【正文】 、色容差等。現(xiàn)場照明環(huán)境數(shù)量指標(biāo)：照度、亮度。燈具空間亮度分布(閃亮面積、平均亮度、眩光) 照明產(chǎn)品性能 體系圖 燈具配光性能測試系統(tǒng)電光色參數(shù)測試系統(tǒng)光輻射生物安全測定系統(tǒng)照明產(chǎn)品性能LED（含溫度特性試驗(yàn)）加速老化和壽命測試系統(tǒng) (燈和燈具) 現(xiàn)場環(huán)境測試系統(tǒng)色坐標(biāo)、容差、顯色性色溫光譜峰值波長等空間分布電壓、電流、功率因數(shù)總照明功率總光通量眩光值GR顯色性Ra亮度L(cd/m3)照明功率LPD(w/m2)照度E(lx)統(tǒng)一眩光值UGR照度均勻度反射比(系統(tǒng)測量)光譜光色CRI(K)光強(qiáng)亮度顏色其它常用電光色參數(shù)UF光效lm/w柱面半柱面其他公常室共用內(nèi)建房不筑間舒和與適工場眩業(yè)所光建 評(píng)筑 價(jià)室不外舒如適體眩育光場評(píng)所價(jià)照明工程質(zhì)量指標(biāo)電源效率燈具效率 照明產(chǎn)品性能 燈與燈具產(chǎn)品的部分執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)序號(hào)執(zhí) 行 標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)、名 稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號(hào)及名稱備 注1LED燈具電光色參數(shù)測試系統(tǒng)HAAS2000高精度快速光譜輻射計(jì)。它應(yīng)能滿足照明產(chǎn)品自身的三大測量內(nèi)容：? 極大部分的電、光、色參數(shù) ? 光色度空間分布參數(shù)與分布曲線? 現(xiàn)場照明工程質(zhì)量指標(biāo)。提供正確的技術(shù)結(jié)果，滿足上述要求并包含與ISO9001中與實(shí)驗(yàn)室有關(guān)的條款。柏宜照明中心實(shí)驗(yàn)室綜合能力與公司已有實(shí)驗(yàn)條件、生產(chǎn)條件、質(zhì)量考核條件會(huì)有重復(fù)，但有明顯的差別，柏宜中心實(shí)驗(yàn)室將以更高的技術(shù)層次，更深的專業(yè)深度、更強(qiáng)的產(chǎn)業(yè)實(shí)力為企業(yè)自身與社會(huì)提供服務(wù)。作為主要策劃人，我個(gè)人在技術(shù)認(rèn)識(shí)與組織實(shí)施上的局限性是顯而易見的，因長期工廠的工作經(jīng)歷，認(rèn)識(shí)深度有限，相關(guān)經(jīng)驗(yàn)不夠，精力、體力有限，能不犯或少犯錯(cuò)誤，不貽誤公司的事業(yè)發(fā)展就是萬幸。我國有政府性質(zhì)的各級(jí)檢測、檢驗(yàn)第三方機(jī)構(gòu)，也擁有許多民營的檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)(獨(dú)立的/由企業(yè)投資形成的)。他們有以下各種內(nèi)容組合構(gòu)成。3 推動(dòng)企業(yè)技術(shù)進(jìn)步中心實(shí)驗(yàn)室的建立是公司長期規(guī)劃的中心內(nèi)容之一，當(dāng)然這需要龐大的資金、優(yōu)秀的組織、相當(dāng)?shù)臅r(shí)間積累。? 有活躍、暢通、及時(shí)的情報(bào)資料室(包括標(biāo)準(zhǔn)、檔案、科技信息資料的收藏量及信息研究、辦公物質(zhì)條件等)。實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)室建設(shè)項(xiàng)目設(shè)計(jì)方案實(shí)驗(yàn)室(試驗(yàn)室)規(guī)劃 設(shè)計(jì)思想 xsp113 公司從首次技術(shù)改造(廠房規(guī)劃與建立實(shí)驗(yàn)室)以來將近4年。2 實(shí)驗(yàn)室功能強(qiáng)大的實(shí)驗(yàn)室(試驗(yàn)室)，有許多功能： 有效跟蹤、監(jiān)督各級(jí)產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)(國際、國家、行業(yè)、企業(yè))所規(guī)定要求的執(zhí)行情況及變化。 專業(yè)體系圖 專業(yè)體系圖，主要目的是簡明表達(dá)實(shí)驗(yàn)室整體與各專業(yè)的主要工作內(nèi)容，也為內(nèi)涵補(bǔ)充調(diào)整，留下空間。我公司早已有涉及此領(lǐng)域的意愿。所以，我個(gè)人認(rèn)為：視實(shí)驗(yàn)室(試驗(yàn)室)為科技人員的終生課題，也不為過。 2GB/T 270002006/ISO/IEC 17000:2004[合格評(píng)定 詞匯和通用原則]√3GB/T 270112005/ISO/IEC 17011:2004[合格評(píng)定 對(duì)認(rèn)證合格評(píng)定機(jī)構(gòu)的認(rèn)證機(jī)構(gòu)的一般要求]√4GB/T 270252008 /ISO/IEC 17025:2005檢測和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求√5CNASC1012006/ISO/IEC 17025:2005檢測和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則√6GB :2001測量控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求 第1部分 通用要求√7VIM國際通用計(jì)算學(xué)基本術(shù)語8BY/QB00172010實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)（暫行）√9GB/T idt IEC 613261:1997測量、控制和實(shí)驗(yàn)室用的電設(shè)備 電磁兼容性要求 第1部分:通用要求√10主要產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)（性能要求、測試方法、安全）：進(jìn)入到各具體部分 中心實(shí)驗(yàn)室 布置總圖 “遠(yuǎn)方”()提供的經(jīng)我方提出的初步修改意見試驗(yàn)室布置總圖 “柏宜”提供的場地與實(shí)驗(yàn)室規(guī)劃要求? 場地：生產(chǎn)大樓第四樓層，建筑面積3520㎡層高 M/ M(無梁/有梁)。三大測量內(nèi)容部分參數(shù)可以通過軟件計(jì)算自動(dòng)獲得?！　　　　? 可用于：總光通量、光效能質(zhì)量指標(biāo)：顏色、光譜成分、顯色性、反射比、眩光限制、照明均勻度等分析。2 地面建議鋪設(shè)黑色地毯。 市場上的通用設(shè)備規(guī)格與具體產(chǎn)品實(shí)施時(shí)會(huì)有容積與數(shù)量要求無法滿足照明產(chǎn)品特殊的外型、大小懸殊的個(gè)體，是實(shí)施難關(guān)之一。 