工程光學(xué)12-5典型雙光束干涉系統(tǒng)及其應(yīng)用(完整版)
【正文】 , 并精確測出光速 , 獲 1907 諾貝爾物 理獎。 十字叉絲 等厚條紋 S M1 M2 G1 G2 E M2? a1 a1′ a2 a2′ 半透半反膜 補(bǔ)償板 反射鏡 反射鏡 光源 觀測裝置 虛薄膜 a ?45邁克耳孫等傾干涉 邁克耳孫等厚干涉 2???? Nh三 、 光程差計算 ∵ M2′M1為虛薄膜， n1=n2=1 ∴ 光束 a2′和 a1′無半波損失且入射角 i1等于反射角 i2 2cos2 ih??四 、 極值條件 ?2cos2 ih )2,1,0( ??j?j相長 2)12( ??j相消 若 M 1平移 ?h時光程差改變 2?h 干涉條紋移過 N條 ?Nh ??2)(j)(g)(f )(e)(d)(c)(b)(a )(i)(h1M2M?1M1 111M11M1M1M2?2M?2?2?2?2?2?2?2?)abc )de)(f )(g)(h)(i )(j干涉條紋和虛空氣膜的對應(yīng)關(guān)系 等傾和等厚干涉 邁克耳孫干涉儀 三 、 應(yīng)用： ▲ 測折射率： ▲ 測量微小位移 l n 光路 a2中插入待測介質(zhì) ， 產(chǎn)生 附加光程差 ln )1(2 ???由此 可測折射率 n 。光束在 平行于樣品表面的方向進(jìn)行掃 描測量，可得到橫向的數(shù)據(jù)。 （ 2）樣品反射光脈沖強(qiáng)度的處理 （ 3） OCT成像的特點： 即使透明度很差的樣品 ,仍可得到清晰的圖像。 (2)由于物體變化所產(chǎn)生的多普勒頻移信息是載于穩(wěn)定的差頻上，且其頻率較高（幾兆至 100兆赫） ,因此，光電探測時避過了激光器的低頻噪聲和半導(dǎo)體器件
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