【正文】 管腳第一次寫1時(shí)，就被定義為高阻輸入。在給出地址“1”時(shí)，它能利用內(nèi)部上拉的優(yōu)勢(shì)，對(duì)外部的八位地址數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器進(jìn)行讀寫時(shí)，P2口將輸出其特殊功能寄存器的內(nèi)容。手動(dòng)按鈕復(fù)位是需要人為的在復(fù)位輸入端RST上加入高電平（）。當(dāng)單片機(jī)檢測(cè)出低電平時(shí)，說(shuō)明二極管導(dǎo)通，顯示屏將顯示出P。 電容測(cè)試原理圖在前面的介紹中我們知道：555時(shí)基芯片的輸出頻率跟所使用的電阻R和電容C的關(guān)系如式（）所示。 555芯片測(cè)試模塊設(shè)計(jì) 555測(cè)試模塊是用555時(shí)基電路構(gòu)成無(wú)穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路，單片機(jī)通過(guò)檢測(cè)其輸出電壓的高低來(lái)判斷555芯片的好壞。 555測(cè)試模塊原理圖 運(yùn)放741測(cè)試模塊設(shè)計(jì)741是通用高增益運(yùn)算放大器，應(yīng)用十分廣泛，具有雙列直插8腳或圓筒8腳封裝。若2腳反相輸入端電壓小于3腳正相輸入端電壓，則741T2口電壓還是0，單片機(jī)通過(guò)檢測(cè)輸出電壓就能判斷出741是壞的。實(shí)際的應(yīng)用程序由一個(gè)主程序和多個(gè)子程序構(gòu)成。對(duì)單片機(jī)上電之后，有一個(gè)短暫的延時(shí)以保證MCU正常工作，然后對(duì)1602液晶顯示屏初始化，一直等待741的按鍵按下，如果確定有按鍵按下則跳到此741測(cè)試程序，否則一直等待按鍵。 if ( ua741_in==1) display(ua741 can use)。則三極管是PNP型，否則是NPN型。 if ( NPN_PNP_IN==1) display(PNP )。開(kāi)始上電延時(shí)1602初始化電容鍵是否按下？啟動(dòng)555NY啟動(dòng)計(jì)數(shù)器計(jì)算電容的大小值有無(wú)中斷?YN有無(wú)中斷？停止計(jì)數(shù)顯示電容值YN電容鍵是否按下？YN 電容測(cè)試流程圖，利用555芯片和周邊電阻組合成一個(gè)無(wú)穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路，通過(guò)測(cè)量方波的頻率來(lái)計(jì)算所測(cè)量的電容的大小。 電容測(cè)試數(shù)據(jù)標(biāo)稱值(nF)系統(tǒng)測(cè)量(nF)相對(duì)誤差%10099500496100094350004716。在本課題過(guò)程中，我遇到很多問(wèn)題，如主控模塊控制芯片的選擇，測(cè)試模塊方案的對(duì)比研究。畢業(yè)設(shè)計(jì)，也是我大學(xué)生涯交上的最后一個(gè)作業(yè)了。 總之，此次論文的寫作過(guò)程，我收獲了很多。sbit key3=P1^5。sbit NPN_PNP_IN=P3^0。 /*****************************************************函數(shù)功能：延時(shí)1ms(3j+2)*i=(333+2)10=1010(微秒)，可以認(rèn)為是1毫秒***************************************************/void delay1ms(){unsigned char i,j。in。//E=1，才允許讀寫 _nop_()。//如果忙就等待RS=0。_nop_()。//當(dāng)E由高電平跳變成低電平時(shí)，液晶模塊開(kāi)始執(zhí)行命令}/*****************************************************函數(shù)功能：指定字符顯示的實(shí)際地址入口參數(shù)：x***************************************************/ void WriteAddress(unsigned char x) { WriteInstruction(x|0x80)。 _nop_()。//當(dāng)E由高電平跳變成低電平時(shí)，液晶模塊開(kāi)始執(zhí)行命令 }/*****************************************************函數(shù)功能：對(duì)LCD的顯示模式進(jìn)行初始化設(shè)置***************************************************/void LcdInitiate(void){delay(15)。//顯示模式設(shè)置：顯示開(kāi)，有光標(biāo)，光標(biāo)閃爍delay(5)。// 設(shè)置顯示位置為第一行的第5個(gè)字i = 0。delay(200)。delay(200)。 TR0=1。delay(200)。delay(200)。if (ua741_in==0){ua741_out_x=0。} delay5()。 if ( NPN_PNP_IN==1)display(PNP )。}EX1=0。 //20ms定時(shí)TL0=0xe0。 nCounter=0。str[6]=temp%10+0x30。else cap_t=0。} TR0=1。else display(555 can use)。t_cap=cap_t。} }void timer0() interrupt 1 { unsigned long t_ne555。}EX1=0。delay(200)。else display(ua741 can39。delay(200)。delay(200)。EX0=0。display( string)。delay(200)。i++。//清屏幕指令，將以前的顯示內(nèi)容清除delay(5)。delay(5)。_nop_()。