20xx年醫(yī)學專題—第三十一章-免疫缺陷病及檢驗(完整版)
【正文】 發(fā)育過程中受損導致的免疫缺陷病為原發(fā)性免疫缺陷病。（3）易患自身免疫病和超敏反應。皮膚試驗顯示有遲發(fā)型超敏反應（DTH）能力，就表明受試者細胞免疫功能是完善的。 （徐 霞）內(nèi)容總結(jié)
（1）第三十一章 免疫缺陷病及檢驗
Chapter 31 Immunodeficiency Disease and Immunoassay
第一部分 教學內(nèi)容和要求
一、目的要求
包括B細胞表面SmIg的測定、B細胞對絲裂原刺激的反應性等測定。（2）易患腫瘤。三、名詞解釋1． 免疫缺陷病（immunodeficiency disease，IDD）2． 原發(fā)性免疫缺陷病(primary immunodeficiency disease，PID) 3． 繼發(fā)性免疫缺陷病(secondary immunodeficiency disease，SID)四、問答題1． 試述免疫缺陷病的基本特征。第三十一章 免疫缺陷病及檢驗Chapter 31 Immunodeficiency Disease and Immunoassay第一部分 教學內(nèi)容和要求一、目的要求 、 、 及 。通常體液免疫缺陷易發(fā)生細菌感染；細胞免疫缺陷則易發(fā)生病毒或細胞內(nèi)寄生菌的感染；聯(lián)合免疫缺陷時會發(fā)生各種類型的感染。（4）B細胞數(shù)量和功能的檢查。新生兒出生后不久即可表現(xiàn)出對PHA的反應性，因而出生一周后若出現(xiàn)PHA刺激反應，即可排除嚴重細胞免疫缺陷的可能。（2）T細胞及其亞群檢測：通常應用CD系統(tǒng)單克隆抗體，使用熒光抗體技術(shù)或流式細胞儀對T細胞總數(shù)和亞群進行檢測。IDD患者自身免疫病（如SLE和類風濕關(guān)節(jié)炎）和超敏反應疾病的發(fā)生率高達14%，%%。3． 是后天因感染、腫瘤、營養(yǎng)不良、代謝性疾病或其它疾病等因素引起的免疫功能低下。3．繼發(fā)性免疫缺陷病的常見原因，獲得性免疫缺陷綜合征。4．免疫缺陷病檢驗：B細胞缺陷病的檢測，T細胞缺陷病的檢測，吞噬細胞缺陷病的檢測，補體系統(tǒng)缺陷病的檢測，基因診斷，獲得性免疫缺陷綜合征的檢測。所引起的缺陷多為暫時的，消除病因后多數(shù)能恢復。2．從下列幾
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