電鏡的近期發(fā)展(完整版)
【正文】 電鏡在材料科學中的應(yīng)用可以說是經(jīng)歷了三個高潮： 1） 5060年代的薄晶體中位錯等晶體缺陷的衍襯像的觀察； 2） 70年代極薄晶體的高分辨結(jié)構(gòu)像及原子像的觀察； 3） 80年代興起的分析電鏡的對納米區(qū)域的固體材料，用 X射線能譜或電子能量損失譜進行成分分析及用微束電子衍射進行結(jié)構(gòu)分析。 圖 硅 [110]晶向的結(jié)構(gòu)像 結(jié)構(gòu)像的襯度 SEM像襯之三 — 位相襯度 在 SEM質(zhì)厚襯度成像時，一般是用物鏡光闌擋掉散射光束，使透射束產(chǎn)生襯度。 以位相襯度形成的單原子像或結(jié)構(gòu)像的觀測標志著電鏡已得到了重大發(fā)展。前者是一個薄壁容器，一側(cè)可通大氣。 如果利用彈性散射和非彈性散射電子的強度差，形成一幅組合圖像可以直接顯示單個重原子或原子排列 (即高分辨像 )。 (3) 因在樣品下裝有一套能量分析器，所以掃描透射電鏡可以獲得更多電子束與樣品相互作用的信息。 為了克服這些缺點，低真空掃描電鏡應(yīng)運而生。 (1)可在氣相或液相存在的環(huán)境中觀察樣品，避免干燥損傷和真空損傷 (2)可連續(xù)觀察材料反應(yīng)動力學過程 演講完畢，謝謝觀看！ 。低真空掃描電鏡是指其樣品室外于低真空狀態(tài)下，氣壓可接近 3kPa。 另外，在電鏡的發(fā)展過程中，人們還致力于發(fā)展電鏡的各種附件，僅樣品臺一項就近十種，譬如有拉伸、高溫、低溫、壓縮、彎曲、壓痕以及切削等樣品臺。這在普通成像時，由于成像透鏡在樣品之后，不同能量的透射電子通過透鏡后將產(chǎn)生色差。這樣，人們可以
教學課件相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1