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正文內(nèi)容

信息與通信]基于arm的電阻電容電感測(cè)試儀論文(存儲(chǔ)版)

2024-12-20 18:46上一頁面

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【正文】 Lx = 1/((1/C1)+(1/C2)+(1/C3))。 CF = (int)Cx。 MSPI_Init()。 // //PINSEL0 |= (0x0226)。 for(n=0。 // 8 分頻 41 SPI_SPCR = (0 3) | //因?yàn)槭前存I 所以數(shù)據(jù)輸入要在 SSEL 無效時(shí)結(jié)束 (1 4) | (1 5) | (0 6) | (1 7)。 VICVectAddr1 = (uint32)IRQ_Timer1。 VICVectAddr = 0x00。 } /********************************************************************************************************* ** Function name: IRQ_EXIT2 ** Descriptions: EXIT2 中斷服務(wù)程序 ** input parameters: 無 ** output parameters: 無 ** Returned value: 無 *********************************************************************************************************/ void __irq IRQ_EXIT2(void) { L = 1。 C = 0。 L = 0。 N++。0X0FFFFFFF)|(0x0528)。 T1PR = 0X00。 /********************************************************************************************************* ** Function name: Timer0_Init ** Descriptions: Timer0 的初始化 ** input parameters: 無 ** output parameters: 無 ** Returned value: 無 *********************************************************************************************************/ void Timer0_Init(void) //定時(shí)器 0用作捕獲加數(shù)碼管掃描頻率發(fā)出 { T0TC = 0。 uint32 HZ=100。 uint8 L = 0。通過對(duì)相同被測(cè)參數(shù)的多次測(cè)量結(jié)果和不同被測(cè)參數(shù)的多次測(cè)量選取平均值,最后確定被測(cè)參數(shù)公式的常數(shù) K值,從而達(dá)到減小本設(shè)計(jì)系統(tǒng)誤差的目的。 ( 3) 測(cè)試儀器:示波器,萬用表,穩(wěn)壓電源,計(jì)算機(jī)。 單片機(jī)對(duì)頻率測(cè)量的原理如下圖所示。 電容 三點(diǎn)式振蕩 電路 又稱考畢茲振蕩 電路 ,三點(diǎn)式振蕩電路是指: LC 回路中與發(fā)射極相連的兩個(gè)電抗元件必須是同性質(zhì)的,另外一個(gè)電抗元件必須為異性質(zhì)的,而與發(fā)射級(jí)相連的兩個(gè)電抗元件同為電容式的三點(diǎn)式振蕩電路,也就 是 射同基反 的構(gòu)成原則 成為電容三點(diǎn)式振蕩電路。多諧振蕩器無外部信號(hào)輸入,卻能 輸出矩形波,其實(shí)質(zhì)是將直流形式的電能變?yōu)榫匦尾ㄐ问降碾娔?。?dāng) uc上升到 時(shí), A2輸出由 0 翻轉(zhuǎn)為 1,這時(shí) = =1, RS 觸發(fā)順保持狀態(tài)不變。分壓器由三個(gè) 5KΩ的等值電阻串聯(lián)而成。 