【正文】 A 試塊尺寸 mm CSKⅣ 被檢工件厚度 對(duì)比試塊厚度 T 標(biāo)準(zhǔn)孔位置 b 標(biāo)準(zhǔn)孔直徑 d ＞ 120～ 150 135 T/ T/2 (1/4 in) ＞ 150～ 200 175 T/ T/2 (5/16 in) ＞ 200～ 250 225 T/ T/2 (3/8 in) ＞ 250～ 300 275 T/ T/2 (7/16 in) ＞ 300～ 350 325 T/ T/2 (1/2 in) ＞ 350～ 400 375 T/ T/2 (9/16 in) CSKⅠ A、 CSKⅡ A 和 CSKⅢ A 試塊適用壁厚范圍為 6mm～ 120mm的焊接接頭， CSKⅠ A 和 CSKⅣ A 系列試塊適用壁厚范圍大于 120mm 至400mm 的焊接接頭。）。） 25～ 46 ～ （ 68176。該項(xiàng)檢測僅作記錄，不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測。 表 19 距離 波幅曲線的靈敏度 試塊型式 板厚， mm 評(píng)定線 定量線 判廢線 CSKⅡ A 6～ 46 φ 24018dB φ 24012dB φ 2404dB ＞ 46～ 120 φ 24014dB φ 2408dB φ 240+2dB CSKⅢ A 8～ 15 φ 1612dB φ 166dB φ 16+2dB ＞ 15～ 46 φ 169dB φ 163dB φ 16+5dB ＞ 46～ 120 φ 166dB φ 1 6 φ 6+10dB b） 壁厚大于 120mm 至 400mm 的焊接接頭，其距離－波幅曲線靈敏度按表 20的規(guī)定。探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊接接頭截面，在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作 10176。 圖 21 四種基本掃查方法 曲面工件（直徑小于或等于 500mm）對(duì)接焊接接頭的超聲檢測 a） 檢測面為曲面時(shí)，可盡量按平板對(duì)接焊接接頭的檢測方法進(jìn)行檢測。 2 對(duì)所有反射波幅達(dá)到或超過定量線的缺陷，均應(yīng)確定其位置、最大反射波幅和缺陷當(dāng)量。 八 缺陷評(píng)定 1 超過評(píng)定線的信號(hào)應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷特征，如有懷疑時(shí)，應(yīng)采取改變探頭 K 值、增加檢測面、觀察動(dòng)態(tài)波型并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作判定，如對(duì)波型不能判斷時(shí)，應(yīng)輔以其他檢測方法作綜合判定。當(dāng)折算后的缺陷累計(jì)長度小于單個(gè)缺陷指示長度時(shí)，以單個(gè)缺陷指示長度為準(zhǔn)。 2) 當(dāng)缺陷反射波峰值起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)，且位于Ⅱ區(qū)或Ⅱ區(qū)以上時(shí)，使波幅降到熒光屏滿刻度的 80%后，應(yīng)以端點(diǎn) 6dB法測其指示長度。 c） 環(huán)縫檢測時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)為檢測面曲率半徑的 倍 ～ 。的斜向掃查。 f） 掃查靈敏度不低于最大聲程處的評(píng)定線靈敏度。如果距離－波幅曲線繪制在熒光屏上，則在檢測范圍內(nèi)不低于熒光屏滿刻度的 20%。） K 值選擇 1）、使聲束能掃查到整個(gè)焊縫截面 2）、使聲束中心線盡量與主要危險(xiǎn)性缺陷垂直 3）、保證有足夠的檢測靈敏度 K≥T lba o?? a T b 檢測頻率 檢測頻率一般為 2MHz～ 5MHz。 推薦采用的斜探頭 K 值 板厚 T， mm K 值 6～ 25 ～ （ 72176。檢測表面應(yīng)平整，便于探頭的掃查，其表面粗糙度 Ra 值應(yīng)小于或等于 m，一般應(yīng)進(jìn)行打磨。的窄間隙焊縫，如有可能應(yīng)增加對(duì)檢測與坡口表面平行缺陷有效的檢測方法。如焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查，見圖 34。 B 級(jí)檢測： a) 母材厚度為 8mm～ 46mm 時(shí)，一般用一種 K值探頭采用直射波法和一次反射波法在對(duì)接焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測。 N= mmD 204 22 ???? 3N=3 =250mm Δ =20lg1221 lg40 xxPPff ? +2α (X2X1) =40lg250400+2 (400250) = φ 4+=φ 4+ 該鍛件評(píng)為Ⅲ級(jí)。 六 缺陷 回 波的判定 1 當(dāng)量直徑超過φ 4mm的單個(gè)缺陷（其缺陷間距大于 50mm） ，要測定波幅，缺陷大小和位置（缺陷較小時(shí)，用當(dāng)量法當(dāng)量，當(dāng)缺陷較大時(shí)，用 6dB 法測定其邊界和面積范圍。 