【正文】 (表117)故障率 溫度應力 (表117)故障率 溫度應力 (表117)數字集成電路 規(guī)模 標稱值120門 152150 4051100 80101500 4005011000 80010012000 160020013000 250030015000 400050017500 6500750110000 90001000115000 30001500120000 80002000130000 50003000150000 4000021 622 623 629 633 639 642 647 652 656 6 61 6 65 670 677 627 829 830 839 845 852 858 865 8 73 879 886 893 8100 8110 815 815 815 817 818 819 820 821 8 22 823 824 825 826 827 8微處理器 規(guī)模 標稱值120門 152150 4051100 80101500 4005011000 80010012000 160020013000 250030015000 400050017500 6500750110000 90001000115000 130001500120000 180002000130000 250003000150000 4000010 611 611 6 14 616 619 621 624 626 628 631 633 636 640 631 833 835 850 860 875 886 8100 8117 8130 8147 8164 8183 8213 815 815 815 817 818 819 820 821 822 823 824 825 826 827 81. 表111中所有的集成電路的故障率是在質量等級為II 級下的值,為區(qū)分密封和非密封兩種情況,應采用不同的質量因子(見表114). 表111中給出的基本故障率適用于傳統(tǒng)(過孔)和表面貼技術()2. 故障率單位為小時.3. 門數為器件電路圖中的邏輯門數4. 微處理器包括與其相關的外圍電路表111 器件故障率(3/16) 器件類型 故障率(表117) 模擬集成電路 規(guī)模 標稱值 132 晶體管 20晶體管3390 7091170 150171260 200261360 300361470 450471590 550591720 700721860 80019 933 946 952 962 974 981 990 995 9混合微電路見表1121. 表111中的故障率都是在質量等級II級(見114)下的值. 表111中給出的基本故障率適用于傳統(tǒng)的(過孔)和表面貼工藝()2. 故障率單位為小時.表111 器件故障率(4/16)器件類型雙極型NMOSCMOS故障率 溫度應力 (表117)故障率 溫度應力 (表117)故障率 溫度應力 (表117)RAM規(guī)模 標稱值1320比特 256比特321576 5125771120 1K11212240 2K22415000 4K500111000 8K1100117000 16K1700138000 32K3800174000 64K74001150,000 128K150,001300,000 256K300,001600,000 512K600,0011,200,000 1024K1,200,0012,400,000 2048K2,400,0014,800,000 4096K靜態(tài)19 722 727 734 743 655 671 692 6119 6155 6201 6 261 6 339 6441 6573 6靜態(tài)15 917 920 924 9 30 937 945 957 971 8 88 8110 8138 8172 8215 8268 8靜態(tài)13 915 917 920 924 929 935 942 950 961 873 8 88 8106 8128 8155 8規(guī)模