2)通道選擇:本設(shè)計(jì)通過 ARM控制的定時(shí)器 1 來捕獲被測(cè)頻率的自動(dòng)選擇 。 6 第三章 系統(tǒng)的原理框圖 本設(shè)計(jì)中, 考慮到 ARM 具有物美價(jià)廉、功能強(qiáng)、使用方便靈活、可靠性高等特點(diǎn),擬采用 PLC2103 系列的 ARM 為核心 來實(shí)現(xiàn) 電阻、電容、電感測(cè)試 儀的控 制。 3)采用 CPLD 或 FPGA 實(shí)現(xiàn) 應(yīng)用目前廣泛應(yīng)用的 VHDL 硬件電路描述語言,實(shí)現(xiàn) 電阻,電容,電感測(cè)試儀 的設(shè)計(jì),利用 MAXPLUSII 集成開發(fā)環(huán)境進(jìn)行綜合、仿真,并下載到 CPLD或 FPGA 可編程邏輯器件中,完成系統(tǒng)的控制作用。 (7)用 DXP 軟件繪制電原理圖和印刷電路版圖。從中國(guó)電子信息產(chǎn)業(yè)統(tǒng)計(jì)年鑒中可以看出,中國(guó)的測(cè)試測(cè)量?jī)x器每年都以超過 30%以上的速度在快速增長(zhǎng)。 由于歷史的原因,中國(guó)儀器配套行業(yè)的企業(yè)多為良莠不齊的小型企業(yè),標(biāo)準(zhǔn)化的研究也沒有跟上需求的快速發(fā)展,從而導(dǎo)致儀器的材料配套行業(yè)的技術(shù)水平較低。這種錯(cuò)誤觀念上的原因,造成整個(gè)社會(huì)對(duì)測(cè)試的重視度不夠,從而造成測(cè)試儀器方面人才的嚴(yán)重匱乏,造成相關(guān)的基礎(chǔ)科學(xué)研究比較薄弱,這是中國(guó)測(cè)量?jī)x器發(fā)展的一個(gè)主要瓶頸。電感測(cè)量可依據(jù)交流電橋法,這種測(cè)量方法雖然能較準(zhǔn)確的測(cè)量電感但交流電橋的平衡過程復(fù)雜,而且通過測(cè)量 Q 值確定電感的方法誤差較大,所以電感的數(shù)字化測(cè)量常采用時(shí)間常數(shù)發(fā)和同步分離法。是 嘗試用 555 振蕩器將被測(cè)參數(shù)轉(zhuǎn)化為頻率, 這里我們將 RLC 的測(cè)量電路產(chǎn)生的頻率 通過 ARM 捕獲其頻率 ,通過定時(shí)并且計(jì)數(shù)可以計(jì)算出被測(cè)頻率再通過該頻率計(jì)算出各個(gè)參數(shù)。 通常 情況下,電路參數(shù)的數(shù)字化測(cè)量是把被測(cè)參數(shù)傳換成直流電壓或頻率后進(jìn)行測(cè)量。 題目 基于 ARM 的電阻、電容、電感測(cè)試儀 系別 機(jī)電工程學(xué)院 專業(yè) 自動(dòng)化 09自動(dòng)化 092 學(xué)生姓名 指導(dǎo)老師 提交時(shí)間 2020 年 1 月 嵌入式系統(tǒng)技術(shù)實(shí)踐 項(xiàng)目驅(qū)動(dòng) 摘 要 隨著電子工業(yè)的發(fā)展,電子元器件急劇增加,電子元器件的適用范圍也逐漸廣泛起來,在應(yīng)用中我們常常要測(cè)定電阻,電容,電感的大小。因此,設(shè)計(jì)可靠,安全,便捷的電阻,電容,電感測(cè)試儀具有極大的現(xiàn)實(shí)必要性。 由于測(cè)量電阻,電容,電感方法多并具有一定的復(fù)雜 性,所以本次設(shè)計(jì)是在參考 555 振 蕩器基礎(chǔ)上擬定的一套自己的設(shè)計(jì)方案。隨著數(shù)字化測(cè)量技術(shù)的發(fā)展,在測(cè)量速度和精度上有很大的改善,電容的數(shù)字化測(cè)量常采用恒流法和比較法。關(guān)于這一點(diǎn),在幾乎所有的研究機(jī)構(gòu)部門配置上即可窺其一斑。 。隨著模塊化和虛擬技 術(shù)的發(fā)展,為中國(guó)的測(cè)試測(cè)量?jī)x器行業(yè)帶來了新的契機(jī),加上各級(jí)政府日益重視,以及中國(guó)自主應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)研究的快速進(jìn)展,都在為該產(chǎn)業(yè)提供前所未有的動(dòng)力和機(jī)遇。 (6)用 Multisim 軟件仿真電路。