E=0。_nop_()。_nop_()。//空操作四個(gè)機(jī)器周期，給硬件反應(yīng)時(shí)間 result=BF。result=0，不忙***************************************************/ unsigned char BusyTest(void) { bit result。j33。unsigned long cap_t=0。sbit ua741_out_y=P3^1。//讀寫選擇位，sbit E=P2^2。對(duì)我的畢業(yè)設(shè)計(jì)給以很大的幫助，在此向張老師表示感謝。本課題本著原理簡(jiǎn)單，成本低的特點(diǎn)將為廣大師生在平時(shí)的電子設(shè)計(jì)中帶來(lái)便利。結(jié)束語(yǔ)畢業(yè)論文是一次非常好的將理論與實(shí)際相結(jié)合的機(jī)會(huì)，通過(guò)對(duì)電子元器件測(cè)試儀的課題設(shè)計(jì)，鍛煉了我的實(shí)際動(dòng)手能力，增強(qiáng)了我解決實(shí)際工程問(wèn)題的能力，同時(shí)也提高我查閱文獻(xiàn)資料、設(shè)計(jì)規(guī)范以及電腦制圖等其他專業(yè)能力水平。 （a） （b） 三極管測(cè)仿真調(diào)試（3），（a）為芯片好的，（b）為芯片壞的。顯示555 can’t use開(kāi)始上電延時(shí)1602初始化555鍵是否按下？清零中斷、標(biāo)志位中斷初始化，清屏1602GDFlag=0NYGDFlag=1顯示555 can useIE0=1?YN結(jié)束 555芯片測(cè)試流程圖555芯片測(cè)試是利用555時(shí)基電路構(gòu)成無(wú)穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路。 delay(200)。t use)。delay(200)。 二極管測(cè)試程序設(shè)計(jì)二極管測(cè)試流程說(shuō)明。但是它由于微功耗、體積小、顯示內(nèi)容豐富、超薄輕巧，常用在袖珍式儀表和低功耗應(yīng)用系統(tǒng)中。18V。 無(wú)穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器波形圖在檢測(cè)555芯片好壞時(shí)，是將芯片引腳4接+5V。T啟動(dòng)T0停止T0555輸出的方波 簡(jiǎn)單時(shí)序圖則電容的計(jì)算公式如式（）所示。若處的電壓為5V，則VC=VB，Q1截止，所以Q1為PNP管。上電復(fù)位的工作流程是在加電時(shí)，復(fù)位電路通過(guò)電容加給RST端一個(gè)短暫的高電平信號(hào)，這個(gè)高電平信號(hào)隨著VCC對(duì)電容的充電過(guò)程而慢慢回落，由此可以得到RST端的高電平持續(xù)時(shí)間由電容的充電時(shí)間決定。作為輸入時(shí)，由于外部下拉為低電平的緣故，P3口將輸出電流（ILL）這是由于上拉導(dǎo)致的。 P2口：P2口是一個(gè)內(nèi)部上拉電阻的8位雙向I/O口，P2口緩沖器可以接收，輸出4個(gè)TTL門電流，在P2口被寫“1”時(shí)，其管腳就被內(nèi)部上拉電阻拉高，且作為輸入。RST：復(fù)位輸入端。 主控模塊設(shè)計(jì) 在本課題中，由于單片機(jī)構(gòu)成的應(yīng)用系統(tǒng)有較大的可靠性，容易構(gòu)建各種規(guī)模的應(yīng)用系統(tǒng)，且應(yīng)用系統(tǒng)具有較高的軟、硬件利用系數(shù)。 顯示模塊設(shè)計(jì)方案與論證（1）方案一：采用LED數(shù)碼管動(dòng)態(tài)掃描，LED數(shù)碼管價(jià)格適中，不要顯示比較多的數(shù)字時(shí)數(shù)碼管的使用必然會(huì)增多，連線方面會(huì)很麻煩，編程上也會(huì)相應(yīng)的復(fù)雜。這種方法中應(yīng)用了555芯片組成的單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器，在秒脈沖的作用下產(chǎn)生觸發(fā)脈沖，來(lái)控制門電路實(shí)現(xiàn)計(jì)數(shù)，從而確定脈沖時(shí)間，通過(guò)設(shè)計(jì)合理的電路參數(shù)，使計(jì)數(shù)值與被測(cè)電容相對(duì)應(yīng)。鑒于以上分析，我選擇方案二。三極管的測(cè)試則采用IC17414的施密特6非門集成電路。轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)K2用于控制555振蕩信號(hào)加至741的同相端或反相端，前者使LED2的閃光與LED1同步，后者作為反相器時(shí)，LED2與LED1交替閃爍。（3）方案三：以MSP430等新型單片機(jī)為控制核心。2 總體方案論證根據(jù)題目要求，此電子器件測(cè)試儀由下列模塊組成：主控電路模塊、按鍵選擇模塊、液晶顯示模塊、555測(cè)試模塊、運(yùn)放741測(cè)試模塊、電容測(cè)試模塊、二、三極管測(cè)試模塊，具體論證與設(shè)計(jì)方案如下。由于PROTEUS能提供實(shí)驗(yàn)室無(wú)法相比的大量的元器件庫(kù)，并且提供了修改電路設(shè)計(jì)的靈活性、提供了實(shí)驗(yàn)室在數(shù)量和質(zhì)量上難以相比的虛擬儀器、儀表，因而也為學(xué)生提供了培養(yǎng)實(shí)踐精神、創(chuàng)造精神的平臺(tái)。它是目前世界上最完整的多種型號(hào)單片機(jī)（微控制器）系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與仿真平臺(tái)。單片機(jī)接上振蕩元件（或振蕩源）、復(fù)位電路和接口電路，載入軟件后，可以構(gòu)成單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)。所以