電鏡的近期發(fā)展-文庫吧在線文庫
【正文】 擴大電子顯微分析的應用范圍和提高其綜合分析能力。從用 100kV、 500kV和 1000kV電鏡所觀察到的原子排列很接近理論預言的情況，也和 X射線、電子衍射分析結(jié)果相近。 對于厚樣品來說，質(zhì)厚襯度是主要的；對于薄樣品來說，位相襯度則占主導地位。具體做法是用一個環(huán)境室代替普通樣品臺。 上述三種信號可以同時分別記錄和顯示。 所以，襯度較差的樣品用掃描透射成像比較合適。更重要的是干燥終止了材料的正常反應，使反應動力學觀察不能連續(xù)進行。帶有場離子發(fā)射電子槍的環(huán)境掃描電鏡在低真空下的分辨本領已達到普通掃描電鏡高真空下操作時的水平。它的成像原理基本上與普通掃描電鏡一樣，只不過普通掃描電鏡樣品上的電子由導電層引走；而低真空掃描電鏡樣品上的電子被樣品室內(nèi)的殘余氣體離子中和，因而即使樣品不導電也不會出現(xiàn)充電現(xiàn)象。將這些樣品臺裝在電鏡中，就可以將材料表面結(jié)構(gòu)的顯微研究與在加載、變溫條件下材料的宏觀性能測試結(jié)合起來，為材料的強度與斷裂的基本理論和應用研究展現(xiàn)出令人鼓舞的前景。一般說，樣品厚度越大，透射電子的能量變化范圍越大，色差也就越大，圖像質(zhì)量下降。 (3) 可提高暗場像的質(zhì)量。現(xiàn)世界上已出現(xiàn) 3000kV的超高壓電鏡。 如圖 ，本應為T波，現(xiàn)在變成了 I波，兩者之間的位相角差一個△ φ ，但兩者的振幅應相當或近似相等，只是差一個散射波 S，它和 I波的位相差 π/2 ，在無像差的理想透鏡中， S波和 I波在像平面上，可以無像差的再迭加成像，所得結(jié)果振幅和 T一樣，我們不會看到振幅的差別，如圖 (a)。
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