【摘要】電子顯微鏡ElectronMicroscope何本橋自我介紹?何本橋,湖北孝感人,?中科院化學(xué)所博士,?韓國培材大學(xué)高級訪問學(xué)者,?測試中心電鏡負(fù)責(zé)人?從事膜結(jié)構(gòu)和性能研究目錄?第一章電子顯微鏡的基礎(chǔ)?第二章透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)、原理及應(yīng)用?第三章電子掃
2025-08-16 02:00
【摘要】1六.單晶電子衍射花樣的分析?排列十分規(guī)則的斑點(平行四邊形的周期重復(fù))?大量強(qiáng)度不等的衍射斑點2O*r*r*SS02?3r=[uvw]O*(h1k1l1)(h2k2l2)(h3k3l3)r1*r2*r3*(uvw)0*hu+kv+lw=0O*零
2025-10-09 17:58
【摘要】1?透射電鏡衍射襯度是由樣品底表面不同部位的衍射束強(qiáng)度存在差異而造成的。要深入理解和正確解釋透射電鏡衍襯像的襯度特征,就需要對衍射束的強(qiáng)度進(jìn)行計算。?動力學(xué)衍射?運(yùn)動學(xué)衍射二.衍襯象運(yùn)動學(xué)原理21.運(yùn)動學(xué)理論的基本假設(shè)?雙束假設(shè)厄瓦爾德球O*g2?Gskk’
2025-01-20 09:04
【摘要】1第四章電鏡顯微圖像解釋23襯度來源?質(zhì)厚襯度:樣品各部分質(zhì)量厚度不同,電子束穿過后強(qiáng)度不同;?衍射襯度:薄晶樣品內(nèi)各點對入射束衍射強(qiáng)度不同;?相位襯度:樣品內(nèi)各點對入射電子作用不同引起相位變化,相位差轉(zhuǎn)化為強(qiáng)度差.4第一節(jié)質(zhì)厚襯度象1.成象原理入射電子與試樣中原子作用產(chǎn)生的電子
2025-03-18 23:23
【摘要】掃描電子顯微鏡及能譜儀(SEM&EDX)測試服務(wù)項目負(fù)責(zé)人:馬文15901622012@儀器簡介掃描電鏡檢測電子束與樣品相互左右后產(chǎn)生的各種物理信號,用于成像或者得到樣品表面的元素信息。它具有分辨率高、景深大、放大倍數(shù)連續(xù)可調(diào)、制樣簡單、保真度好的特點,可廣泛應(yīng)用于企業(yè)生產(chǎn)和科學(xué)研究中的顯微形貌與成分分析中。服務(wù)領(lǐng)域l材料表面形貌觀測;l微粒物質(zhì)
2025-06-24 03:53
【摘要】研究生課程論文《掃描電子顯微鏡在生產(chǎn)生活中的應(yīng)用》課程名稱xxx姓名xxx學(xué)號xxx專業(yè)機(jī)械制造及自動化任課教師xxx開課時間
2025-06-28 15:16
【摘要】1第一章電子光學(xué)基礎(chǔ)與電子透鏡2第一節(jié)電子光學(xué)基礎(chǔ)光的折射n1n2v1v2θγ3光學(xué)透鏡成像ABB’A’FFL1L2f4球差成像誤差5加發(fā)散透鏡消除球差6平面B透鏡平面物
【摘要】電子顯微鏡ElectronMicroscopy何本橋自我介紹?何本橋,湖北孝感人,?中科院化學(xué)所博士,?韓國培材大學(xué)高級訪問學(xué)者,?測試中心電鏡負(fù)責(zé)人?從事膜結(jié)構(gòu)和性能研究課堂要求和風(fēng)格?保持儀容整潔?保持課堂紀(jì)律性(課堂堅決不能出現(xiàn)手機(jī)鈴聲和接聽電話、不準(zhǔn)上課吃東西可以喝
2025-04-13 23:57
【摘要】第八章掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析序?掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡稱SEM)是繼透射電鏡(TEM)之后發(fā)展起來的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學(xué)顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以電子束作為照明源,把聚焦得很細(xì)的電子束以光柵狀掃描方式照射到試樣上,產(chǎn)生各種與試
2025-01-16 16:16
【摘要】項目名稱:場發(fā)射掃描電子顯微鏡設(shè)備采購招標(biāo)編號:0714-EMTC-2366招標(biāo)文件中國電子進(jìn)出口總公司2006年4月目錄第一章投標(biāo)邀請 3第二章投標(biāo)資料表 4第三章投標(biāo)人須知 5第四章合同資料表 16第五章合同條款 17第六章合
2025-07-29 16:27
【摘要】簡述電子顯微鏡的發(fā)展史、原理及其應(yīng)用摘要在德布羅意波的實驗驗證中,由分析衍射條紋得出的波長與德布羅意波長公式的計算結(jié)果符合的很好。這證明電子像X射線一樣具有波動性,同時也證明了德布羅意公式的正確性[1],更為電子顯微鏡的研究提供了理論依據(jù),使得人們對微觀世界的觀察進(jìn)入到一個全新的時期。電子顯微鏡的產(chǎn)生要追溯到19世紀(jì)末的一系列科學(xué)發(fā)現(xiàn)。當(dāng)時Abbe建立
2025-08-18 16:49
【摘要】掃描電子顯微鏡在陶瓷材料中的應(yīng)用1.前言隨著科學(xué)技術(shù)的不斷進(jìn)步,掃描電子顯微鏡(SEM)的質(zhì)量和裝置有了較大的改進(jìn),分辨率和放大倍數(shù)也越來越高,功能越來越齊全。數(shù)字化掃描電子顯微鏡的出現(xiàn),使掃描電子顯微鏡完全由計算機(jī)控制,操作更加簡單、方便。掃描電子顯微鏡主要用于各種材料的微觀分析和成分分析,已經(jīng)成為材料科學(xué)、生命科學(xué)和各生產(chǎn)部門質(zhì)量控制中不可缺少的工具之一。掃描電子顯微鏡
2025-07-21 09:21