【正文】 程中許多變差的原因 ,◆ 通常由與過程直接相關(guān)的人員實施 。盡管有時糾正時要求管理人員介入，解決變差的特殊原因通常要求采取局部措施。采取的措施類型如不正確將給機構(gòu)帶來大的損失，不但勞而無功，而且會延誤問題解決甚至使問題惡化。過程能力 由造成變差的普通原因來確定，通常代表過程本身的最佳性能（例如分布寬度最?。?，在處于統(tǒng)計控制狀態(tài)下的運行過程，數(shù)據(jù)收集到后就能證明過程能力，而不考慮規(guī)范相對于過程分布的位置和 /或?qū)挾鹊臓顩r如何；通常要求用對系統(tǒng)采取措施從而減少產(chǎn)生變差的變通原因的方法來改進過程的能力（以及其輸出），從而始終符合規(guī)范。64過程控制和過程能力每個過程可以根據(jù)其能力是否受控進行分類 ,過程可分類 4類 : 統(tǒng)計受控制能 力65過程控制和過程能力一個可接受的過程必須是處于受統(tǒng)計控制狀態(tài)的且其固有變差必須小于規(guī)定的公差 .1類 :是 理想情況 ,該過程受統(tǒng)計控制且有能力滿足要求 ,可接受 .2類 :是受控過程但存在因普通原因造成的過大的必須減少的變差3類 :過程符合要求 ,可接受 ,但不是受控過程 ,需識別變差的特殊原因并消除它 .4類 :過程即 不受控又不可接受 ,必須減少變差的普通原因和特殊原因 . 2）沒有一個過程可能通過一個單獨的指數(shù)完整地來描述。 注 :而后成為統(tǒng)計過程控制中重要工具 .72?確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施 更低的單件成本◆ 定義過程 。特性間的相互關(guān)系 .◆ 確定測量系統(tǒng) 。果 ??收 例 評 表面應(yīng)沒有斑點為防止剝落而敷到鏡子背面的任何材料不應(yīng)引起鏡子背襯有可見的斑點。對誰可見？在什么條件下？83(1).品質(zhì)特性分類? 計量型：用各種計量儀器測出、以數(shù)值形式表現(xiàn)的測量結(jié)果，包括用量儀和檢測裝置測的零件直徑、長度、形位誤差等，也包括在制造過程狀態(tài)監(jiān)控測得的切削力、壓力、溫度、濃度等。Chart:1. 4.中實線：中心線 CL 控制界限 =平均值 177。92何時應(yīng)該重新計算控制界限1. 控制圖是根據(jù)穩(wěn)定狀態(tài)下的條件（人員、設(shè)備、原材料、工藝方法、測量系統(tǒng)、環(huán)境）來制定的。?能測定的產(chǎn)品或過程特性 。狀態(tài)下之過程可加長其間隔 。?25組以上的樣本及 100個以上的數(shù)據(jù)以檢定過程的穩(wěn)Ri/kUCLRCLRLCLR?依各組之統(tǒng)計量大小描點于控制圖上 。?解析 R控制圖 :組內(nèi)樣本之間的變異估計值 ,決定各組及平均數(shù)之間的變異程度 ,因此 ,R控制圖的穩(wěn)定性必須先解析 .條件的改變 。明顯少于 2/3的點集中在中間的?對全距控制圖上顥示的特殊原因 ,進行過程的作業(yè)分析來發(fā)掘過程條件并防止再發(fā) .控制圖在建議問題在何時開始及持續(xù)多久 ,應(yīng)該是非常有用的指引 .?在分析問題中 ,時間性是很重要的 ,盡早對不良采取對策 ,同時以對診斷的時機有明顯的證據(jù) .107(五 ).解析過程即每組數(shù) ?過程或抽樣方法因連續(xù)的組包樣本116 補充 :有 1點子 ,出現(xiàn)在 A區(qū)域之外者 . :連續(xù) 3點之中有 2點落在 A區(qū)或 A區(qū)之外者 . :連續(xù) 5點之中有 4點落在 B區(qū)或 B區(qū)之外者 . :連續(xù) 8點落在上下兩側(cè) C區(qū)之外 . :連續(xù) 15點落在上下兩側(cè) C區(qū)內(nèi) . :連續(xù)幾點同一方向時 .連續(xù) 11點之中有 10點以上 d.連續(xù) 10點之中有 4點以上點的振幅 周期性變大變小以上現(xiàn)象 ,如果追查原因 ,一定可獲得極有效之情報 ?以 XR控制圖分析過程能力如下 。?