【正文】 c 管理者支持 定義過程 根據(jù)加工過程和上下使用者之間的關(guān)系，分析每個階段的影響 因素。只有過程變差的普通原因存在且不 改變時，過程的輸出才可以預(yù)測。 變差（ Variation） 過程的單個輸出之間 不可避免的差別 ；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。 SPC常用術(shù)語解釋 名稱 解釋 平均值 （ X） 一組測量值的 均值 極 差（ Range） 一個子組、樣本或總體中 最大與最小值之差 σ（ Sigma） 用于代表標(biāo)準(zhǔn)差的希臘字母 標(biāo)準(zhǔn)差 (Standard Deviation) 過程輸出的 分布寬度 或從過程中統(tǒng)計抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的 量度 ，用希臘字母 σ或字母 s（用于樣本標(biāo)準(zhǔn)差）表示。spc SPC(Statistical Process Control) 統(tǒng)計制程管制 目錄 ? 1 SPC的產(chǎn)生 ? 2 SPC的作用 ? 3 SPC常用術(shù)語解釋 ? 4 持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計過程控制概述 ? a 制程控制系統(tǒng) ? b 變差的普通及特殊原因 ? c 局部措施和對系統(tǒng)采取措施 ? d 過程控制和過程能力 ? e 過程改進(jìn)循環(huán)及過程控制 ? f 控制圖 ? 5 管制圖的類型 ? 6 管制圖的選擇方法 ? 7 計量型數(shù)據(jù)管制圖 ? a 與過程有關(guān)的控制圖 ? b 使用控制圖的準(zhǔn)備 ? c XR 圖 ? d X s 圖 ? e ?X R圖 ? f XMR圖 ? 8 計數(shù)型數(shù)據(jù)管制圖 ? a p 圖 b np 圖 c c 圖 d u 圖 SPC的產(chǎn)生 ? 工業(yè)革命以后， 隨著生產(chǎn)力的進(jìn)一步發(fā)展，大規(guī)模生產(chǎn)的形成， 如何控制大批量產(chǎn)品質(zhì)量 成為一個突出問題，單純依靠事后檢驗的質(zhì)量控制方法已不能適應(yīng)當(dāng)時經(jīng)濟(jì)發(fā)展的要求，必須改進(jìn)質(zhì)量管理方式。 分布寬度（ Spread） 一個分布中從 最小值到最大值之間的間距 中位數(shù) ?x 將一組測量值從小到大排列后， 中間的值 即為中位數(shù)。 特殊原因 （ Special Cause） 一種間斷性的，不可預(yù)計的，不穩(wěn)定的變差根源。 特殊原因： （通常也叫可查明原因）是指造成不是始終作用于過 程的變差的原因，即當(dāng)它們出現(xiàn)時將造成（整個） 過程的分布改變。 確定待控制的特性 應(yīng)考慮到： 顧客的需求 當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域 特性間的相互關(guān)系 確定測量系統(tǒng) a 規(guī)定檢測的人員、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設(shè)備或量具。對正在生產(chǎn)的產(chǎn) 品進(jìn)行監(jiān)測的子組頻率可以是每班 2次，或一小時一 次等。 52 確保所畫的 X 和 R點(diǎn)在縱向是對應(yīng)的。 23 在控制圖上作出均值和極差控制限的控制線 ? 平均極差和過程均值用畫成實線。 b 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說明存在下列情況中的一種或幾種： 控制限計算錯誤或描點(diǎn)時描錯 零件間的變化性或分布的寬度已增大 (即變壞 ） 測量系統(tǒng)變化 （ 如：不同的檢驗員或量具 ） c 有一點(diǎn)位于控制限之下 ， 說明存在下列情況的一種或多種 控制限或描點(diǎn)時描錯 分布的寬度變小 （ 變好 ） 測量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或變換） 不受控制的過程的極差（有超過控制限的點(diǎn)） UCL LCL UCL LCL R R 受控制的過程的極差 312 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢： ? 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)； ? 連續(xù) 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降； a 高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部： a1 輸出值的分布寬度增加 ， 原因可能是無規(guī)律的 （ 例如：設(shè)備工作不正?；蚬潭ㄋ蓜?） 或是由于過程中的某要素變化 （ 如使用新 的不一致的原材料 ） ， 這些問題都是常見的問題 ， 需要糾正 。 C 如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R 很近之處（對于 25子組，如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： c1 控制限或描點(diǎn)已計算錯描錯 。 33 重新計算控制限（極差圖） a 在進(jìn)行首次過程研究或重新評定過程能力時，失控的原因已 被識別和消除或制度化，然后應(yīng)重新計算控制限，以排除失控 時期的影響，排除所有已被識別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組，然后重新計算新的平均極差 R和控制限，并畫下來， 使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。 a3 測量系統(tǒng)發(fā)生變化（例如：不同的量具或 QC） 不受控制的過程的均值（有一點(diǎn)超過控制限） 受控制的過程的均值 UCL LCL X LCL UCL X 342 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢： 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)或 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降 a 與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者 。 