其速度快,體積小,可靠性和精度都較好,在設(shè)計(jì)中可采用 PLC 對(duì)硬件進(jìn)行控制,但是用 PLC 實(shí)現(xiàn)價(jià)格相對(duì)昂貴,因而成本過高。所以,本次設(shè)計(jì)選定以 ARM 為核心來進(jìn)行。鍵盤:本設(shè)計(jì)中 有 KEY1, KEY2, KEY3 三個(gè)按鍵,可靈活控制 不同測(cè)量參數(shù)的切換,實(shí)現(xiàn)一鍵測(cè)量 。 圖 三 2 555 定時(shí)器內(nèi)部結(jié)構(gòu) 它由分壓器、比較器、基本 RS 觸發(fā)器和放電三極管等部分組成。 8 圖 三 3 振蕩器工作原理 設(shè)電容的初始電壓 Uc= 0, t= 0 時(shí)接通電源,由于電容電壓不能突變,所以高、低觸發(fā)端 VTH= VTL= 0 ,比較器 A1輸出為高電平, A2輸出為低電平,即 =1, =0(1 表示高電位, 0 表示低電位 ), RS 觸發(fā)器置 1,定時(shí)器輸出 u0=1此時(shí) ,定時(shí)器內(nèi)部放電三極管截止,電源 Vcc經(jīng) R1, R2向電容 C 充電, uc逐漸升高。 通過上述分析可知,電容充電時(shí),定時(shí)器輸出 u0=1,電容放電時(shí), u0=0,電容不斷地進(jìn)行充、放電,輸出端便獲得矩形波。 圖 三 5 電容測(cè)試電路 555 接成多諧振蕩器的形式,其振蕩周期為: 11 (311) 我們?cè)O(shè)置 R1=R2, 得出: (312) 即: (313) 測(cè)量電感的電路設(shè)計(jì) 電感 的測(cè)量是采用電容三點(diǎn)式振蕩電路來實(shí)現(xiàn)的。 按鍵選擇模塊:當(dāng)按下 KEY1 時(shí), LED1 亮,測(cè)試被測(cè)電容的值; 當(dāng)按下 KEY2 時(shí), LED2 亮,測(cè)試被測(cè)電阻的值; 當(dāng)按下 KEY3 時(shí), LED3 亮,測(cè)試被測(cè)電感的值; 15 RLC 測(cè)試儀的軟件流程圖 開始 初始化 鍵掃描 健分析,置狀態(tài) R測(cè)試狀態(tài) C測(cè)試狀態(tài) L測(cè)試狀態(tài) 開中斷 定時(shí)器設(shè)置 捕獲 采值并計(jì)算 顯示 結(jié)束 Yes 16 .頻率參數(shù)計(jì)算的原理 本設(shè)計(jì)頻率的計(jì)算采用定時(shí)器 1 的捕獲中斷,對(duì)外觸發(fā)電路產(chǎn)生的脈沖頻率的測(cè)量,再通過對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的校正來完成。 ( 2) 測(cè)試 方法 :在測(cè)試時(shí)將被測(cè)參數(shù)通過本系統(tǒng)測(cè)量出來的示值與參數(shù)的標(biāo)稱值進(jìn)行對(duì)比,進(jìn)而可以知道本系統(tǒng)的測(cè)試精度。 本測(cè)試修正值選取主要通過實(shí)驗(yàn)求取,對(duì)影響測(cè)量讀數(shù)的各種影響因素,如溫度、濕度、電源電壓等變化引起的系統(tǒng)誤差。 uint8 R = 0。 double WC = 0。 //將DATA【】值賦給 x uint32 CF = 0。 //定時(shí)器 1 復(fù)位 31 T1TC = 0X00。 } /********************************************************************************************************* ** Function name: EXIT_Init ** Descriptions: 外部中斷的初始化 ** input parameters: 無 ** output parameters: 無 ** Returned value: 無 ******************************************************* 32 **************************************************/ void EXIT_Init(void) {
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