=XCPU=(USLLSL)/2Cpk=MIN(CPU,CPL)=】p】LSL=+?)某公司為控制其產(chǎn)品的包裝重量 ,每小時自過程里隨機抽取 5個樣本來測定重時 ,共得到 25組數(shù)據(jù) ,試根據(jù)這些數(shù)據(jù)繪制 X=控制圖 :UCL(因 n≤6,故不考慮 ) 。 ,不需多取樣本 ,如液體濃度 。個別值 移動全距控制圖的制作與解析同樣類似其它計量控制圖 .1314.ni136 UCLp= +3 (1 )/ni CLp= UCLp= 3 (1 )/ni(三 ).計算控制界限137(四 ).繪制控制界限及描點?計算錯誤或描點錯誤 過程不良變小 ,?計算錯誤或描點錯誤 CLp=4發(fā)掘及矯正特殊原因?對 P控制圖上顯示的特殊原因 ,進行過程的作業(yè)分析來發(fā)掘原因 ,矯正過程條件并防止再發(fā) .控制圖在建議問題在何時開始及持續(xù)多久 ,應(yīng)該是非常有用的指引 .?在分析問題中 ,時間性是很重要的 ,盡早對不良采取對策 ,同時以對診斷的時機有明顯的證據(jù) .142(五 ).解析過程?當進行初期過程解析或重點過程能力時 ,控制界限應(yīng)該重新計算 ,以除去過程在不穩(wěn)定期間已經(jīng)發(fā)掘及矯正的特殊原因 ,對控制界限估算的影響 .再確認 P控制圖的點是否在控制狀態(tài)下 ,重復(fù)確認矯正及再計算 .?因特殊原因而除去的數(shù)據(jù) ,主要目的是希望盡量在過程只有共同原因存在時估計過程變異 .143(六 ).過程能力的研究據(jù)系統(tǒng)性地包含不同的過程不良 ?量測系統(tǒng)的改變?當樣本大小 nP?5點出現(xiàn)在 R以下的可能增加 ,因此連串的點必須以 8點以上來代表過程不良的減小 .140UCLLCLPUCLLCLP(五 ).解析過程 。連續(xù) 7點出現(xiàn)持續(xù)上升或下降?連串出現(xiàn)在上側(cè)或上升 ?量測系統(tǒng)曾經(jīng)改變139UCLLCLPUCLLCLP(五 ).解析過程2計算錯誤或描點錯誤? 25組以上的樣本數(shù)據(jù)以檢定過程的穩(wěn)定及估計過程不良率 .135(二 ).記錄數(shù)據(jù)及計算各組不良率 p和總不良率 p?將數(shù)據(jù)記錄于空白的計數(shù)值控制圖上 .?計算各組不良率 p和總不良率 p.LCLCL==R=d3LCLR==?=UCLX=R/d2pp】pCp(六 ).過程能力的研究122(六 ).過程能力的研究 :過程特性分配為常態(tài)時 ,可用下式估計????ZLSL=Cp=????單邊下限 LSL?無規(guī)格界限 無法計算b. :連續(xù) 17點之中有 14點以上a.?范圍內(nèi) (任一側(cè) ). :連續(xù) 8點的距離中心線超過 1變 ,而且可能正在改變 .?量測系統(tǒng)的改變?過程中心已經(jīng)移動 ,可能是突發(fā)的或趨勢性的改變 .?量測系統(tǒng)曾經(jīng)改變UCLLCLX(五 ).解析過程110UCLLCLXUCLLCLX(五 ).解析過程 。 控制圖中除去 ,再以現(xiàn)有的數(shù)據(jù)重新計算控制界限 .?因特殊原因而除去的數(shù)據(jù) ,主要目的是希望盡量在過程只有共同原因存在時估計過程變異 .108(五 ).解析過程改變 ?過程或抽樣方法因連續(xù)的組包即每組數(shù) 明顯超過 2/3的點集中在中間的 1/3區(qū)域中 ?量測系統(tǒng)的改變 ,可能掩飾真時的制造條件造成較小的數(shù)據(jù)變異連續(xù) 7點出現(xiàn)持續(xù)上升或下降?連串出現(xiàn)在上側(cè)或上升 在某時變大或趨勢性變大 .?實際過程變異變小?少數(shù)之點子落在控制界限附近 .?決定一格的大小及縱坐標之尺寸 .(三 ).計算控制界限100(四 ).繪制控制界限及描點=及全距 Xij﹞及 ?關(guān)鍵過程的特性 .? 每一張控制圖上的控制界限都是由該圖上的數(shù)據(jù)計算出來 。范圍內(nèi)包含了 %縱坐標：數(shù)據(jù)（品質(zhì)特性值或其統(tǒng)計量）216。