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正文內(nèi)容

儀器分析光學(xué)分析法導(dǎo)論(更新版)

  

【正文】 反應(yīng)后 ,以下列形式回到基態(tài)。 如果按照電磁輻射和物質(zhì)相互作用的結(jié)果,可以產(chǎn)生發(fā)射、吸收和聯(lián)合散射三種類型的光譜 。 線光譜 帶光譜 E總 =E電子 +E振動(dòng) +E轉(zhuǎn)動(dòng) 非光譜法 : 不涉及能級(jí)躍遷,物質(zhì)與輻射作用時(shí),僅改變傳播方向等物理性質(zhì); 如偏振法、干涉法、旋光法等; 光譜法與非光譜法的區(qū)別: ?光譜法:內(nèi)部能級(jí)發(fā)生變化 原子吸收 /發(fā)射光譜法:原子外層電子能級(jí)躍遷 分子吸收 /發(fā)射光譜法:分子外層電子能級(jí)躍遷 ?非光譜法:內(nèi)部能級(jí)不發(fā)生變化 , 僅測(cè)定電磁輻射性質(zhì)改變 光學(xué)分析法的分類 光譜方法: 測(cè)量發(fā)射或吸收光譜 的波長(zhǎng)和強(qiáng)度 非光譜方法 定性、定量 物質(zhì)內(nèi)部特定的能級(jí)躍遷 特征光譜的波長(zhǎng): 定性、結(jié)構(gòu)分析 光譜的強(qiáng)度: 定量分析 原子光譜 分子光譜 折光、旋光、衍射、比濁法 原子發(fā)射光譜 原子吸收光譜 紅外光譜 紫外光譜 光分析法 光譜分析法 非光譜分析法 原子光譜分析法 分子光譜分析法 原 子 吸 收 光 譜 原 子 發(fā) 射 光 譜 原 子 熒 光 光 譜 X 射 線 熒 光 光 譜 折 射 法 圓 二 色 性 法 X 射 線 衍 射 法 干 涉 法 旋 光 法 紫 外 光 譜 法 紅 外 光 譜 法 分 子 熒 光 光 譜 法 分 子 磷 光 光 譜 法 核 磁 共 振 波 譜 法 光譜分析法 吸收光譜法 發(fā)射光譜法 原子光譜法 分子光譜法 原 子 發(fā) 射 原 子 吸 收 原 子 熒 光 X 射 線 熒 光 原 子 吸 收 紫 外 可 見 紅 外 可 見 核 磁 共 振 紫 外 可 見 紅 外 可 見 分 子 熒 光 分 子 磷 光 核 磁 共 振 化 學(xué) 發(fā) 光 原 子 發(fā) 射 原 子 熒 光 分 子 熒 光 分 子 磷 光 X 射 線 熒 光 化 學(xué) 發(fā) 光 四、各種光分析法簡(jiǎn)介 a brief introduction of optical analysis 以火焰、電弧、等離子炬等作為光源, 使氣態(tài)原子的外層電子受激發(fā)射出特征光譜進(jìn)行分析 的方法。 利用溶液中分子吸收紫外和可見光產(chǎn)生躍遷所記錄的吸收光譜圖,可進(jìn)行化合物結(jié)構(gòu)分析,根據(jù)最大吸收波長(zhǎng)強(qiáng)度變化可進(jìn)行定性定量分析。 (2)使用試樣量少 。 (4)分子結(jié)構(gòu)的測(cè)定。 常用的光柵刻痕密度每毫米為 1200條 、 1800條或 2400條; 根據(jù)工作方式不同分為: 透射光柵 , 反射光柵; 光柵光譜的產(chǎn)生是多狹縫 干涉 與單狹縫 衍射 共同作用的結(jié)果, 前者決定光譜出現(xiàn)的 位置 , 后者決定 譜線強(qiáng)度分布 ; 光柵的特性 ABCDE表示平面光柵的一段; 光線 L在 AJF處同相 , 到達(dá) AKI平面 , 光線 L2M2要比光線 L1M1多通過 JCK這段距離 。 sinθ)為光波 Ⅰ Ⅰ ’與光波Ⅱ Ⅱ ’的總光程差; 加 號(hào)表示衍射光和入射光在光柵法線的 同 側(cè) , 減 號(hào)表示它們?cè)诠鈻欧ň€的 異 側(cè); 當(dāng)一束復(fù)合光以一定的入射角 α照射光柵時(shí) , 不同波長(zhǎng)的單色光在不同衍射角 θ的方向發(fā)生干涉 。 等強(qiáng)度的兩條譜線 ( I, II) 中 , 一條 ( II) 的衍射最大強(qiáng)度落在另一條的第一最小強(qiáng)度上時(shí) , 兩衍射圖樣中間的光強(qiáng)約為中央最大的 80%, 在這種情況下 , 兩譜線 中央最大距離 即是光學(xué)儀器 能分辨的 最小距離 ( 可分離的最小波長(zhǎng)間隔 ) ; 光柵的分辨率 R 等于光譜級(jí)次 ( K) 與光柵刻痕條數(shù) ( N) 的乘積: NKR ???? ?? 光柵越寬 、 單位刻痕數(shù)越多 、 R 越大 。 4. 檢測(cè)器 ( 1) 光檢測(cè)器 主要有以下幾種: 硒光電池 、 光電二極管 、 光電倍增管 、 硅二極管陣列檢測(cè)器 、 半導(dǎo)體檢測(cè)器; ( 2) 熱檢測(cè)器 主要有: 真空熱電偶檢測(cè)器:紅外光譜儀中常用的一種; 熱釋電檢測(cè)器: 5. 信號(hào) 、 與數(shù)據(jù)處理系統(tǒng) 現(xiàn)代分析儀器多配有計(jì)算機(jī)完成數(shù)據(jù)采集 、 信號(hào)處理 、數(shù)據(jù)分析 、 結(jié)果打印 , 工作站軟件系統(tǒng);
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