普通電阻率測井ppt課件(完整版)
【正文】 相反，高阻層對應(yīng) Ra曲線有低值，在高阻層上下半個電極矩處出現(xiàn)兩個視電阻率極大值，它不反映對應(yīng)深度有高阻層存在。用符號 “ O” 表示。 怎么辦？目前，在非均勻介質(zhì)中，仍采用均勻介質(zhì)中的測量裝置和電阻率計算公式（ 117）Ｒ a＝（ 4π的環(huán)帶。 ΔVMN／Ｉ地球物理測井 —— 巖石的導(dǎo)電特性令Ｋ ＝ 4π地球物理測井 —— 巖石的導(dǎo)電特性均勻無限介質(zhì)電阻率的測量 由（ 1－ 13）式可知，要測量均勻無限介質(zhì)的電阻率，只須在介質(zhì)中放入點電源，測出場中一點的電位 V，在已知供電電流I和測點與電源點的距離 r的情況下，就可以計算出介質(zhì)的電阻率 R。 假定被測定的地層很厚，沒有泥漿侵入，井筒中的泥漿電阻率等于地層的電阻率，則井下介質(zhì)就其導(dǎo)電性，可視為無限均勻介質(zhì)。ＡＭ 沖洗帶電阻率用沖洗帶電阻率用 RXO。ＡＭ 梯度電極系 — “O”為成對電極的中點電位電極系 — “O”為 A、 M電極的中點ANMoANMo地球物理測井 —— 巖石的導(dǎo)電特性電極距 ：表示電極系的長度。地球物理測井 —— 巖石的導(dǎo)電特性視電阻率 Ra曲線的影響因素在進(jìn)行普通電阻率測井時，對測井值的主要影響因素有： 井的影響 — 井眼直徑、泥漿的導(dǎo)電性 非單一巖層的影響 非均勻巖層的影響 傾斜巖層的影響地球物理測井 —— 巖石的導(dǎo)電特性四、普通視電阻率 Ra曲線的應(yīng)用n 劃分層界面（ 用梯度曲線的極大值和極小值確定高阻巖層的層界面 ）n 求地層的 Ra及其地層的真電阻率（ 梯度電極系 : H 3L 讀巖層的平直段 。 H L 讀巖層的極大值 電位電極系 :H L , 讀極大值）n 劃分巖性剖面（例如砂巖高阻、泥巖低阻）n 求含油層的 RO，進(jìn)而求含油飽和度（利用 Archie公式）地球物理測井 —— 巖石的導(dǎo)電特性五、微電極測井及其應(yīng)用微電極測井特點：電極矩小，探測范圍小，貼井壁測量，主要探測泥餅的存在，確定滲透層，可劃分砂泥巖薄交互層和層中的泥質(zhì)或鈣質(zhì)條帶。電位電極系的探測半徑為 2AM梯度電 極系的探測半徑為 AO地球物理測井 —— 巖石的導(dǎo)電特性三、視電阻率曲線特征梯度電極系視電阻率 Ra曲線特征① 高阻厚層（ h＞ L）高阻層對應(yīng)高的視電阻率值，低值層對應(yīng)低的視電阻率值；曲線對地層中部不對稱，底部梯度電極系 Ra曲線在高阻層的底界面有極大值，在頂界面有極小值； 頂部梯度電極系 Ra曲線與此相反 — 這是利用梯度曲線分層劃界的依據(jù)地層厚度 h＞ 3L時，在地層中部有視電阻率平直段， Ra值接近 Rt值。 ΔVMN／ＩRa— 視電阻率， 在綜合條件影響下測得的巖層的電阻率地球物理測井 —— 巖石的導(dǎo)電特性 在所有的影響因素中，地
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