Control Average點落在該區(qū)間的概率為 %Components?在彩色紋理、光澤度和缺陷數(shù)幾方面，表面應(yīng)符合標準述范 u發(fā)票上的錯誤 p圖用于監(jiān)控不合格品比率?車不漏?例 電阻（ Ω）?中線下控制限UCLLCLX75 :被研究的特性 (過程或產(chǎn)品 )的數(shù)據(jù)收集后將之轉(zhuǎn)換成可以畫到控制圖上的形式 . :利用數(shù)據(jù)計算控制限 ,將它們畫在圖上作為分析的指南 ,控制限并不是規(guī)范值或目標值 ,而是基于過程的自然變化性和抽樣計劃 .再者 ,控制圖還可作為下列用途 :73控制圖之用途◆ 作業(yè)對象造購買之產(chǎn)品允收或拒收之依據(jù) .◆ 由小批產(chǎn)品中選擇一些產(chǎn)品組成品質(zhì)均勻之大批產(chǎn)品之依據(jù) .◆ 作為判斷制品品質(zhì)是否均勻 .◆ 作為了解采購送驗的品質(zhì) .◆ 用于非生產(chǎn)性方面之問題 .741．收集建立各種不同的指數(shù)是因為過程能力是作為利用從過程中得到的統(tǒng)計數(shù)據(jù)來進行過程性能預(yù)測的基礎(chǔ)。?該過程是成熟的 ,例如 :該過程已經(jīng)過幾個循環(huán)的持續(xù)改進；簡言之，首先應(yīng)通過檢查并消除變差的特殊原因使過程處于受統(tǒng)計控制狀態(tài)，那么性能是可預(yù)測的，變可評定其滿足顧客期望的能力。一般說來，由于受統(tǒng)計控制的過程服從可預(yù)測的分布，從該分布中便可以估計出符合規(guī)范的產(chǎn)品的比例。59五 .過程控制和過程能力過程控制受控(消除了特殊原因 )不受控(存在特殊原因 )范圍時間60過程控制和過程能力過程能力規(guī)格下限 規(guī)格上限受控且有能力符合規(guī)范(普通原因造成的變差己減少)受控但沒能力符合規(guī)范(普通原因造成的變差太大 )時間范圍61過程控制和過程能力 過程控制系統(tǒng)的目標 :是對影響過程的措施作出經(jīng)濟合理決定 .也就是說 ,平衡不需控制時釆取措施 (過度控制或擅自改變 )和需要控制時未釆取措施 (控制不足 )的后果 . 過程在統(tǒng)計控制下運行指是僅存在變差的普通原因 ,這樣過程控制的一作用是當出現(xiàn)變差的特殊原因時提供統(tǒng)計信號 ,并且當不存在特殊原因時避免提供錯誤信息 ,從而對這些特殊原因釆取適當?shù)拇胧?. 簡而言之 ,首先 應(yīng)通過 檢查并消除變差特殊原因 使過程處于受 統(tǒng)計控制狀態(tài) ,那么其性能是可預(yù)測的 ,就可評定其滿足顧客期望的能力 .這是持續(xù)改進的基礎(chǔ) .62過程能力、過程性能 糾正變差的普通原因的責任在于管理層。◆ 幾乎總是要求管理措施 ,以便糾正 。 有利時可識別 出來并使其成為過程 恒定 的一部分。“受控 ”.普通原因表現(xiàn)為一個穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因 .只有變差的普通原因存在且不改變時 ,過程的輸出才是可以預(yù)測 .◆ 特殊原因 (通常也可叫 可查明原因 ):指造成 不是始終作用于過程的變差的原因 ,即它們出現(xiàn)將造成過程的分布改變 .它以不可預(yù)測的方式來影響過程的輸出 .如果系統(tǒng)內(nèi)存在變差的特殊原因 ,隨著時間的推移 ,過程的輸出將不穩(wěn)定 .這樣，測量的周期以及測量是時的條件將會影響存在的變差的總量。2σ1σ在內(nèi)之或然率 43z2/2常態(tài)分配的函數(shù)式(正 )變 因此，下面的討論的重點將放在過程信息收集和分析上，以便對過程本身采取糾正措施?！?下述逐步介紹了這些要素。然而，還是存在不能盲目使用這些法則的例外。 4. SPC代表統(tǒng)計 過程控制 ，不幸的是在北美統(tǒng)計方法常用于 零件而不是過程 。當一個沒有任何改進的技術(shù)專家是很容易的?！?降低總的品質(zhì)成本 .19SPC