kvyaaa地質(zhì)羅盤使用方法(存儲版)
【正文】 度角的值。 γ=360176。δ。則A=110176。 測量時將羅盤北端指向巖層向下傾斜的方向，以南端短棱靠著巖層層面，當(dāng)圓形水準(zhǔn)器氣泡居中時，讀指北針?biāo)付葦?shù)即所求。記做330176。=30176。首先找出實測點在圖上的位置，在該點按所測巖層走向的方位畫一小段直線（4mm）表示走向，再按巖層傾向方位，在該線段中點作短垂線（2mm）表 示傾向，然后，將傾角數(shù)值標(biāo)注在該符號的右下方。這是地質(zhì)工作者必須掌握的工具。一般都由磁針、磁針制動器、刻度盤、測斜器、水準(zhǔn)器和瞄準(zhǔn)器等幾部分組成，并安裝在一非磁性物質(zhì)的底盤上（如圖51）。外圈為水平刻度盤， 其刻度方式有兩種，即方位角和象限角，隨不同羅盤而異，方位角刻度盤是從0176。象限角刻度盤與它不同之處是S、N兩端均記作0176。在具體工作中，為區(qū)別所讀數(shù)值是方位角或象限角，可按下述方法區(qū)分：如圖A與B的測線位置相同，在方位角刻度盤上讀作285176。E以示區(qū)別 （圖52 A、B，表5－1）。γ=A－180176。 如果某點磁偏角 （δ）為已知，則一測線的磁方位角（A磁）和正北方位角（A）的關(guān)系為A=A磁177。測線所測角為SE110176。圖53A 磁偏角東偏示意圖 圖53B 磁偏角西偏示意圖 圖53C羅盤儀測量目的物的方位⑵ 巖層產(chǎn)狀要素的測定 巖層傾向的測量 巖層傾向是指巖層向下最大傾斜方向線（真傾向線）在水平面上投影的方位。、傾角為50176。－330176。在地質(zhì)圖或平面圖上標(biāo)注產(chǎn)狀要素時，需用符號和傾 角表示。W/SW∠50176。如果用方位角羅盤測量但要用象限角記錄時，則需把方位角換算成象限角，再作記錄。 巖層產(chǎn)狀的記錄方法 如用方位角羅盤測量，測得某地層走向是330176。巖層的空間位置決定于其產(chǎn)狀要素，巖層產(chǎn)狀要素包括巖層的走向、傾向和傾角（見圖54）。首先放松磁針制動小螺紐，打開對物覘板并指向所測目標(biāo)，即用羅盤的北（N）端對著目的物，南（S）端靠近自己進(jìn)行瞄準(zhǔn)。=NE60176。地球上各 點的磁偏角均定期計算，并公布以備查用。瞄準(zhǔn)器 包括接目和接物覘板、反光鏡中的細(xì)絲及其下方的透明小孔，是用來瞄準(zhǔn)測量目的物（地形和地物）的。－A SE象限Ⅲ180176。如果兩者均在第一象限內(nèi)，例如50176。兩種刻度盤所標(biāo)注的東、西方向與實地相反，其目的是為了測量時能直接讀出磁 方位角和磁象限角，因測量時磁針相對不動，移動的卻是羅盤底盤。和270176。分別向兩側(cè)每隔10176?；蛑苯佑涀鱏60W∠50則可。如上述地層產(chǎn)狀其走向應(yīng)為γ=360176。、傾向為240176。圖54 巖層產(chǎn)狀要素極其測量方法巖層走向的測量 巖層走向是巖層層面與水平面相交線的方位，測量時將羅盤長邊的底棱緊靠巖層層面，當(dāng)圓形水準(zhǔn)器氣泡居中時讀指北或指南針?biāo)付葦?shù)即所求（因走向線是一直線，其方向可兩邊延伸，故讀南、北針均可）。使目的物、
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