【正文】 現(xiàn)留尾線頭現(xiàn)象 。 φ ~φ 。 機械尺寸不在規(guī)格範圍內(nèi) . 繞線 , 繞腳方向錯 。 焊錫面發(fā)黃 、 粗糙 、 氧化 、 發(fā)黑 。 一般缺點 : 線圈排列不緊密 ,不均勻 ,線交叉 。 磁芯表面凹痕 (塗裝良好 ): ψ 6或以下的超過 mm； ψ 6以上的超過 mm； (塗裝良好 )： ψ 6或以下的超過 mm； ψ 6以上的超過 ； 1個 。 標記內(nèi)容 、 顏色 、 位置不符合承認書要求； 文字與 PAD方向不一； 打帶后裝反； 點膠沒有點到位 .(沒有密封所有的孔 )； 線圈有附錫珠 . 66 品質(zhì)檢驗標準 PIN的錫位上有凡立水或黑點等 。 、 沙孔或附雜質(zhì)； 。 點膠品多膠 、 少膠或零散膠附著 ,點膠處有氣孔 。 ∮ 12mm 以上 CORE之引腳拉力 . 標記內(nèi)容 、 顏色 、 位置不符合承認書要求 .。 單表面崩口個數(shù)超過 2個 。 異物附著 . SDRH、 SDRS、 SDRT系列 嚴重缺點 : 電氣 、 物理性能不符要求 。 線圈沒有點膠固定 (SD43 SD32除外 ,線徑小於或等於 *只針對WURTH客戶的 .)。或焊錫最高處延伸至繞線區(qū) 。 產(chǎn)品引腳長度公差在 以下 ,則引腳長度差不需作管制 。 繞腳高腳 (繞腳高於基座之定位面 )、 留尾線頭 、 交叉 、 重疊 、 線鬆 ,繞腳圈數(shù)不符 : φ 2TS。 冷焊 、 漏焊 、 焊錫不足 (低於 90%上錫面積 ),焊錫錫位高於底座底部 mm。 斷線 ， 繞線 、 繞腳方向錯 、 圈數(shù)錯 。 膠帶粘貼不到位 ,合縫不整齊 ,毛邊 ,脫色 。 膠帶繞圈錯 ， 隔離膠帶層未完全將線組隔離 。 TR系列 嚴重缺點 : 電氣 、 物理性能不符要求 。 線傷尺寸超過本身線徑的一半 ,并已氧化發(fā)黑 。 套管明顯歪斜 、 偏離 、 毛邊或收縮不緊 。 產(chǎn)品引腳長度公差在 以下 ,則引腳長度差不需作管制 。 引腳錫位不符合規(guī)格要求 。 錫珠 、 錫渣附著 。 引腳歪斜 (插入冶具後產(chǎn)品定位點不能接觸對應(yīng)冶具面 )。 以上線徑的產(chǎn)品繞腳圈數(shù)少於 1TS. 繞腳方向錯或留尾線頭 。 3mm∮≦ 6mm CORE之引腳拉力 。 磁芯斷裂、裂縫 。臥式多線 并繞產(chǎn)品 ,引腳從 磁芯底面至磁芯頂部方向 2/3處內(nèi)有開裂現(xiàn)象 ,引腳端面開裂深度超過 1mm。 46 品質(zhì)檢驗標準 ~ 線徑的產(chǎn)品繞腳圈數(shù)少於 。 單層繞線產(chǎn)品外圈線交叉或重疊 。 繞腳高度超出引腳定位面 。 線傷 、 爆皮位於磁環(huán)內(nèi)圈進出引腳上或匝間碰接處 。 43 品質(zhì)檢驗標準 不良判定標準之附件二 : 半成品及成品方面 AP、 APB、 APU系列 嚴重缺點 : 電氣 、 物理性能不符要求 。 主要缺點 : 、內(nèi)容不符。 , 有字跡不清晰 ﹑ 歪斜現(xiàn)象。 (檢測依材料承認書 ). : ﹑ 斑痕等有色斑痕 。 37 品質(zhì)檢驗標準 ﹑ 髒污等外觀不良。 ； ﹑ 斑痕 ﹑ 髒污等外觀不良。 主要缺點 : 、裝配之繞結(jié)不良或附雜質(zhì)； ； mm， 或崩口個數(shù)超過 2個； mm， 或崩口個數(shù)超過 1個； 2 mm， 或單方向崩口個數(shù)超過 2個； 34 品質(zhì)檢驗標準 ； 4個； 25%之漆模。 ..． ..3 次要缺點 : .. ﹑ 小色斑等外觀不良。 (膠低於接腳處平面 ) 。 25 品質(zhì)檢驗標準 磁環(huán) ： 、物理性能不合格； ； ； 、裂縫、破損、變形、露鐵芯、涂裝翻翹等嚴重不良； 。 外觀檢驗時，在表單之外觀檢查項目欄中填寫檢驗內(nèi)容和數(shù)量． 尺寸 ﹑ 電性 ﹑ 破壞性試驗等檢測時，若無不良各任選 10pcs測試數(shù)據(jù)填寫在表單之相應(yīng)欄位中，當有不良且不良個數(shù)小于或等于 10pcs時，將不良數(shù)據(jù)全數(shù)填于表單之相應(yīng)欄位中，當不良個數(shù)大 10pcs時，則選 10pcs數(shù)值偏差較大的填于表單之相應(yīng)欄位中，并在表單之相應(yīng)項目欄中填寫不良內(nèi)容和數(shù)量． 