可靠性與失效分析 體系圖 可靠性與失效分析 耐久性（壽命）失效分析機(jī)械（環(huán)境）氣候（環(huán)境） 電耐久性多應(yīng)力溫度（儲(chǔ)存） 微結(jié)構(gòu)失效熱失效12產(chǎn)品與包裝加速度離心力碰撞（結(jié)構(gòu)強(qiáng)度與撞擊）沖 擊振動(dòng)（隨機(jī)）振動(dòng)（正弦）附高溫應(yīng)力附低溫應(yīng)力溫濕度低 溫高 溫其它失效性能失效溫控儀熱成像分析儀熱阻測試儀X射線應(yīng)用儀視像顯微鏡溫度、電、其他加速壽命間歇壽命恒定壽命181719列入EMC及安規(guī)部分處理自(定)制1178916151413其 他高 溫低 溫高低溫沖擊高低溫循環(huán)恒溫恒濕交變濕熱低氣壓鹽 霧水試驗(yàn)沙 塵多應(yīng)力風(fēng) 壓防紫外防臭氧腐蝕防 雷12106543注：此處編號(hào)為“設(shè)備部分序號(hào)” 可靠性與失效分析 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)(補(bǔ)充修訂)序號(hào)執(zhí) 行 標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)、名 稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號(hào)及名稱備 注1可靠性試驗(yàn)方法GB/T / IEC6006821：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫√GB/T / IEC6006822：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫√GB/T / IEC60068278：2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)√GB/T / IEC60068230：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h12h循環(huán))√GB/T / idt IEC68227：1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊√GB/T / idt IEC68229：1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞√GB/T / idt IEC68230：1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed和導(dǎo)則：自由跌落√GB/T / IEC6006826：1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc：振動(dòng)(正弦)√GB/T / IEC6006827：1986電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度√GB/T / IEC60068210：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J及導(dǎo)則：長霉√GB/T / IEC60068211：1981電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka:鹽霧√GB/T / IEC60068252：1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變（氯化鈉溶液）√GB/T / IEC60068213：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M:低氣壓√GB/T / IEC60068214：2009電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Q:密封√GB/T / idt IEC6825：1975電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽輻射√GB/T / IEC60068240：1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)√GB/T / IEC60068241：1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)√GB/T / IEC60068239：1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)√GB/T / idt IEC68245：1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)XA和導(dǎo)則:在清洗劑浸漬√GB/T / idt IEC681：1988電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)√GB/T / IEC60068238：2009電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)√GB/T / IEC60068250：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)√GB/T / IEC60068251：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)√GB/T / IEC60068268：1994電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L：沙塵試驗(yàn)√GB/T / IEC60068218：2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱√GB/T 電子電工產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 風(fēng)壓試驗(yàn)方法√序號(hào)執(zhí) 行 標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)、名 稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號(hào)及名稱備 注GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 振動(dòng)、沖擊和類似動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)樣品的安裝√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM:氣候順序√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff：振動(dòng)——時(shí)間歷程法√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fe：振動(dòng)——正弦拍頻法√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ke：流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)77：結(jié)構(gòu)強(qiáng)度與撞擊√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Xb：由手的摩擦造成標(biāo)記和印刷文字的磨損√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Xc：流體污染√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eh:錘擊污染√GB/T 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)