jtag測(cè)試介紹ppt課件-文庫(kù)吧在線文庫(kù)
【正文】 TAP 控制器的狀態(tài)機(jī) 接下來(lái)，我們?cè)倭私庀?TAP控制器狀態(tài)機(jī)： ? 圖 4 所示 ,TAP 控制器的狀態(tài)機(jī)只有 6 個(gè)穩(wěn)定狀態(tài) :測(cè)試邏輯復(fù)位 ( testlogicreset ) 、測(cè)試 / 等待 (runtest/idle) 、數(shù)據(jù)寄存器移位 ( shiftDR) 、數(shù)據(jù)寄存器移位暫停 (pauseDR) 、指令寄存器移位 ( shiftIR) 、指令寄存器移位暫停 (pauseIR) 。 （使其進(jìn)入測(cè)試模式） ? (2) 進(jìn)入 SHIFT IR 狀態(tài) : 在連續(xù) 5 個(gè) TCK(上升沿 ) ,使 TMS = 01100 ,則 進(jìn)入 SHIFT IR 狀態(tài)。就可完成一個(gè)開(kāi)發(fā)。 ? (6) 進(jìn)入 Run Test/ Idle 狀態(tài) : 進(jìn)入 Update IR狀態(tài)后 ,再使 TMS = 0 , 則進(jìn)入 Run Test/ Idle 狀態(tài) ,此時(shí) , IC進(jìn)入 HIGHZ 狀態(tài)。 ? 對(duì)于我們需要進(jìn)行 IC 元件測(cè)試的設(shè)計(jì)人員來(lái)說(shuō) ,只要根據(jù) TAP 控制器的狀態(tài)機(jī) ,設(shè)計(jì)特定的控制邏輯 ,就可以進(jìn)行 IC 元件的邊界掃描測(cè)試或利用 J TAG接口使 IC 元件處于某個(gè)特定的功能模式。 旁通寄存器 只由一個(gè)掃描寄存器位組成 ,當(dāng)選擇了旁通寄存器 , TDI 和TDO 之間只有一位寄存器 ,實(shí)際上沒(méi)有執(zhí)行邊界掃描測(cè)試。因?yàn)橥ㄟ^(guò) TMS 也可以對(duì) TAP 進(jìn)行復(fù)位（初始化） 。 ? TDI : TDI 是數(shù)據(jù)輸入的接口。為了測(cè)試兩個(gè) J TAG 設(shè)備的連接 ,首先將 J TAG 設(shè)備 1某個(gè)輸出測(cè)試腳的 BSC 置為高或低電平 ,輸出至 NDO ,然后 ,讓 J TAG設(shè)備 2 的輸入測(cè)試腳來(lái)捕獲（ capture)從管腳輸入的 NDI 值 ,再通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)通道將捕獲到的數(shù)據(jù)輸出至 TDO ,對(duì)比測(cè)試結(jié)果 ,即可快速準(zhǔn)確的判斷這兩腳是否連接可靠 JTAG電路結(jié)構(gòu) ? JTAG控制器的電路結(jié)構(gòu)如圖 3 所示。如圖 1 所示。因?yàn)檫@些移位寄存器單元都分布在芯片的邊界上（周?chē)?，所以被稱(chēng)為邊界掃描寄存器（ BoundaryScan Register Cell）。 ? 邊界掃描寄存器提供了一個(gè)便捷的方式用以觀測(cè)和控制所需要調(diào)試的芯片。 ? 在正常工作狀態(tài) ,輸入和輸出數(shù)據(jù)可以自由通過(guò)每個(gè) BSC ,正常工作數(shù)據(jù)從 NDI 進(jìn) ,從NDO 出。 ? J TAG控制器主要由三個(gè)部分組成 : 測(cè)試端口 ( TAP ,test access port) 控制器 指令寄存器 (包括指令譯碼器 ) 數(shù)據(jù)寄存器 JTAG電路結(jié)構(gòu) (1) TAP 控制器是邊界掃描測(cè)試核心控制器。所有要輸入到特定寄存器的數(shù)據(jù)都是通過(guò)TDI 接口一位一位串行輸入的（由 TCK 驅(qū)動(dòng)）。 (2) 指令寄存器： 若執(zhí)行數(shù)據(jù)寄存器邊界掃描測(cè)試 ,則指令寄存器負(fù)責(zé)提供地址和控制信號(hào)去選擇某個(gè)特定的數(shù)據(jù)寄存器 。 旁通寄存器的作用是為了縮短掃描路徑而對(duì)不需要進(jìn)行測(cè)試的 IC 進(jìn)行旁通。 ? 假設(shè)在我們?cè)O(shè)計(jì)的一個(gè)系統(tǒng)中 ,需要利用 J TAG 控制使其進(jìn)入一種高阻模式 (HIGHZ 模式 ,這是 IEEE 1149. 1 推薦的任選模式之一 ) ,在這種模式下 ,芯片的所有輸出管腳都處于無(wú)效態(tài)即高阻態(tài)。 （以上描述可用 VHDL代碼生成） JTAG 應(yīng)用 ? Infra test: Infrastructure to check if the Boundary Scan connections are correct. ? Inter test： Interconnections inbetween BoundaryScan ponents. ? Memory cluster test： test memory. ? Cluster test： Interconnections inbetween no BoundaryScan ponents. ? Flash Prog : FLASH programmer. ? PLD Prog : IC programmer.
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