【摘要】基極電阻把基極電流IB從基極引線經(jīng)非工作基區(qū)流到工作基區(qū)所產(chǎn)生的電壓降,當(dāng)作是由一個(gè)電阻產(chǎn)生的,稱這個(gè)電阻為基極電阻,用rbb’表示。由于基區(qū)很薄,rbb’的截面積很小,使rbb’的數(shù)值相當(dāng)可觀,對(duì)晶體管的特性會(huì)產(chǎn)生明顯的影響。以下的分析以NPN管為例。(1
2025-07-25 07:03
【摘要】第三章雙極型晶體管的直流特性內(nèi)容雙極晶體管基礎(chǔ)均勻基區(qū)晶體管的電流放大系數(shù)緩變基區(qū)晶體管的電流放大系數(shù)雙極晶體管的直流電流電壓方程基極電阻雙極晶體管的基礎(chǔ)由兩個(gè)相距很近的pn結(jié)組成:分為:npn和pnp兩種形式基區(qū)寬度遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于少子擴(kuò)散長(zhǎng)度發(fā)射區(qū)集電區(qū)基區(qū)發(fā)射
2025-04-29 01:25
【摘要】電氣工程學(xué)院ElectricalEngineeringInstituteofNEDU第1章電力電子器件電力電子器件概述不可控器件——二極管半控型器件——晶閘管典型全控型器件其他新型電力電子器件電力電子器件的驅(qū)動(dòng)電力電子器件的保護(hù)電力電子器件的串聯(lián)和并聯(lián)使用2023/3/1
2025-01-01 01:32
【摘要】對(duì)電力電子器件應(yīng)用技術(shù)發(fā)展的思考-----------------------作者:-----------------------日期:對(duì)功率電子器件應(yīng)用技術(shù)發(fā)展的思考內(nèi)容提要:功率電子技術(shù)誕生于晶閘管產(chǎn)生的1957年。發(fā)展到如今,就功率電子器件而言,早已從半控型的晶閘管進(jìn)入以IGBT、功率MOSFET為代表的全控型器件的時(shí)代。
2025-06-17 13:40
【摘要】目錄第一章電力電子元器件行業(yè)概述........................3電力電子元器件產(chǎn)品概述................................3電力電子器件的今后發(fā)展動(dòng)向............................3第二章、電力電子元器件應(yīng)用領(lǐng)域分析預(yù)測(cè).................4變頻器-
2024-12-15 21:21
【摘要】微電子器件與工藝課程設(shè)計(jì)?設(shè)計(jì)一個(gè)均勻摻雜的pnp型雙極晶體管,使T=300K時(shí),β=100。VCEO=15V,VCBO=70V.晶體管工作于小注入條件下,最大集電極電流為IC=5mA。設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)盡量減小基區(qū)寬度調(diào)制效應(yīng)的影響。設(shè)計(jì)任務(wù)具體要求:1、制造目標(biāo):發(fā)射區(qū)、基區(qū)、集電區(qū)的摻雜濃度;發(fā)射結(jié)及集電結(jié)的結(jié)深
2024-12-27 20:50
【摘要】1、若某突變PN結(jié)的P型區(qū)的摻雜濃度為,則室溫下該區(qū)的平衡多子濃度pp0與平衡少子濃度np0分別為()和()。2、在PN結(jié)的空間電荷區(qū)中,P區(qū)一側(cè)帶(負(fù))電荷,N區(qū)一側(cè)帶(正)電荷。內(nèi)建電場(chǎng)的方向是從(N)區(qū)指向(P)區(qū)。[發(fā)生漂移運(yùn)動(dòng),空穴向P區(qū),電子向N區(qū)]3、當(dāng)采用耗盡近似時(shí),N型耗盡區(qū)中的泊松方程為()。由此方程可以看出,摻雜濃度越高,則內(nèi)建電場(chǎng)的斜率越(大)。4、PN結(jié)的摻
2025-04-17 01:15
【摘要】光電子器件理論與技術(shù)主講人:婁淑琴電學(xué)(或電子學(xué))和光學(xué)(或光子學(xué))在表面看來是兩個(gè)獨(dú)立的學(xué)科。在深入研究的過程中,人們發(fā)現(xiàn)兩者有著非常密切的內(nèi)在聯(lián)系。光與電打交道的第一個(gè)回合是19世紀(jì)60年代麥克斯韋提出的光的電磁波理論,他明確指出無線電波和光波都是電磁波。光和電第一個(gè)回合
2025-08-01 12:32
【摘要】1.光輻射的度量2.光電探測(cè)器的響應(yīng)特性3.光電子器件的探測(cè)率4.光吸收光電器件的基本特性1.光輻射的度量光輻射的度量方法有兩種:一種是客觀的度量方法,研究各種電磁輻射的傳播和量度,稱為輻射度學(xué)參量.適用于整個(gè)電磁譜區(qū).另一種是主觀的計(jì)量方法,以人眼見到的光對(duì)大腦的刺激程度來對(duì)光進(jìn)行計(jì)量的
2025-05-11 01:31
【摘要】 電子器件失效分析學(xué)習(xí)心得 《電子器件失效分析及可靠應(yīng)用》-----學(xué)習(xí)心得 通過8月5日、6日兩天的學(xué)習(xí)培訓(xùn),結(jié)合我司的實(shí)際情況,總結(jié)以下幾點(diǎn)學(xué)習(xí)體會(huì)。 一、電子器件失效的理念。 失效分析...
2024-09-29 14:05
【摘要】DOCUMENTNO:發(fā)行版本VERSION:頁數(shù)PAGINATION:69
2025-04-12 04:00
【摘要】微電子器件可靠性習(xí)題第一、二章數(shù)學(xué)基礎(chǔ)1.微電子器件的可靠性是指產(chǎn)品在 規(guī)定條件下和規(guī)定時(shí)間內(nèi);完成 規(guī)定功能的能力。2.產(chǎn)品的可靠度為R(t)、失效概率為F(t),則二者之間的關(guān)系式為R(t)+F(t)=1。3.描述微電子器件失效率和時(shí)間之間關(guān)系的曲線通常為一“浴盆”,該曲線明顯分為三個(gè)區(qū)域,分別是早期失效期、偶然失效期和耗損失效期
2025-03-25 01:56