22 品質(zhì)檢驗標準 檢驗記錄簽核 檢驗記錄在填寫完成后交上級主管簽核，在檢驗中發(fā)現(xiàn)有異常狀況 時，其簽核須參照【不合格品管制作業(yè)程序】 QPQT03執(zhí)行。 產(chǎn)品規(guī)格書 、 零組件承認書 、 SIP、 SOP。 當缺失無法用文字表達清楚時 ， 可製作界限樣本及參照執(zhí)行 。 直到採取矯正措施後 ， 才能恢復(fù)檢驗 。 (單獨批無法調(diào)整其檢驗量 )。 (3)次要缺點 (Minor defect) 實際上不影響製品的使用目的之缺點謂之次要缺點。 樣本 樣本是從檢驗批中所抽取一個以上的單位製品所組成的，樣本中的各個樣品 均須隨機且具代表性，而不考慮它的品質(zhì)好壞的情況抽出。 (判定批為合格時，樣本內(nèi)容許含有之最高不良品個數(shù)，以 AC或 C 表示之。因此，抽樣檢驗方法在今日工商業(yè)界，實成為不可缺少的工具 。 雙次抽樣形式 : 從批量 N中隨機抽取第一次樣本 n1件，其中不良品數(shù)為 d1， 則： d1≦ c1時，判斷該產(chǎn)品為合格 d1≧ r1時，判斷該產(chǎn)品為不合格（ r1表拒收判定數(shù)） c1d1r1時作第二次抽樣 第二次抽取樣本 n2件，其中不良品數(shù)為 d2， 則： d1＋ d2≦ c2時，判斷該產(chǎn)品為合格 d1＋ d2≧ c2時，判斷該產(chǎn)品為不合格 （ r1＜ c2或 r1＝ c2或是檢驗形式不同而定） 多次抽樣檢驗形式 : 11 抽樣檢驗的形式 單次、雙次、多次抽樣檢驗之優(yōu)劣點比較： 項目 單次 雙次 多次 對產(chǎn)品品質(zhì)的保證 幾乎相同 對供應(yīng)者心理上的影響 最差 中間 最好 總檢驗費用 最少 中間 最多 行政費用（含訓(xùn)練、人員、記錄及抽樣等） 最少 中間 最多 檢驗負荷的變異性 不變 變動 變動 對每批製品品質(zhì)估計之準確性 最差 中間 最好 對製程平均數(shù)估計之決策速度 最快 較慢 最慢 對檢驗人員及設(shè)備之使用率 最佳 較差 較差 12 MILSTD105E樣本代碼表 s1 s2 s3 s4 Ⅰ Ⅱ ⅢA A A A A A BA A A A A B CA A B B B C D A B B C C D EB B C C C E FB B C D D F G B C D E E G HB C D E F H JC C E F G J KC D E G H K LC D F G J L MC D F H K M ND E G J L N PD E G J M P QD E H K N Q R特殊檢驗水準 一般檢驗水準1201 to 32003201 to 1000010001 to 35000151 to 280281 to 50026 to 5051 to 9091 to 150501 to 120035001 to 150000150001 to 500000500001 and over批 量2 to 89 to 1516 to 25電 性 採 用 外 觀 採 用 從左向右 ,樣本愈來愈大 13 MILSTD105E抽樣計劃表 1 4 Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac ReA2 0 1B3 0 1C5 0 1D8 0 1 1 2E13 0 1 1 2 2 3F20 0 1 1 2 2 3 3 4G32 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6H50 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8J80 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11K125 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15L2000 11 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22M3150 11 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22N500 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22P800 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22Q1250 0 1 1 2 2 3 3 4 5