ds18b20數(shù)字溫度計(jì)設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)報(bào)告(1)(完整版)
【正文】 誤差在177。其缺點(diǎn)如下：● 硬件電路復(fù)雜；● 軟件調(diào)試復(fù)雜；● 制作成本高。系統(tǒng)可用兩節(jié)電池供電。P0口：P0口為一個(gè)8位漏級(jí)開(kāi)路雙向I/O口，每腳可吸收8TTL門(mén)電流。P1口管腳寫(xiě)入1后，被內(nèi)部上拉為高，可用作輸入，P1口被外部下拉為低電平時(shí)，將輸出電流，這是由于內(nèi)部上拉的緣故。P2口當(dāng)用于外部程序存儲(chǔ)器或16位地址外部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器進(jìn)行存取時(shí)，P2口輸出地址的高八位。RXD（串行輸入口）在平時(shí)，ALE端以不變的頻率周期輸出正脈沖信號(hào)，此頻率為振蕩器頻率的1/6。注意加密方式1時(shí)，/EA將內(nèi)部鎖定為RESET；當(dāng)/EA端保持高電平時(shí)，此間內(nèi)部程序存儲(chǔ)器。有余輸入至內(nèi)部時(shí)鐘信號(hào)要通過(guò)一個(gè)二分頻觸發(fā)器，因此對(duì)外部時(shí)鐘信號(hào)的脈寬無(wú)任何要求，但必須保證脈沖的高低電平要求的寬度。 在9位分辨率時(shí)最多在 ，12位分辨率時(shí)最多在750ms內(nèi)把溫度值轉(zhuǎn)換為數(shù)字，速度更快。在讀出時(shí)必須進(jìn)行CRC校驗(yàn)，校驗(yàn)有錯(cuò)時(shí)不能進(jìn)行溫度數(shù)據(jù)的改寫(xiě)。 發(fā)DS18B20復(fù)位命令 發(fā)跳過(guò)ROM命令 發(fā)溫度轉(zhuǎn)換開(kāi)始命令 結(jié)束 計(jì)算溫度子程序 計(jì)算溫度子程序?qū)AM中讀取值進(jìn)行BCD碼的轉(zhuǎn)換運(yùn)算，并進(jìn)行溫度值正負(fù)的判定。由于DS18B20的精度很高，℃以內(nèi)。在進(jìn)行實(shí)驗(yàn)的過(guò)程中，我們了解并熟悉DS18BAT89C51的工作原理和性能?？傊?，通過(guò)自己在實(shí)驗(yàn)室動(dòng)手制作數(shù)字溫度計(jì)，不僅將課本的知識(shí)與實(shí)踐相結(jié)合，而且在實(shí)踐中更加深入了解書(shū)中原本抽象的知識(shí)。bit f=0。i++) for(j=0。 DQ=0。i) { DQ=0。i0。f=0。temph=ds1820rd()。 }}tempdp=(templamp。 TempTab[2]=tempint%10。 else P1=discode[j]。 distemp()。 P2=0xff。 } for(i=0。+templ=4。0xf8)!=0x00) { f=1。ds1820wr(0xcc)。 DQ=wdataamp。 DQ=1。 DQ=1。j++) { _nop_()。uchar TempTab[4]。7. 附 錄源程序代碼//includeincludeincludedefine uchar unsigned chardefine uint unsigned int//bit flag。在課程設(shè)計(jì)的過(guò)程中，也遇到了一些問(wèn)題。DS18B20溫度計(jì)還可以在高低溫報(bào)警、遠(yuǎn)距離多點(diǎn)測(cè)溫控制等方面進(jìn)行應(yīng)用開(kāi)發(fā)，但在實(shí)際設(shè)計(jì)中應(yīng)注意以下問(wèn)題；，總線上掛接點(diǎn)數(shù)較多且同時(shí)進(jìn)行轉(zhuǎn)換時(shí)要考慮增加總線驅(qū)動(dòng)，可用單片機(jī)端口在溫度轉(zhuǎn)換時(shí)導(dǎo)通一個(gè)MOSFET供電?，F(xiàn)實(shí)數(shù)據(jù)刷新子程序流程圖如下右圖所示.溫度數(shù)據(jù)移入顯示寄存器 開(kāi)始計(jì)算小數(shù)位溫 度BCD值十位數(shù)0？ 溫度零下？計(jì)算整數(shù)位溫 度BCD值百位數(shù)0？置+標(biāo)志溫度值取補(bǔ)碼置‘一’標(biāo)志百位數(shù)顯示數(shù)據(jù)（不顯示符號(hào)）十位數(shù)顯示符號(hào)百位數(shù)不顯示結(jié)束 結(jié)束
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