節(jié)點(diǎn)特征分析nsa技術(shù)培訓(xùn)教材(完整版)
【正文】 ，用歐姆表（多用表）等廉價(jià)簡便的測試工具，靠相應(yīng)的知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)，對(duì)電路節(jié)點(diǎn)的“阻抗特性”進(jìn)行分析的簡便測試。電路由元件組成。邏輯特征是數(shù)字邏輯電路節(jié)點(diǎn)獨(dú)有的特性表征。國內(nèi)外還有一些廠商也生產(chǎn)此類儀器。我們認(rèn)為，稱其為NSA（Nodal Signature Analysis），即“節(jié)點(diǎn)特征分析”更為合適。 ST功能既適用于模擬電路，也適用于數(shù)字電路；既適用于分立元件，也適用于集成電路。電路節(jié)點(diǎn)的阻抗特性是電路的固有特性，不會(huì)依外部條件而改變，但是，特征圖ST卻會(huì)因激勵(lì)條件的不同而顯現(xiàn)不同。前幾年，F(xiàn)LUKE公司在其新型圖形多用表867B型GMM中加入了具有ST功能的“元件測試”功能。l 廉價(jià)實(shí)用的“多用特征圖示儀”GM128A型多用特征圖示儀Signature Trace Multimeter是具有較強(qiáng)ST功能的一種新型多用表。因?yàn)槿魏螐?fù)雜的器件或電路都是這四種元件的組合，它們的特征圖中必定包含這四種典型特征的“痕跡”。電容是“慣性元件”，會(huì)引起電流對(duì)電壓的“超前”，即產(chǎn)生所謂的“相移”，因此，它的特征圖是一個(gè)軸長正比于電容量的橢圓或圓（圖6）。復(fù)雜或合成的特征，是這四種基本典型特征的組合。以下是一些常見的故障特征：在二極管或“椅子圖”上直線部分的彎曲或拐角變圓使我們可以看到漏電流的存在（圖13）。 我們將分別介紹每種方法，首先是最吸引人的比較法，大概有95% 的情況要用到它。只要多用善用多交流，SA技術(shù)和ST功能一定會(huì)成為您的得力幫手。 絕大多數(shù)情況下，在測試由集成電路、晶體管、電阻、電容等構(gòu)成的電路時(shí)先選用峰值為3V的M量程。 原則上，選用最接近被測節(jié)點(diǎn)間估計(jì)阻抗值的Rs。 原則上，電容或電感較大時(shí)選用較低的頻率Fs，反之選用較高的頻率Fs。7．4 使用NST的一般方法和原則NST，即節(jié)點(diǎn)特征圖示儀器的主要功能是電路診斷，其次才是元件測試。 NST的使用，并不苛求使用者有較高的技術(shù)水平與較完備的技術(shù)資料。同時(shí)我們將發(fā)現(xiàn)，不管引腳的數(shù)量有多大，在IC中僅僅只有少量幾種明顯不同的特征圖形。然后，依實(shí)測情況分別進(jìn)行調(diào)整。從“OUT”插孔可輸出“閘門”信號(hào)。當(dāng)診斷修理一個(gè)完整的電路模塊時(shí)，例如插件式電路板，按下列次序檢驗(yàn)特征：邊緣連接器——其它連接器——大的 ICs——小的 ICs ——其它元件。7．5 典型示范例1， 從一個(gè)儀器面板的測試插孔中得到的特征圖看到了儀器內(nèi)部輸入通道的IC損壞例2， ADuC812的Vref端損壞例3， 變壓器的二次側(cè)的短路引起的特征圖形的變化例4， 用“GATE”O(jiān)UT在線測試4463型MOSFET例5， 典型的器件74HC14在線測試的好壞特征圖形的照片例6，可編程器件CPLDLC4064在線測試的好壞特征圖形的照片 例7，GM128A中的U9集成模擬開關(guān)ADG411第10腳上好壞兩種特征圖11 / 11。因?yàn)殡娫醋儔浩鞔渭?jí)側(cè)的短路會(huì)“反射”耦合到與插頭相連的初級(jí)側(cè)，引起特征圖的變異。下一節(jié)“典型示范”中會(huì)以實(shí)例作介紹。在NST儀器上，將帶探針的紅色測試線插入 “+”插孔，帶“鱷魚夾”或探針的黑色測試線插入 “COM”插孔。許多數(shù)字電路含有成組的信號(hào)總線，用來并行地傳送數(shù)據(jù)或信號(hào)（例如，CPU、ROM、RAM、I/O接口等大規(guī)模集成電路的數(shù)據(jù)/地址總線）。相反，通過NST的使用，你能獲得知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)。NST 的使用與普通多用表一樣簡便。測試集成電路通常使用較低的頻率Fs。無法作出估計(jì)時(shí)，可由大到小進(jìn)行試探，以圖形明顯適用為佳。若要“濾去”PN結(jié)的影響，或測試某種電感時(shí)。7． 用ST功能進(jìn)行電路診斷和元件測試在第3章中已經(jīng)指出，掃描幅度Vs、掃描頻率Fs與限流電阻Rs是影響特征圖ST的三個(gè)基本要素。完好的參考對(duì)象可能是下述的其中之一：一、 同類產(chǎn)品之間；二、 相同的電路板組件之間；三、 同一電路板組件上相同的電路單元或電路通道之間；四、 一個(gè)器件或集成電路上相同的單元或通道，如74HC14的六個(gè)反相器相互之間；五、 CPU、RAM、ROM、接口芯片等大規(guī)模集成電路
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