基于測(cè)試流程上的缺陷管理系統(tǒng)(完整版)
【正文】 一個(gè)缺陷可能掩蓋其它缺陷 ， 使得這些被掩蓋的缺陷難以發(fā)現(xiàn) ， 增加了它們逃過測(cè)試的可能性 。 測(cè)試用例應(yīng)由輸入數(shù)據(jù)和與之對(duì)應(yīng)的期望輸出結(jié)果這兩部分組成，在輸入數(shù)據(jù)中，應(yīng)當(dāng)包括合理的輸入條件和不合理的輸入條件； 5. 在進(jìn)行各種分析和修復(fù)工作中，要充分注意修復(fù)工作所產(chǎn)生的影響效果和波及效果。 2. 統(tǒng)計(jì)程序中新開發(fā)的和修改的代碼行數(shù) (N)。 類型編號(hào) 類型名稱 描 述 10 文檔 注釋 ， 消息 20 句法 拼寫 ， 標(biāo)點(diǎn) ， 打字 ， 指令格式 30 聯(lián)編 ， 打包 理改管理 ， 庫 ， 版本控制 40 分配 說明 ， 重名 ， 作用域 ， 限制 50 接口 過程調(diào)用和引用 ， 輸入 /輸出 ， 用戶格式 60 檢查 出錯(cuò)信息 ， 不恰當(dāng)?shù)臋z查 70 數(shù)據(jù) 結(jié)構(gòu) ， 內(nèi)容 80 函數(shù) 邏輯 ， 指針 ， 循環(huán) ， 遞歸 ，計(jì)算 ， 函數(shù)缺陷 90 系統(tǒng) 配置 ， 記時(shí) ， 內(nèi)存 100 環(huán)境 設(shè)計(jì) ， 編譯 ， 測(cè)試 ， 或其它支持系統(tǒng)問題 缺陷分析的關(guān)注點(diǎn) ? 應(yīng)動(dòng)態(tài)采集每個(gè)測(cè)試周期中發(fā)現(xiàn)的 bug數(shù)，并有效地控制缺陷的修復(fù)率。應(yīng)按不同的開發(fā)階段詳細(xì)采集 bug的數(shù)據(jù) ? 要求軟件各開發(fā)階段的缺陷密度小于本單位過去的平均值 ? 而且要求需求分析、設(shè)計(jì)和代碼復(fù)查階段的缺陷排除率之和大于或等于規(guī)定值（例如 75%）。 ? bug價(jià)值： ? Bug的雙方面評(píng)判，對(duì)于 bug的價(jià)值開發(fā)人員在另外一個(gè)角度上進(jìn)行評(píng)判 以上三個(gè)因素的加權(quán)平均才能更有效的評(píng)價(jià)測(cè)試人員的績(jī)效！ Founder RD 缺陷統(tǒng)計(jì)分析工具介紹 Founder RD 測(cè)試結(jié)果分析和評(píng)價(jià) ? 缺陷密度 : 基本的缺陷測(cè)量是以每千行代碼的缺陷數(shù) (Defects/KLOC)來測(cè)量的。 缺陷排除效益是 45% 100個(gè)缺陷 開始測(cè)試
教學(xué)課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1