rcl測量儀報告焦凱(存儲版)
【正文】 PCB圖。但存在的很多不足是RCL測量量程有限，這也是以后可以深入設(shè)計的方向。Reinhard Wolfinger . NET PROFILING .Write Profilers With Ease Using HighLevel Wrapper Classes.15.hlich實驗 何立民. 單片機高級教程—應(yīng)用與設(shè)計. 北京航空航天大學(xué)出版社. 1999年12月6. 高等教育出版社. 1999年6月3. 康華光,（. 2000年6月 .2.本次設(shè)計是用振蕩電路把RLC的參數(shù)轉(zhuǎn)換成頻率，再用單片機計算頻率，然后對其值進行出來后再顯示RLC的值，報告中主要講述了測量頻率從而實現(xiàn)電阻、電容和電感測量的方法，和具體硬件電路的搭建以及程序代碼的編寫。選擇DesignOptions菜單，打開Document Options對話框。圖14 主程序流程圖 通過用Protues對設(shè)計的程序進行調(diào)試，雖然測量結(jié)果存在一點誤差，但基本實現(xiàn)了對電阻，電容，電感參數(shù)的測量。采用定數(shù)計時法時，計數(shù)誤差dn=0,最大計時誤差為一個機器周期，本系統(tǒng)采用了12M晶振，機器周期為1us，故 us，代入式(8)得， (12)%，即，則有 或us=1ms (13)由式(6)得 (ms)或(KHz) (14)上式表明，定數(shù)計時法宜用在被測頻率較低的場合。d. 在T0的中斷服務(wù)子程序中讀出T1的計數(shù)值n。此數(shù)碼管為共陽極類型，這是我們在編程必須要考慮到的。圖10 穩(wěn)定讀數(shù)子程序流程圖在本儀表中，若采用式(15)進行穩(wěn)定讀數(shù)，仍會存在一些問題。通過選用高精度的基準電阻和增加基準點的個數(shù)，便可使測量結(jié)果的誤差在允許的范圍內(nèi)。2 系統(tǒng)硬件電路設(shè)計系統(tǒng)原理框圖如圖5所示，測量電阻和電容的原理采用RC振蕩將測量參數(shù)R、C轉(zhuǎn)換成頻率信號f，進而將測量模擬量轉(zhuǎn)換成數(shù)字量；采用類似的方法，測量電感的原理采用電容三點式振蕩來實現(xiàn)對電感的測量。分別用電流表和電壓表測出通過電阻的電流和電壓，根據(jù)公式R=U/I求得電阻。根據(jù)平衡條件及一些已知的電路參數(shù)就可以求出被測參數(shù)。 本次設(shè)計是通過STC89C52單片機測量出電阻，電容，電感值的電路。 測量以AT89C51單片機為核心，利用555定時器及三點振蕩電路產(chǎn)生測量電阻，電容和電感的振蕩信號，利用單片機卓越的記數(shù)功能測量所產(chǎn)生的頻率量，再利用編程設(shè)計將其轉(zhuǎn)換為要測量的物理量，從而得到三種元件的實際值大小，最后通過鍵盤和LED實現(xiàn)數(shù)字顯示。 目錄引言 21方案的比較和選擇 3 3 3 42 系統(tǒng)硬件電路設(shè)計 5 5 5 5 7 7 8 104 系統(tǒng)軟件設(shè)計 11 11 13 14 PCB設(shè)計 165總結(jié) 176參考文獻引言隨著電子技術(shù)的發(fā)展，數(shù)字電路應(yīng)用領(lǐng)域的擴展，軟件技術(shù)的高度發(fā)展及其在電子測量技術(shù)與儀器上的應(yīng)用，新的測試理論、新的測試方法、新的測試領(lǐng)域以及新的儀器結(jié)構(gòu)不斷出現(xiàn)，產(chǎn)品智能化、數(shù)字化已成為人們追求的一種趨勢，設(shè)備的性能，價格，發(fā)展空間等備受人們的關(guān)注，尤其對電子設(shè)備的精密度和穩(wěn)定度最為關(guān)注。1方案的比較和選擇RLC參數(shù)
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