 上控制限 LCL(Lower Control Limit) 下控制限 CL (Central Line)中心線 按時間順序抽取的樣品統(tǒng)計量數(shù)值的描點序列 控制圖原理基本原理 質(zhì)量波動理論 “ 人、機(jī)、料、法、環(huán) ” + “ 軟（件）、輔（助材料）、公用系統(tǒng) 質(zhì)量波動因素 = 偶然因素 +異常因素 偶然因素：過程固有、始終存在、影響微小、難以除去 異常因素：并非固有、時有時無、影響較大、不難去除 小 概率 原理 小概率事件在一次試驗中幾乎不可能發(fā)生、若發(fā)生則判斷異常 。 (mu)反映整體的綜合能力 ? (sigma) 反映實際值偏離期望值的程度，其值越大，表示數(shù)據(jù)越分散 。? 進(jìn)入日常管理后，關(guān)鍵是保持所確定的狀態(tài) 。缺陷數(shù)控制圖 C 控制對象是產(chǎn)品缺陷數(shù)，每個樣本大小一定。過程能力與改進(jìn)? 雙側(cè)規(guī)格情況的過程能力指數(shù) T– 技術(shù)規(guī)格的公差幅度； TU、 TL – 規(guī)格上、下限； ? 總體標(biāo)準(zhǔn)差、 s 樣本標(biāo)準(zhǔn)差 Cp = T/ 6? = （ TU – T L ） / 6? = （ TU – T L ） / 6 s 當(dāng) T= 6? ， Cp = 1， 這時候既滿足技術(shù)要求又很經(jīng)濟(jì)。Rm● 用于產(chǎn)品批量小，單件加工時間長之產(chǎn)品；有些產(chǎn)品需要經(jīng)過一段很長的時間，才能生產(chǎn)完成，才可得到一個測量值；● 所選取的樣本為一種極為一致的產(chǎn)品，如液體或氣體；● 破壞性的試驗，每檢驗一個，就報廢一個；● 控制一些過程參數(shù)，如溫度、壓力等；● 適用于每次取樣為 1， n=1平均值與標(biāo)準(zhǔn)差控制圖同 X—δ 圖，理論根據(jù)充分，對生產(chǎn)過程不穩(wěn)定檢出力強(qiáng)，樣本 10＜ n＞ 25計數(shù)值控制圖不良數(shù)控制圖 Pn 控制的對象是不良品的件數(shù)，每組樣本大小相同，適用于大批量生產(chǎn)。虛發(fā)報警過程正常、偶爾出界判異常， a概率，造成尋找根本不
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