【正文】 ,然后 重新計(jì)算新的平均極差 (R )和控制限 ,并畫下來 .如有必要重復(fù)識別 /糾正 /重 新計(jì)算的過程 . 注﹔排除代表 不穩(wěn)定條件的子組并不僅是 ”丟棄壞數(shù)據(jù) ”.而是排除受已知的 特殊原因影響的點(diǎn) ,我們有普通原因引起的變差的基本水平的更好估計(jì)值 . 這為用來檢驗(yàn)將來出現(xiàn)變差的特殊原因的控制限提供了最適當(dāng)?shù)囊罁?jù) .但 是要記住 :一定要改變過程 ,以使特殊原因不會作為過程的一部分重現(xiàn) . 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) (X ) 由于 X 的控制限取決于極差圖中變差的大小 ,因此如果均值處于統(tǒng)計(jì) 控制狀態(tài) ,其變差便與極差圖中的變差――系統(tǒng)的普通原因變差有關(guān) .如果 均值沒有受控 ,則存在造成過程位置不穩(wěn)定的特殊原因變差 . a. 超出控制限的點(diǎn) ――出現(xiàn)一點(diǎn)或多點(diǎn)超出任一控制限就證明在這點(diǎn)出現(xiàn)特 殊原因 .這是立即對操作進(jìn)行分析的信號 .在控制圖上 標(biāo)注這樣的數(shù)據(jù)點(diǎn) . 一點(diǎn)超過任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多 : ? 控制限或描點(diǎn)錯誤 。 ? 測量系統(tǒng)已改變 (包括數(shù)據(jù)編輯或變換 ). b. 鏈 ――有下列現(xiàn)象之一表明過程已改變或出現(xiàn)這種趨勢 : ? 連續(xù) 7 點(diǎn)位于平均值的一側(cè) 。 2. 量化的值 (例如 : “直徑為 ”)比簡單的是 否陳述 (例如 : “直徑符合規(guī)范 ”)包含的信息更多 。減少普通原因變差 本過程應(yīng)做些什么 ? 通常用來消除變差的特殊原因 任何過程都存在許多引起變差的原因。變差是如何影響過程輸出的？（第 3 節(jié)） 什么是過程控制系統(tǒng)？（第 2 節(jié)） （ Information About Performance） 過程輸出 ? 分析過程特性 ? 確定過程特性的目標(biāo)值使生產(chǎn)效果最好 ? 以目標(biāo)值監(jiān)測 溫度、壓力、電流、電壓通電時(shí)間、配料比率、進(jìn)給速率、周轉(zhuǎn)時(shí)間、延遲、中止次數(shù)等 3．對過程采取措施 (Action On The Process) 4. 對輸出采取措施 (Action On The Output) 過程或產(chǎn)品（輸出）特性 偏離目標(biāo)值 產(chǎn)品 或 服 務(wù) 統(tǒng)計(jì)方法 我們工作 的方式 / 資源的融合 顧客 識別不斷變化的需求和期望 改變操作 、 變換材料 設(shè)備修理 改變車間溫度、濕度 改變整個(gè)過程設(shè)計(jì) ①對過程采取措施 ②對輸出采取措施 （不穩(wěn)定或沒有能力的過程之臨時(shí)措施） S3 6 第三節(jié) 變差的普通及特殊原因 每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同： 范圍 范圍 范 圍 范圍 但它們形成一個(gè)模型，若穩(wěn)定，可以描述一個(gè)分布： 范圍 范圍 范圍 分布可以通過以 下因素來加以區(qū)分： 位置 分布長度 形狀 （最大值 最小值） （是否對稱、偏移） 范圍 范圍 范圍 或這些因素的 組合 如果僅存在變差的普遍原因， 隨著時(shí)間的推移，過程的輸出 形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測 范圍 預(yù)測 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 重修 、 重工 、 特采 退步放行 、 降級 、 報(bào)廢 S3 7 如果存在變差的特殊原因， 隨著時(shí)間的推移，過程的輸出不穩(wěn)定 圖 2 變差：普通及特殊原因 變差 的普通原因 沒有兩件產(chǎn)品是完全相同的。 預(yù)測 S3 8 第四節(jié) 局部措施和對系統(tǒng)采取措施 局部措施（ Location Action） 第五節(jié) 過程控制和過程能力 過程控制 受控 （消除了特殊原因） 范圍 不受控 （存在特殊原因） S3 10 規(guī)范下限 規(guī)范上限 受控且有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差已減少） 受控但沒有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差太大） 圖 3 過程控制及過程能力 過程控制 避免過度控制或擅自改變 ,以及控制不足 . 過程控制系統(tǒng)在出現(xiàn)變差的特殊原因時(shí)要提供統(tǒng)計(jì)信號 ,于不存在特殊原因時(shí)避免提供錯誤信息 . 過程控制系統(tǒng)有特殊原因出現(xiàn)時(shí) ,要采取適 當(dāng)?shù)拇胧﹣硐?,(如果措施有用 ,可永久保留 . 