掃查靈敏度一般不得低于最大檢測距離處的 φ 2mm平底孔當(dāng)量直徑。 3）、 工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。 圖 32 CS Ⅲ標(biāo)準(zhǔn)試塊 耦合劑選擇 應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測表面的耦合劑，如機(jī)油、漿糊、甘油和水等 。 一般原則 鍛件應(yīng)進(jìn)行縱波檢測，對(duì)筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)增加橫波檢測。 檢查方法： 直探頭徑向和軸向檢測 、斜探頭周向及軸向檢測。 鋼板橫波檢測 見 JB/ B（規(guī)范性附錄）進(jìn)行。 b) 多個(gè)缺陷其相鄰間距小于 100mm 或間距小于相鄰較小缺陷的指示長度（取其較大值）時(shí)，以各缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長度，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)。 ） 圖 28 探頭掃查示意圖 七、 缺陷的測定與記錄 在檢測過程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷： a) 缺陷第一次反射波（ F1）波高大于或等于滿刻度的 50%，即F1≥ 50%。 板厚大于 20mm 時(shí)，應(yīng)將 CBⅡ試塊 φ 5 平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的 50%作為基準(zhǔn)靈敏度。在圖 19 中，反射體的反射特征為波形Ⅲ a，而在平表面上則為波形Ⅲb。 圖 16 傾斜入射時(shí)不規(guī)則大反射體的回波動(dòng)態(tài)波形 波形模式Ⅳ 探頭在各個(gè)不同的位置檢 測缺陷時(shí)，熒光屏上顯示一群密集信號(hào)（在熒光屏?xí)r基線上有時(shí)可分辨，有時(shí)無法分辨），探頭移動(dòng)時(shí)，信號(hào)時(shí)起時(shí)伏。 圖 14 接近垂直入射時(shí)光滑大平面反射體的回波動(dòng)態(tài)波形 波型模式Ⅲ 波形模式Ⅲ a 探頭在各個(gè)不同的位置檢測缺陷時(shí)，熒光屏上均呈一個(gè)參差不齊的回波。 缺陷的影響 1）、缺陷形狀的影響 平面形缺陷 Pf=220 XFFP fs? (平底孔 ) 球形缺陷 Pf=204 XDFP fs? (球孔 ) 長圓柱缺陷 Pf=232122 XDFP fso? (長橫孔 ) 2）、缺陷方位的影響 3）、缺陷波的指向性 垂直射入圓平面形缺陷時(shí)，當(dāng)缺陷直徑為波長的 23 倍以上時(shí)，具有較好的指向性，缺陷回波較高；反之較低 ；當(dāng)缺陷直徑大于波長的 3 倍時(shí)，不論是垂直入射還是傾斜入射，都可把缺陷對(duì)聲波的反射看成鏡面反射。 相對(duì)靈敏度測長法 6dB 法、端點(diǎn) 6dB 絕對(duì)靈敏度測長法 三、底波高度法 F/BF法、 F/BG法、 BG/BF法 底波高度法可用于測定缺陷的相對(duì)大小，密度程度、材質(zhì)晶粒和石墨程度等。 當(dāng)量計(jì)算法對(duì)缺陷定量不需要任何試塊。 一、當(dāng)量法 當(dāng)量試塊比較法、當(dāng)量計(jì)算法 和 當(dāng)量 AVG 曲線法 。 Lf=40mm ， df= mmKl f 20240 ?? 3）、按深度調(diào)節(jié)掃查速度 采用水平距離進(jìn)行調(diào)節(jié)，即示波器的水平刻度為探頭到缺陷的深度距離。 三、 表面耦合損耗測定與補(bǔ)償 耦合損耗測定 表面狀況不同 對(duì)比試塊 待測試塊 （材料相同和工件形狀相同） 一次波檢測又稱直接反射法 1S 1S T R1 R2 工件 R T 試塊 R1 R △ dB R2 試塊 工件 △ dB 圖 2 第四節(jié) 探傷儀調(diào)整 一、掃描線比例調(diào)整 縱波：一般將工件二次底波調(diào)節(jié) 10 格 （直探頭）一般將工件一次底波調(diào)節(jié) 5 格 多次反射： 例如： t=50mm T B1 B2 50mm 50 100mm t=20mm CSKIA 20mm 0 20 40 60 80 100mm T B1 100mm 400 1:4 橫波 1）、聲程調(diào)節(jié)法 IIW IIW2 IIW2 R25 R50 0 25 100mm 50 100mm 圖 3 2）、水平調(diào)節(jié)法 CSKIA R50 R100 L1=2501 KKR? L2=21001 kKR? =2L1 K:為斜探頭的 K 值 K=2 L1=44 L2=88 K=1 L1=35 L2=70 例如： 9K2 前沿距離 15 CSKIIIA 45mm 40 10mm 20mm 65mm 0 20 40mm 圖 4 3）、深度調(diào)節(jié)法 CSKIA CSKIIIA CSKIIA d1=2501 KR? d2=21001 kR? =2d1 K=2 d1=22 d2=44 0 22 44 45mm 40 10mm 20mm 65mm 0 1 0 2