光纖鏈路測試方案(存儲版)
【正文】 光纜的長度范圍時(shí)， 可以選用智能測試方式，不需要設(shè)置測試參數(shù)， OTDR 會會自動檢測光纜大致長度，并給出合適的參數(shù)進(jìn)行測試。默認(rèn)情況下，終點(diǎn)位于已測光纜的最后一個(gè)事件上，該事件稱為光纜末端事件。默認(rèn)情況下，光纜始端位于已測光纜的第一個(gè)事件上（通常為 OTDR 自身的第一個(gè)連接器）。 光纖鏈路衰減 = 光纖衰減 ＋ 連接器衰減 ＋ 熔接點(diǎn)衰減 光纖衰減 =光纖衰減系數(shù)（ dB/km） 光纖長度 (km) 連接器衰減 =連接器衰減 /個(gè) 連接器個(gè)數(shù) 熔接點(diǎn)衰減 =熔接點(diǎn)衰減 /個(gè) 熔接點(diǎn)個(gè)數(shù) 圖 7 光纜損耗示意圖 光纜施工完成后，如果實(shí)際測量的損耗值大于預(yù)估值時(shí)，就需要 OTDR 來進(jìn)行更深入的故障定位，檢查出光纖鏈路損耗超過預(yù)算值的原因；如在前方 1000米處有個(gè)熔接點(diǎn)，該接點(diǎn)熔接質(zhì)量很差，超過了 過 OTDR 可詳細(xì)地定位到全部連接不好的適配器、熔接點(diǎn)等，以及光纖的斷點(diǎn)和末端等。 光回?fù)p測試（ ORL） 當(dāng)光脈沖在光纖內(nèi)傳輸時(shí)，會由于光纖本身的性質(zhì)、連接器、接合點(diǎn)、彎曲或其它類似的事件而產(chǎn)生散射、反射 ，其中一部分的散射和反射就會返回到光纖內(nèi)，這部分逆向光會對正向傳輸?shù)墓庑盘栐斐筛蓴_；尤其當(dāng)光纖連接頭的清潔度不夠，宏彎，光纖的連通性差，近連接頭處斷裂時(shí)，這種光回?fù)p的損害很大。 光功 率損失測試 (In
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