UCL X LCL UCL X LCL 均值失控的過程（點(diǎn)離過程均值太近） 均值失控的過程（點(diǎn)離控制限太近） 35 識別并標(biāo)注所有特殊原因（均值圖） a 對于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進(jìn)行一次過 程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)， 防止再發(fā)生。 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 3 9 6 3 3 0 5 7 8 42 計算過程能力 過程能力 是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格 界限的距離，用 Z來表示。 1≤Cpk≤,說明制程能力可以 ， 但需改善 。見下表： 注： 在樣本容量低于 6時，沒有標(biāo)準(zhǔn)差的下控制限。 3 過程控制分析（同 XR） 4 31 凡是超出控制限的點(diǎn)，連成鏈或形成某種趨勢的都必須進(jìn)行特 5 殊原因的分析，采取適當(dāng)?shù)拇胧?。 56 改善 操作者對超出控制限的極差或中位數(shù)采取適當(dāng)?shù)拇胧┻M(jìn)行改善，或通知管理人員。見下表： 4 過程控制解釋（同其他計量型管制圖） 5 5 過程能力解釋 δ= R / d2 = δ R / d2 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 7 8 1 0 2 6 2 8 D3 * * * * * 8 4 8 2 E2 7 6 9 8 1 5 1 8 樣本容量小于 7時，沒有極差的控制下限。 8112 計算每個子組內(nèi)的不合格品率 （ P） P=np /n n為每組檢驗的產(chǎn)品的數(shù)量； np為每組發(fā)現(xiàn)的不良品的數(shù)量。 B、 分別找出樣本容量超出該范圍的所有子組和沒有超出該范圍 的子組。 過程惡化。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（明顯偏離均值的值已被調(diào)換或刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離均值很近之處（對于 25 子組，如果只有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域）則應(yīng)對下列 情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： 控制限或描點(diǎn)計算錯描錯 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個 不同平均性能的過程流的測量 8132 尋找并糾正特殊原因 當(dāng)有任何變差時，應(yīng)立即進(jìn)行分析，以便識別條件并防止 再發(fā)生，由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的， 希望操作者和檢驗員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。 8231 計算上下控制限 USLnp=np + 3 np(1p) LSLnp=np 3 np(1p) p 為過程不良品率 , n 為子組的樣本容量。 832 數(shù)據(jù)的收據(jù) 8321 檢驗樣本的容量（零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度 等）要求相同，這樣描繪的 C值將反映質(zhì)量性能的變化而 不是外觀的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。 8133 重新計算控制限 初次研究，應(yīng)排除有變差的子組，重新計算控制限。 測量系統(tǒng)已改變或過程性能已改進(jìn)。 3 P ( 1 – P ) / n = P 177。 8114 將不合格品率描繪在控制圖上 a 描點(diǎn) ， 連成線來發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢 。見下表： 注 ： 只有過程受控，才可直接用 δ的估計值來評價過程能力 。 11 移動圖的三中用法： a 單值 b 移動組 c 固定子組 數(shù)據(jù)收集 （ 基本同 XR ） 21 在數(shù)據(jù)圖上 ， 從左到右記錄單值的讀數(shù) 。 4 過程能力的分析 （同 XR） 5 估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差： 6 δ= R / d2 7 注：只有中位數(shù)和極差處于受控狀態(tài)，才可用 δ的估計值來評價過程 8 能力。見下表： 當(dāng)需要計算過程能力時；將 σ 帶入 XR圖 42的公式即可。 均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（ Xs圖） 一般來講 ， 當(dāng)出現(xiàn)下列一種或多種情況時用 S圖代替 R圖： a 數(shù)據(jù)由計算機(jī)按設(shè)定時序記錄和 /或描圖的 ， 因 s的計算程序 容易集成化 。 422 對于雙向容差，計算： Zusl=(USLX) / σ Zlsl=(XLSL) / σ Z=Min{ Zusl。 36 重新計算控制限（均值圖） 在進(jìn)行首次過程研究或重新評定過程能力時，要排除已發(fā)現(xiàn) 并解決了的特殊原因的任何失控點(diǎn)，然后重新計算并描畫過程 均值 X 和控制限，使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。 不受控制的過程的均值（長的上升鏈） 不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈） UCL X LCL UCL X LCL 343 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢；