【正文】 件 A發(fā)生的概率很?。ㄈ?），現(xiàn)經(jīng)過一次（或少數(shù)次）試驗(yàn)，事件 A居然發(fā)生了，就有理由認(rèn)為事件 A的發(fā)生是異常。一般情況下大都設(shè)置 α 為 ，即置信度為 。 均值和極差圖（ XbarR）控制圖的判斷準(zhǔn)則 （ 1）點(diǎn)子超出控制界限（包括落在界限上） 由于常規(guī)控制圖確定采用 3σ 原則設(shè)計(jì)控制界限，所以點(diǎn)子超界的小概率也是確定的， σ= （ 2）點(diǎn)子在控制界限內(nèi)排列不隨機(jī)，設(shè)置小概率σ= 。其概率計(jì)算公式為：同樣，經(jīng)過大量概率計(jì)算后，歸納，總結(jié)出以下判斷準(zhǔn)則： a)連續(xù) 7個(gè)點(diǎn)子在中心線一側(cè)，（如圖所示）； b)連續(xù) 11個(gè)點(diǎn)子至少有 10個(gè)點(diǎn)子在中心線一側(cè)； c)連續(xù) 14個(gè)點(diǎn)子中至少有 12個(gè)點(diǎn)子在中線一側(cè)； d)連續(xù) 17個(gè)點(diǎn)子中至少有 14個(gè)點(diǎn)子在中線一側(cè)； e)連續(xù) 20個(gè)點(diǎn)子中至少有 16個(gè)點(diǎn)子在中線一側(cè)；均值和極差圖（ XbarR）控制圖的判斷準(zhǔn)則 （ 2）點(diǎn)子在控制界限內(nèi)排列不隨機(jī)，設(shè)置小概率 α = ③ 點(diǎn)子排列呈現(xiàn) “趨勢 ”（指連續(xù)上升或連續(xù)下降） 判斷準(zhǔn)則：不少于 7個(gè)點(diǎn)子有連續(xù)上升或連續(xù)下降的趨勢時(shí) 過程異常 點(diǎn)子排列呈 “趨勢 ”（指 連續(xù)上升或連續(xù)下降）均值和極差圖（ XbarR）控制圖的判斷準(zhǔn)則 （ 3）點(diǎn)子排列呈 “周期狀 ”（指一定時(shí)間間隔作相同的上升或下降的重復(fù)性排列）均值和極差圖（ XbarR）控制圖的判斷準(zhǔn)則 （ 5）點(diǎn)子過多地集中在中心線附件（指點(diǎn)子過多地落入范圍內(nèi)。 對壞的異常出現(xiàn)時(shí)，應(yīng)通過質(zhì)量分析，找出確切的影響原因，采取措施將異常因素消除。方法如下： b1 估計(jì)過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 σ ? 表示），用現(xiàn)有的子組容量計(jì)算： σ ? =R/d2 式中 R為子組極差的均值（在極差受控期間）， d2為隨樣本 容量變化的常數(shù)，如下表：n 2 3 4 5 6 7 8 9 10d2 均值和極差圖（ XbarR）過程能力分析 如果已經(jīng)確定一個(gè)過程已處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，還存在過程是否有能力滿足顧客需求的問題時(shí)；一般講，控制狀態(tài)穩(wěn)定，說明不存在特殊原因引起的變差，而能力反映普通原因引起的變差，并且?guī)缀蹩傄獙ο到y(tǒng)采取措施來提高能力，過程能力通過標(biāo)準(zhǔn)偏差來評價(jià)。指數(shù)＜ 該過程目前不能滿足接受準(zhǔn)則。單值和移動極差圖（ XMR）單值和移動極差圖 (XMR)計(jì)算控制限單值和移動極差圖（ XMR） 注：式中 為移動極差， 是過程均值， D D E2是隨樣本容量變化的常數(shù)?！霎?dāng)新的過程參數(shù)確定后，這種循環(huán)回轉(zhuǎn)到分析過程。112 計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率（ P） P=np/nn為每組檢驗(yàn)的產(chǎn)品的數(shù)量： np為每組發(fā)現(xiàn)的不良品的數(shù)量113 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 一般不良品率為縱坐標(biāo)，子組別（小時(shí) /天）作為橫坐標(biāo)，縱坐標(biāo)的刻度應(yīng)從0到初步研究數(shù)據(jù)讀讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍。方法如下：A. 確定可能超出其平均值 177。 測量系統(tǒng)已改變或過程性能已改進(jìn)。c）如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離均值很近之處（對于 25子組，如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： 控制限計(jì)算錯或描點(diǎn)描錯 過程或取樣方法被分層，每個(gè)子組包含了從兩個(gè)或多個(gè)不同平均性能的過程流的測量值（如：兩條平行的生產(chǎn)線的混合的輸出）。 使用 Minitab進(jìn)行流程能力分析當(dāng)流程受控穩(wěn)定時(shí)，就可以對流程進(jìn)行流程能力分析選取 Stat Quality Tools Capacity Sixpack (normal)菜單在彈出的對話框如圖進(jìn)行選擇167。并在備注欄中詳細(xì)記錄。 測量系統(tǒng)已改變或過程性能已改進(jìn)。計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖（ P控制圖） 13 過程控制用控制圖解釋：131 分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定的證據(jù)（一個(gè)受控的 P管制圖，落在均值兩側(cè)點(diǎn)的數(shù)量將幾乎相等）。 nkpk分別為每個(gè)子組內(nèi)的不合格的數(shù)目 n1。11 收集數(shù)據(jù)111 選擇子組的容量、頻率和數(shù)量 子組容量： 子組容量足夠大（最好能恒定），并包括幾個(gè)不合格品。n 2 3 4 5 6 7 8 9 10d2 持續(xù)改進(jìn)過程循環(huán)統(tǒng)計(jì)過程控制（ SPC）■在過程改進(jìn)循環(huán)的第三階段，持續(xù)改進(jìn)的價(jià)值只有在變差減小后才能實(shí)現(xiàn)。22 計(jì)算單值間的移動極差（ MR），通常是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間的差值。批準(zhǔn)后即可開始生產(chǎn)，并按照控制計(jì)劃進(jìn)行。b 應(yīng)及時(shí)分析問題，例如：出現(xiàn)一個(gè)超出控制限的點(diǎn)就立即開始分析過程原因。UCLCLLCL1 2 153 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 141點(diǎn)超出控制限 連續(xù) 7點(diǎn)在中心線一側(cè)UCLCLLCL1 2 153 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14連續(xù) 7點(diǎn)上升或下降UCLCLLCL1 2 153 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14連續(xù) 14點(diǎn)交替上升下降UCLCLLCL1 2 153 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14均值和極差圖（ XbarR）167。 ■連續(xù) 7個(gè)點(diǎn)子中至少有 3個(gè)點(diǎn)子接近控制界限； ■連續(xù) 10個(gè)點(diǎn)子中至少有 4個(gè)點(diǎn)子接近控制界限。 若 P≤α ，該事件為異常事件。與風(fēng)險(xiǎn)度 α 相對應(yīng)的是置信度（ 1α ）。 注 1： R圖和 X圖應(yīng)分別分析，但可進(jìn)行比較，了解影響過程的特殊原因。 注：對于還沒有計(jì)算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明 “初始研究 ”字樣。113 子組數(shù)： 子組越多，變差越有機(jī)會出現(xiàn)。樣本組數(shù)的確定：要建立新控制圖和計(jì)算 Cpk, 樣本組數(shù) 20167。167。這一點(diǎn)對尋求持續(xù)改進(jìn)來說是很重要的 。因此無論是望目值質(zhì)量特性，望大值質(zhì)量特性還是望小值質(zhì)量特性，其控制圖同樣存在上、下控制界限和控制中心線。公差界限是產(chǎn)品設(shè)計(jì)的結(jié)果，屬于技術(shù)，質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的范疇，是對產(chǎn)品作 “合格 ”與 “不合格 ”的符合性判斷的依據(jù)。典型分布的破壞可以表現(xiàn)為分布中心或標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ的顯著變化。 控制圖的構(gòu)成m1s1s2s3s2s3s UCL　 上控制限CL　 中心線LCL　 下控制限Out of control Point當(dāng)流程只受共同原因作用，那么流程輸出超出 177。Pp,流程中心 m與規(guī)范中心重合 Ppk,中心值存在偏移 USLLSL６ sLTPp=mLSL3sLTPpL=單側(cè)下限流程性能指數(shù)：USLm3sLTPpU=單側(cè)下限流程性能指數(shù)：Ppk=Min(PpL,PpU)流程衡量指標(biāo) 過程能力指數(shù)有偏移情況的過程能力指數(shù) 定義分布中心 μ與公差中心 M的偏移為： 與 M的偏移度 K為：實(shí)際演練 計(jì)算 CPK值過程控制實(shí)務(wù)■首先應(yīng)通過檢查并消除變差的 特殊原因 使過程處于受統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，■那么 過程的性能 是可預(yù)測的，就可評定其滿足顧客期望有能力。 關(guān)于 Cp和 Cpk的一些考慮 Cp和 Cpk都是用長期的數(shù)據(jù)計(jì)算出來的，其前提是流程穩(wěn)定：Cp和 Cpk通常應(yīng)用于：167。Z = xm s m x1x2X1的 Z值為 2表示x1離平均值為 2個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差距離2s1sSPC的理論基礎(chǔ)167?！鰧τ谟?jì)數(shù)型數(shù)據(jù) (Attributes Data Case) 過程能力通常用不合格的平均比例或比率表示。統(tǒng)計(jì)過程控制（ SPC）■局部措施 ■通常用來消除變差的特殊原因 ■通常由與過程直接相關(guān)人的員實(shí)施 ■通?？杉m正大約 15% 的過程問題■對系統(tǒng)采取措施 ■通常用來消除變差的普通原因 ■幾乎總是要求管理措施，以便糾正 ■大約可糾正 85% 的過程問題例如：如果需要管理人員對系統(tǒng)采取措施（如選擇提供一致輸入材料的供方）時(shí)卻采取的是局部措施（如調(diào)整機(jī)器）就不對?！鲇欣麜r(shí)可識雖出來并使其成為過程恒定的一部分。%%%統(tǒng)計(jì)術(shù)語及基本理論簡介常態(tài)分布的形成：SPC運(yùn)用實(shí)例② 一張控制圖立主要包括的要素。 產(chǎn)品間的差距也許很大，也許小得無法測量，但這些差距總是存在。 6 決定誰負(fù)責(zé)收集數(shù)據(jù)。SumSR 送你一雙 “火眼金睛 ”何 謂 SPC收集數(shù)據(jù) 整理數(shù)據(jù)（制成圖表） 分析數(shù)據(jù) 利用和控制數(shù)據(jù)何 謂 SPC數(shù) 據(jù) 的 流 動 模 型數(shù)據(jù)采集點(diǎn)收集方法基礎(chǔ)數(shù)據(jù)整理方法圖表數(shù)據(jù)分析方法 規(guī)律和趨勢表述利用方法數(shù)據(jù)采集點(diǎn)持續(xù)的 PDCA循環(huán)統(tǒng)計(jì)過程控制（ SPC）167。 計(jì)算公式 平均值 u=(X1+ X2+X3+… +Xn) 247。 不能量度的 Can’t measure it 216。在外型加工工序中 , 同一臺機(jī)器生產(chǎn)的同型號的板 ,沒有任何兩塊其外型尺寸是一樣的。 采取的措施包括變化操作（例如：操作員培訓(xùn)、變換輸入材料等），或者改變過程本身更基本的因素（例如：設(shè)備需要修復(fù)、人的交流和關(guān)系如何，或整個(gè)過程的設(shè)計(jì) — 也許應(yīng)改變車間的溫度或濕度）。現(xiàn)有過程信息（別人的現(xiàn)有案例）不能代替實(shí)際工作經(jīng)驗(yàn)；5. 測量系統(tǒng)對合適的數(shù)據(jù)分析來說很重要，并且在收集過程數(shù)據(jù)之間就應(yīng)很好地了解它們，如果這樣的一個(gè)系統(tǒng)缺少統(tǒng)計(jì)控制或他們的變差占過程數(shù)據(jù)總變差中很大比例，就可能作出不適當(dāng)?shù)臎Q定。 過程數(shù)據(jù)可以從流程中收集而得到，流程是將各項(xiàng)輸入資源 (人，機(jī)，料，法，環(huán) )按一定要求組合起來，并將其轉(zhuǎn)化為輸出的活動。■ 80年代開始， IBM及 MOTOROLA提出 6σ品質(zhì)水準(zhǔn)提升運(yùn)動。 將流程變異減致最少167。 了解什么是 SPC167。 了解 SPC的運(yùn)作程序并能夠制作 SPC圖167。 給出信息何時(shí)需要對流程采取改善措施，何時(shí)不用SPC的功效SPC發(fā)展簡史■在工