過程能力 由造成變差的普通原因 ,來確定處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)下的制造過程 ,其數(shù)據(jù)就可證明過程能力 . 內(nèi)外部客戶要較關(guān)心的是過程的輸出如何連系到他們的要求 ,他們較不 S3 11 關(guān)心過程的變差 . 制造過程的 4 種類型 控制 滿足要求 受控 不受控 可接受 1 類 3 類 不可接受 2 類 4 類 1 類過程 :該過程受統(tǒng)計(jì)控制且有能力滿足要求 ,是可接受的 . 2 類過程 :是受控過程 ,但存在因普通原 因造成的過大的、必須減少的變差 . 3 類過程 :符合要求 ,可接受 ,但不是受控過程 ,需要識別變差的特殊原因并消除它 . 4 類過程 :即不是受控過程又不可接受 ,必須減少變差的特殊原因和普通原因 . 過程能力研究 長期為 CP 和 CPK. 短期為 PPK. 第六節(jié) 持續(xù)改進(jìn)過程循環(huán)的各個(gè)階段 改進(jìn)過程從而更好 地理解 普通原因變差 避免混淆 、 挫折及誤導(dǎo)問題 S3 15 計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖 —— 尤其是其最普通的形式 ,X R? 圖――代表了控制圖在過程控制中的典型應(yīng)用 . 計(jì)量型數(shù)據(jù)的控制圖應(yīng)用廣泛 ,有如下原因 : 1. 大多過程和其輸出具有可測量的特性 ,所以其潛在應(yīng)用很廣 。 ? 分布的寬度變小 (即變好 )。 ? 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 (極差與均值相差甚遠(yuǎn)的幾個(gè)子組被更改或剔除 ). 如果顯著少于 23 以下的描點(diǎn)落在離 R 很近的區(qū)域 (對于 25 個(gè)子組 ,如 果有償使用 40%或少于 40%的點(diǎn)落在中間三分之一的區(qū)域 ),則應(yīng)對下列情 況的一種或兩種進(jìn)行調(diào)查 : ? 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯或描錯 。 ? 過程或取樣方法分層 。Z 值為負(fù)值說明過程均值超過規(guī)范 . 可使用 Z 值和標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表來估計(jì)多少比例的輸出會超出規(guī)范值 (是一個(gè)近似值 ,假設(shè)過程處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)并呈現(xiàn)正態(tài)分布 ): ? 對于單邊容差 ,沿著的邊緣 ,找到 Z 值 .表的左邊為 Z 的整數(shù)部分和十分 位值 ,上端為 Z 值的百分位值 ,行和列的交點(diǎn)的值即為超出規(guī)范的百分比 PZ .例如 ,對于 Z=, 行和 列的交點(diǎn)得到 PZ =,或大約 6%: ? 對于雙向容差 ,分別計(jì)算超過上﹑下規(guī)范界限的百分比 .例如 ,如果Z ZU S L L S L? ? ?2 21 2 85. , . ,則總的超出規(guī)范界限的值為Pz PzUSL L S L? ? ? ?0 0136 0 0022 0 0158. . .或大約為 %. Zmin 也可轉(zhuǎn)化為能力指數(shù) Cpk,按下式 定義 : C p k Z C P U? ?m in3 (即2?3 dRXUSL?? )或 CPL(即2?3 dRLSLX?? )的最小值 Zmin ?3 的過程 ,其能力指數(shù) Cpk=。 UCL DRR? 4 UCL X A RX~ ~ ~? ? 2 LCL D RR ? 3 L C L X A RX~ ~ ~? ? 2 C. 過程控制解釋 與 X R? 大致相同 D. 過程能力解釋 與 X R? 大致相同 ? 估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差 : 2? dR?? ? 如果過程服從正態(tài)分布 ,只要中位數(shù)和極差處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) ,則可 直接用 ? 估計(jì)值來評價(jià)過程能力 . 第四節(jié) S3 26 單值和移動極差圖 (XMR) 在下列數(shù)種情況下 ,使用個(gè)別值與移動全距管制圖 (XRm Chart) 1. 分析或測試一件產(chǎn)品之品質(zhì)特性 ,手續(xù)較為麻煩 ,需花費(fèi)很多時(shí)間 ,而有誤工 作時(shí)效者 . 2. 所選取之樣本 ,系屬于一種極為均勻一致之產(chǎn)品 ,如像液體或氣體 ,幾個(gè)測定 值沒有意義 ,只要一點(diǎn)就可以時(shí) . 3. 有些產(chǎn)品需要經(jīng)過一段很長之時(shí)間 ,才能制造完成 ,如此才獲得一個(gè)測定值 . 4. 產(chǎn)品系非常貴重之物品 ,測試一個(gè)樣本即損失很多金錢者 . 5. 破壞性 之試驗(yàn) ,每檢驗(yàn)一個(gè)產(chǎn)品 ,即損失一個(gè) . 6. 管制制造條件如 :溫度﹑壓力﹑濕度等 . 單值控制圖 ,要注意下面四點(diǎn) : ? 單值控制在檢查過程變化時(shí)不如 XR 圖敏感