【正文】 繁雜 保養(yǎng)不當 設計不良 老舊 未 鎖緊 松動 拿取不良 新手 技術差 無訓練 無 獎懲辦法 不配合 厚度不均 變形 材質不良 品質不一 不耐高溫 成板不良 堆太高 來源多 特性要因分析例 : 29 (三 ).畫制特性要因分析圖應注意之事項 : 1. 制作特性要因圖時 ,以一組人 (約 4~7人 )透過腦力激 蕩術 , 一起討論效果最佳 。 10克 ,今為了解該制品之重量分配情形 ,由檢驗小組抽測 50個制品之重量 ,并記錄如下表 : 107 95 103 100 97 101 104 98 101 102 101 96 107 103 101 103 98 105 99 110 92 98 97 100 106 105 108 109 101 104 94 104 112 105 109 103 102 98 99 103 102 100 95 99 96 102 97 103 106 102 39 步驟二 :決定數(shù)組 組數(shù)依據(jù)個數(shù)之大小而定 數(shù)據(jù)個數(shù) 組數(shù) 50以下 57 50~100 610 100~250 712 250以上 1020 也可將數(shù)據(jù)個數(shù)開根號求得 ,如數(shù)據(jù) 50個 ,則 n=7(組 ) 40 步驟三 :決定組距 組距 =(最大值 最小值 )/組數(shù) 從數(shù)據(jù)中找出最大值及最小值并代入 組距 =(11292)/7=≈3 步驟四 :決定組界并作次數(shù)分配表 組界 =最不值 測定值之最小單位數(shù) /2 =921/2= 次數(shù)分配表 (見右表 ) 組界 次數(shù) ~ 2 ~ 7 ~ 10 ~ 15 ~ 9 ~ 5 ~ 2 合計 50 41 步驟五 :作直方圖并將規(guī)格值畫上 ,注明履歷 0 5 10 15 20 To:100 Su:110 SL:90 履歷 : 制品名 制造日期 特性 測定者 工程別 作圖者 42 (三 )、直方圖看法及其功用 常態(tài)型 :表示制程正常 離島型 :表示制程異常 ,可能測定有誤或設備調整有誤 缺齒型 :表示制程異常 ,可能測定者對數(shù)據(jù)有偏好 A B C 43 絕壁型 : 表示制程異常 ,可能是經(jīng)過全檢者 雙峰型 : 表示制程異常 ,可能有兩個群體混批 偏態(tài)型 : 表示制程異常 , 可能收集數(shù)據(jù)時無法收集到高或低的數(shù)據(jù)使然 D E F (三 )、直方圖看法及其功用 44 SL SU SU SL SL SU SU SL 制品合格 有不合格品 (超下限 ) 有不合格品 (超上限 ) 有不合格品 (超上、下限 ) 45 Cp、 Ca及 Cpk以了解制程能力 ,作為 改善制程之參數(shù) Cp:制程能力指數(shù) (雙邊規(guī)格時 ) Cp = T/6δ = (SU － SL)/6δ = (規(guī)格上限－規(guī)格下限 )/6標準差 (單邊規(guī)格時 ) Cp = (SU － X )/3δ 或 ( X－ SL)/3δ δ :推定標準差＝ Σ Xi － (Σ Xi ) /n n－ 1 2 2 46 對 Cp之判定 圖示 Cp Cp≧ 1≦ Cp＜ Cp＜ 1 說明 合格 只要抽檢即可 危險 有可能不良 ,需要 特別注意 不合格 要檢討規(guī)格、 全檢或改善制 程縮小變異 SL SU SL SU SL SU 47 對 Ca(精確度 )之判定 Ca＝ X－ T0 (SU－ SL)/2 100 Ca值 (%) 判級 0~ A ~25 B 25~50 C 50以上 D 48 對 Cpk(偏差的制程能力指數(shù) )之判定 Cpk＝ Cp(1－ Ca) Cpk＝ (T－ 2A)/6δ 或 其中 T＝ SU－ SL A＝ X－ T0 Cpk 制程判定 Cpk≧ 合格 1≦Cpk ≦ 危險 Cpk ＜ 1 不合格 49 七、管制圖 (Control Chart) (一 )、何謂管制圖 管制圖是美國 貝爾電話研究所的休哈特 () 博士于 1925年發(fā)明的 ,其作用是分析和判斷制程是否處于管制狀態(tài)所使用的帶有管制界限的圖 (二 )、管制圖原理 制程正常且處于管制狀態(tài)時 ,產(chǎn)品的品質特性數(shù)據(jù)的分布一般服從正態(tài)分布規(guī)律 6o u +3o內(nèi) : P=% +3o外 : P=% (三 )、管制圖構成 如右圖示 x P(x) 3o 3o 品質特性值 抽樣時間或樣本序號 50 A 按統(tǒng)計量及測定值性質 管制圖有多種 ,但常用者為 : : X－ R Chart(平均值全距管制圖 ) X－ Rs Chart(個別值－移動全距管制圖 ) : P－ chart(不良率管制圖 )